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不同功放参数对比测试条件设定的疑问

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发表于 2013-7-10 18:19 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
在固定的电源供电电压和负载下,根据Vout=Vin * Av,当在不同的Av下得到相同的Vout,测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。
1 z& y  V6 ]; l% b在对比测试两个不同的功放,为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢?
8 N. l3 y* {& t; z# \  a( }( c6 E+ V. L希望大家给点建议,谢谢!
: B# }6 `" D. p# m& A" h7 |. {0 {
" s9 x9 Q+ c$ ^( {- J, ?2 X- ^此外,从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。  p$ `: G1 ?/ I  p8 t
这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢,数据手册中没看到对应的说明。

QQ截图20130710181857.png (31.52 KB, 下载次数: 2)

QQ截图20130710181857.png

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2#
发表于 2013-7-10 23:20 | 只看该作者
先解決第二個問題!
" S2 S8 @8 `( f/ q4 w
. V6 p) u& O. v1 z# K3 nOperatinal Amplifier Noise Density Test Circuit) k8 u2 C( q& b! ]9 F6 b7 j$ S
3 P* W5 N1 i! h! c$ x/ c# o+ I
也是踢哀(TI)的技術文件講的!; H4 n+ q: v6 j
1 s2 S! }7 L* r$ n& ~0 p* f
$ H, `% Y6 B8 p8 z) n" Y
3 b& K( k$ [5 e3 D" \4 q! c

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg (91.34 KB, 下载次数: 11)

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg

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3#
 楼主| 发表于 2013-7-11 09:00 | 只看该作者
超級狗 发表于 2013-7-10 23:20 * d5 k" z% O+ J$ C0 {
先解決第二個問題!
; e* }4 k. t0 k$ _; L
* D/ D6 R/ O) J7 v8 ^Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit

* m+ w6 q$ \4 k$ [4 O, Q你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说{:soso_e113:}

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4#
发表于 2013-7-11 17:12 | 只看该作者
OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00
; d/ F' N' V9 ^你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说
0 O( ]! |# F" l8 B6 X
您只是愚鈍,小弟是愚蠢!6 b& x9 o2 B3 n( f. N  o

( s& p' B7 I/ O, d0 B7 @{:soso_e127:}
* ^" b& ^( a6 N0 k0 V% b- r4 `' N
運放的雜訊會隨增益(Gain)一起被放大,很多運放的特性都是設定在 Av = 1(Unity Gain)下的表現。
; ^( \$ E7 Y1 A: Q
% c2 x9 e! U0 N6 r9 C4 [如果兩個放大器要做比較,觀念上來說應該先固定增益,然後改變輸入大小來觀察輸出差異。
0 ~3 X% i* E+ }5 A
5 a4 S* u: _. ]% `{:soso_e172:}

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5#
 楼主| 发表于 2013-7-11 18:47 | 只看该作者
多谢大神指教

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6#
发表于 2013-7-17 15:48 | 只看该作者
有学习了一招
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