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部件单体ESD性能与接入系统表现不一致，求大神指点，可能是什么原因造成的。0 u1 c" L A9 G& Z: |
单体的X2接插件在系统内部通过一整束线束中的几根连接到系统外部的接插件头，具体信息详见下面：
6 F! c n3 E) {2 i4 u* S t. K+ c$ Z- \- Z
实验项目：ESD 测试 {contact discharge， level 4（±8KV）}
D3 S* X; E; c! m( c$ J( c参考标准：ISO10605-2008; I! h3 ]8 z1 c. W, Y2 u* v: Y
单体试验相关信息：
& ^( i9 P) ]; N1 z& @9 V' m+ ?Set up：
a" w( c( b# ASet up.jpg
; Q7 P- L) x: s) }" c1 H! \Overview： discharge points
9 {! @8 Q, i- _: d6 Q+ a单体部件放电实验.jpg
5 ?# g6 A8 u' p3 { J3 q测试完，进行功能检测，未发现功能失效。（实验多次，保持一致）; V2 R- |) [0 J
/ O# J6 S, K" ?' k! N* ^9 g C
系统实验相关信息：
0 C7 L1 R- }0 NSet up:6 I3 e) m6 t) A6 ^% }- h
Set up.jpg; S C/ U; [, X! I! @" S3 z& i
Overview： discharge points
$ d$ W% h* T$ O3 o$ g系统图.png" O6 H+ m. e( ^& T$ u2 `- p! n. Y
系统原理图.png
1 A# ?# o/ \9 T7 o' x* S0 F3 x测试完，进行功能检测，发现单体有一功能失效。（实验多次，除有一块单体未损坏，其他都损坏）
3 ~5 }" ?& c! P$ J5 M/ z+ y8 C- W
谢谢~！
7 [/ U' @. D2 w4 Q+ e& N
2 T8 r3 _9 ]8 I" \ |
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发表于 2015-11-12 15:59
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