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不同功放参数对比测试条件设定的疑问

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1#
发表于 2013-7-10 18:19 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
在固定的电源供电电压和负载下,根据Vout=Vin * Av,当在不同的Av下得到相同的Vout,测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。. ^$ \# c/ U7 R$ i+ F; W
在对比测试两个不同的功放,为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢?- f8 |9 e+ I& ^2 [" t( f+ ^* Z2 C
希望大家给点建议,谢谢!
2 ^9 R, b) q5 w- {+ m! w1 W' \* F4 Z1 B) P' J
此外,从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。
9 R' d9 f- z/ U  |: ?4 K8 M' ~这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢,数据手册中没看到对应的说明。

QQ截图20130710181857.png (31.52 KB, 下载次数: 6)

QQ截图20130710181857.png

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2#
发表于 2013-7-10 23:20 | 只看该作者
先解決第二個問題!
5 M, R! t8 G. k3 [; W% ?# h# O* [# u- A/ }# Y+ K  s  p
Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit' k0 h( X! ?( n

( G' s7 }2 l5 m( ]+ I, ?! R, J/ U也是踢哀(TI)的技術文件講的!$ E* q( p3 M6 T$ J5 E6 ~

: q9 j, O, }5 x  R& r& R
4 h$ f$ U8 L0 E  N0 w5 {
, x9 P4 _, x2 ^  P, L

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg (91.34 KB, 下载次数: 15)

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg

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3#
 楼主| 发表于 2013-7-11 09:00 | 只看该作者
超級狗 发表于 2013-7-10 23:20
1 J. I, ?% v2 ]( r先解決第二個問題!
5 ]& C! u6 s+ S- m  D6 k8 S' E0 }9 t; g0 D% O, f
Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit
* ^. ]' g" x  y4 n# a  v
你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说{:soso_e113:}

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4#
发表于 2013-7-11 17:12 | 只看该作者
OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00
3 Z: u$ b- a; T$ Y5 h+ O你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说

$ P. E8 W/ t1 s6 |! C8 t您只是愚鈍,小弟是愚蠢!# B7 a5 I6 L% Y# q; i( G
% N7 k2 s( {) ]8 B  D
{:soso_e127:}
4 P0 j$ I6 b& Y8 T" o$ d
' L/ q/ g" Z1 D( f6 x+ U0 W3 C運放的雜訊會隨增益(Gain)一起被放大,很多運放的特性都是設定在 Av = 1(Unity Gain)下的表現。* t; B: u& |! `

7 t1 q. L. _: p1 u( L3 U如果兩個放大器要做比較,觀念上來說應該先固定增益,然後改變輸入大小來觀察輸出差異。
6 U- ?3 ~- y) ?1 _7 |( g6 n& k! r8 W9 D) R. j
{:soso_e172:}

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5#
 楼主| 发表于 2013-7-11 18:47 | 只看该作者
多谢大神指教

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6#
发表于 2013-7-17 15:48 | 只看该作者
有学习了一招
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