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低温测试过不了

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    [LV.3]偶尔看看II

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    1#
    发表于 2015-2-7 20:03 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    x
    低温对于pcb上面的那些东西有影响?看得到的芯片,导线,看不到的信号的速度什么的,高手出来谈谈,低温测试过了的,在设计板子的时候需要注意什么; Q3 e( K. E& }5 [( p+ q( |

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    发表于 2015-2-7 20:14 | 只看该作者
    主要就是电容的容值,某些DC-DC低温启动不正常(修改COMP的,比如MP1482就出现过低温不启动而修改COMP),低温启动DC-DC纹波过大的。

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    发表于 2015-2-7 20:13 | 只看该作者
    1.石英晶體有沒有溫度補償? 用TCXO來改善。1 M6 c  b) J$ ]( Q/ A5 g' F4 @
    2.電容器不要用Y5V等級,改用X5R或是X7R等級。
    - J+ J0 _# R( S/ x3.檢查IC是不是能工作溫度於目標範圍內?

    点评

    支持!: 5.0
    支持!: 5
    以前在上家公司碰到过,低温容易当机,搞了很久,最后换TCXO(温度补偿晶体振荡器)搞定,  发表于 2015-3-3 10:07
    版主,应该不会跟pcb的布线布局有关系把,比如时钟线的长度过长,然后一些等长线,比如lvds,dvi, ddr这些高速的信号,等长做的不严格,会不会低温会不会出问题呢?  详情 回复 发表于 2015-2-8 18:53

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    发表于 2015-2-10 09:43 | 只看该作者
    楼上说的都差不多了。我来总结下。% R- r' d+ c' j. V8 t! ?
    环境高低温测试,跟PCB走线关系很小,除非,你用的板材是最烂的,只要是正规板材,没问题的。
    # B3 ?! H3 \! S3 D& K其次是器件的选择,晶振负载电容,补偿电容,优先选用C0G/NOP,其他的电容,优先选用X7R,X8R属于高温电容,你应该用不到。电阻的话,用大品牌的,不要整那些基本上没听过的牌子。
    6 {" I) H' {9 F4 h然后就是芯片,至少要满足工业级要求。如果板子上用了商用的,铁定过不了。
    " E/ k* Q' @' b- P4 A! m7 y晶振如果满足温度要求,基本上是不会影响太大。
    ' d! C5 J0 _7 r7 h3 t, V  N  |总的来说,低温过不了,基本上是用料的问题。' ]  J/ d$ y6 D
    其实,最难保证的,是物料的采购。很多采购员,甚至是工程师亲自去买,也会买到次品。这是国情,没办法。* e7 ~9 a! t# ^* m! H

    4 r6 K& k& U& g% N! ]
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    [LV.3]偶尔看看II

    4#
     楼主| 发表于 2015-2-8 18:53 | 只看该作者
    jacklee_47pn 发表于 2015-2-7 20:13
      X: V; Y, e5 j. t1.石英晶體有沒有溫度補償? 用TCXO來改善。+ q* V# `; @4 ]; i$ A
    2.電容器不要用Y5V等級,改用X5R或是X7R等級。
    + N; |6 r- Z) M) j; ~5 d# N3.檢查IC是不 ...
    ; H0 T- }7 T2 t0 i( |8 b) F! j3 S
    版主,应该不会跟pcb的布线布局有关系把,比如时钟线的长度过长,然后一些等长线,比如lvds,dvi, ddr这些高速的信号,等长做的不严格,会不会低温会不会出问题呢?+ {( L* p; @% |+ o* x0 d+ Y

    点评

    曾经碰到过低温不过的时候,调整DDR的时序参数(tRAS,tCAS,tRC,tRP...)就过了,可能是常温时调试的参数较偏,在低温时这些参数已发生变化。  详情 回复 发表于 2015-2-26 16:58
    有种情况,系统在低温下运行速度会变快(如DDR),这样的话就有可能跟你说的那些走线有关系了  详情 回复 发表于 2015-2-9 17:09
    溫度跟PCB佈局關係非常小,溫度跟IC和電容器特性關係非常大!  发表于 2015-2-8 21:09

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    5#
    发表于 2015-2-8 20:10 | 只看该作者
    我想问下你,你这个低温测试的温度范围是多少到多少的?

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    6#
    发表于 2015-2-9 16:59 | 只看该作者
    1、系统IC,电源,晶振等元件是否工作在推进温度范围;
    / l; i( H' d( F; l/ O2、电源的带负载能力及纹波是否稳定;' O" x/ W) v  m  k( m( h
    3、试着把主控的内核电压提高一点点看看;
    ; U; J. k% {& [, Z" O, q/ k

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    7#
    发表于 2015-2-9 17:09 | 只看该作者
    ann_wz 发表于 2015-2-8 18:53( F( y4 d. ^- d: o, Y: u4 ?
    版主,应该不会跟pcb的布线布局有关系把,比如时钟线的长度过长,然后一些等长线,比如lvds,dvi, ddr这 ...
      j' S( I! {" z/ G* v* A9 g, Y' |
    有种情况,系统在低温下运行速度会变快(如DDR),这样的话就有可能跟你说的那些走线有关系了
    8 z/ v$ V1 j4 u1 }2 X

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    8#
    发表于 2015-2-10 08:27 | 只看该作者
    还是那句话,电源,时钟,复位为基础3 K. D8 _+ W* R4 A) |' u7 z

    该用户从未签到

    10#
    发表于 2015-2-12 15:26 | 只看该作者
    我一般-30度低温试验,在选用所有器件都符合低温要求的时候,低温对晶振的起振有很大影响,有过32.768晶振起振不正常现象。
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    [LV.1]初来乍到

    11#
    发表于 2015-2-12 15:54 | 只看该作者
    纯低温不过主要是器件问题,高温到低温突变不过是PCB防潮处理不好
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    2025-11-19 15:14
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    [LV.1]初来乍到

    12#
    发表于 2015-2-12 15:57 | 只看该作者
    电源上的电解电容要选宽范围的或者钽电容,普通电解电容在-30度以下容量会大幅减少

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    13#
    发表于 2015-2-15 10:18 | 只看该作者
    看这个样子楼主做的低温试验应该是在-40了1 W* W% g3 ~; y" W- U$ y
    有几个问题要确认一下:
    - I. N# S$ k1 I) m6 ]1 I5 J" r1、低温工作不过还是启动不了?
    : H$ P; D  A; C" d2、设备使用的是锂电池还是外部电源?
    + X3 v2 @; Q. _0 a# j+ u
    6 J) g' Q' m, m对策:
    , f. ?3 i2 I  A/ f1、如果是低温不启动,那就要看你的锂电池是否在低温下输出正常范围i的电压?同时所有的电源芯片、电源控制芯片的输入门限是否在2.5以下?()如果是工作不了那就要看你的CPU或者控制芯片的工作温度范围了。。建议楼主把这些主要芯片查清楚
    : ?5 U' @/ t0 E7 e1 u$ A$ x: C  W2、如果是使用外部电源,那问题应该在于你的MCU或者外围电路,不过一般外围的晶振、复位的温度都没问题。如果是锂电池,请参考第一点

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    14#
    发表于 2015-2-15 10:22 | 只看该作者
    低温?  是高低温测试过不了吗?   看看你的 时钟信号, 和PLL电路是否良好
  • TA的每日心情
    开心
    2020-8-31 15:12
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    [LV.2]偶尔看看I

    15#
    发表于 2015-2-16 10:46 | 只看该作者
    关键看你是什么现象。
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