不同功放参数对比测试条件设定的疑问

OrangeJD

在固定的电源供电电压和负载下，根据Vout=Vin * Av，当在不同的Av下得到相同的Vout，测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。
1 z& y  V6 ]; l% b在对比测试两个不同的功放，为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢？
8 N. l3 y* {& t; z# \  a( }( c6 E+ V. L希望大家给点建议，谢谢！
: B# }6 `" D. p# m& A" h7 |. {0 {
" s9 x9 Q+ c$ ^( {- J, ?2 X- ^此外，从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。
这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢，数据手册中没看到对应的说明。

超級狗

先解決第二個問題！
" S2 S8 @8 `( f/ q4 w
. V6 p) u& O. v1 z# K3 nOperatinal Amplifier Noise Density Test Circuit

也是踢哀（TI）的技術文件講的！

OrangeJD

超級狗 发表于 2013-7-10 23:20
先解決第二個問題！
; e* }4 k. t0 k$ _; L
* D/ D6 R/ O) J7 v8 ^Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit

* m+ w6 q$ \4 k$ [4 O, Q你说的是Av=1的意思么？愚钝，望明说{:soso_e113:}

超級狗

OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00
; d/ F' N' V9 ^你说的是Av=1的意思么？愚钝，望明说

您只是愚鈍，小弟是愚蠢！

( s& p' B7 I/ O, d0 B7 @{:soso_e127:}
* ^" b& ^( a6 N
運放的雜訊會隨增益（Gain）一起被放大，很多運放的特性都是設定在 Av = 1（Unity Gain）下的表現。
; ^( \$ E7 Y1 A: Q
% c2 x9 e! U0 N6 r9 C4 [如果兩個放大器要做比較，觀念上來說應該先固定增益，然後改變輸入大小來觀察輸出差異。
0 ~3 X% i* E+ }5 A
5 a4 S* u: _. ]% `{:soso_e172:}

OrangeJD

多谢大神指教

xiaochu312

有学习了一招