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不同功放参数对比测试条件设定的疑问

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1#
发表于 2013-7-10 18:19 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
在固定的电源供电电压和负载下,根据Vout=Vin * Av,当在不同的Av下得到相同的Vout,测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。+ H7 o+ w7 k0 v) l1 Y) j4 B
在对比测试两个不同的功放,为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢?1 B( L. H7 u, l! o# W6 W5 P
希望大家给点建议,谢谢!+ B; {( ?9 q, I+ f
5 Y- W  x0 n/ L: d0 b( e
此外,从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。( y  R# }: v0 p. r
这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢,数据手册中没看到对应的说明。

QQ截图20130710181857.png (31.52 KB, 下载次数: 2)

QQ截图20130710181857.png

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2#
发表于 2013-7-10 23:20 | 只看该作者
先解決第二個問題!( R/ @: n& }0 L' O

/ T  V' @# n$ D# P, |* K/ {0 v0 v1 eOperatinal Amplifier Noise Density Test Circuit: H! \* f1 k$ o: F" z+ r8 [
0 ]8 m9 A5 p# A& g8 Z) I
也是踢哀(TI)的技術文件講的!
9 {# u8 F3 T2 M/ o
% X1 d' d0 i. @! P3 E2 N
" D7 \& L$ D0 s- j3 [( y4 J9 a. {* D, q5 Z% ]6 P

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg (91.34 KB, 下载次数: 11)

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg

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3#
 楼主| 发表于 2013-7-11 09:00 | 只看该作者
超級狗 发表于 2013-7-10 23:20
6 V6 V/ k8 |4 @9 v6 l' `' Z; n先解決第二個問題!
: B$ Q- q8 a! y; g' s. _! X3 D4 W8 o8 C3 f; r' S* ~. g
Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit

1 z* m" h$ F: p你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说{:soso_e113:}

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4#
发表于 2013-7-11 17:12 | 只看该作者
OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00 # k( K* K. N5 o1 `- N
你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说

% m1 V8 y: q- h) C+ F0 [您只是愚鈍,小弟是愚蠢!& Y$ g$ w. m! |0 W1 T7 z  F  F: p

2 Q' |% k& d' T+ P( n1 v7 h, H. p{:soso_e127:}
$ T9 f9 k, E6 o$ \' Q
1 e' V9 u$ H. i( }: y運放的雜訊會隨增益(Gain)一起被放大,很多運放的特性都是設定在 Av = 1(Unity Gain)下的表現。
. m9 T  S, H9 h7 s1 v, @: W6 n
; y5 U, c$ X! A3 [# D2 b如果兩個放大器要做比較,觀念上來說應該先固定增益,然後改變輸入大小來觀察輸出差異。- D3 z" _% N; K# R* }

1 [# c( p& }) q  l  `{:soso_e172:}

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5#
 楼主| 发表于 2013-7-11 18:47 | 只看该作者
多谢大神指教

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6#
发表于 2013-7-17 15:48 | 只看该作者
有学习了一招
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