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不同功放参数对比测试条件设定的疑问

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1#
发表于 2013-7-10 18:19 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
在固定的电源供电电压和负载下,根据Vout=Vin * Av,当在不同的Av下得到相同的Vout,测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。! S8 m1 u  D! v
在对比测试两个不同的功放,为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢?
. Q0 c1 C% d. }希望大家给点建议,谢谢!: T3 v, _' `" a
( M: t# r. ^7 V" B3 d% W: z" x
此外,从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。( J: W6 v) E, o/ t, E
这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢,数据手册中没看到对应的说明。

QQ截图20130710181857.png (31.52 KB, 下载次数: 2)

QQ截图20130710181857.png

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2#
发表于 2013-7-10 23:20 | 只看该作者
先解決第二個問題!+ ]9 `, @1 R5 k% f& U* S

* g3 W( W3 T+ X% tOperatinal Amplifier Noise Density Test Circuit+ z, a  m8 ~. Y3 q) t) X# z

4 f3 `) s5 e$ j7 H. R也是踢哀(TI)的技術文件講的!
7 R9 ?$ g; l) K  ?3 ]+ }5 h5 H
* ?' V9 A( \& A( X9 C8 P/ Y" s7 E3 n9 G2 K& k

* s: I8 Y% L/ v; g; F5 V

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg (91.34 KB, 下载次数: 11)

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg

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3#
 楼主| 发表于 2013-7-11 09:00 | 只看该作者
超級狗 发表于 2013-7-10 23:20 7 |& ?2 C3 l0 I2 C) p/ K; p0 v
先解決第二個問題!" h& x, ?) \( g/ R& s9 K7 p
# z. {* j3 ^. F
Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit
, _4 |3 h' I2 W: L% ?
你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说{:soso_e113:}

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4#
发表于 2013-7-11 17:12 | 只看该作者
OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00 9 d) V9 J5 h, k2 S5 T4 V9 o) P
你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说

% L2 |0 j7 M+ C1 M+ k' b您只是愚鈍,小弟是愚蠢!$ M7 r/ m4 T5 U' I' R

/ q+ @/ t' G2 _/ d6 |  ]{:soso_e127:} , N+ V" ^  |! R, b  D) \9 Y
& p/ A6 g+ k$ }) B" o7 K
運放的雜訊會隨增益(Gain)一起被放大,很多運放的特性都是設定在 Av = 1(Unity Gain)下的表現。: o( |8 z& E8 M7 L

% X% U+ R! X6 @$ D* z4 s如果兩個放大器要做比較,觀念上來說應該先固定增益,然後改變輸入大小來觀察輸出差異。
4 |, p" R% @5 y* F, T0 S" q5 Z3 ]# ~% p, r( y! s& m7 w
{:soso_e172:}

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5#
 楼主| 发表于 2013-7-11 18:47 | 只看该作者
多谢大神指教

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6#
发表于 2013-7-17 15:48 | 只看该作者
有学习了一招
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