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本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑 # e( c, N' S2 K7 ]8 {1 A
; j: i' G& U+ @" A" J8 Z. ^
回复 shark4685 的帖子2 ^- j- D( ?/ N
7 y2 N9 ^9 L+ h: _" t: g1 v
兄台这个想法很好，$ U) h E9 r: e4 @8 z* ` ?- U, H
但是如果要仿真到5~10GHz的频段，目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。
% b$ @! e8 z+ v% C1 X% |5 G/ h6 U# {高频的情况下需要考虑到4 P5 @$ [: q5 G0 N
1)skin effect和表面粗糙性，造成的电阻和电感的变化2 d& @: X5 Z9 x/ o2 z4 ?
2)介质的频率相关性，造成的电容和电导的变化
/ I0 Z- T& g+ ~$ A3)介质的不均匀性
. ^5 a- h4 A- X% f4 c8 L# z* K& u9 ~2 @! S1 [% Q. i* G" H
大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1)，但是基于的都是简单的波浪模型，并不一定准确
. G. g& F( x; m& U而对于2)，3)目前polar什么的都无法include，而这部分将有巨大影响。. |1 ?. i+ @" }7 z! H. ^
我所知道的CST和HFSS都支持2）介质的频率相关模型，但是因为建模的缺陷，想要include 1)那么就要花费很多时间建模。
# _& X1 y5 o2 X7 f+ O+ p( X u而对于3)只有少数软件支持，比如Q3D，当然愿意花时间建模，CST/HFSS也可以搞定3)
/ c' `: {1 K' L8 {. |所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战，需要自行修改RLGC。, m. y. _% | P9 a3 w+ t: p
2 J& J% r7 `# M, T9 g( U7 D0 k
如果你要比较准确性，我相信对于1)，2)，3)的处理不同，各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。, b0 K$ c" i3 B- S2 L! {
而且你仔细检查s参数，会发现他们的质量不太好，比如因果性，无源性，物理性可能欠佳。2 w/ A& j6 B" d' v- v: F
/ \: f L# x: o, Z' w+ y9 y对于高频应用，s参数的质量不好，意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。7 @3 a! w& Q8 E7 M) f5 z
5 I# ~* b# z9 t X! f& X! X |
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发表于 2010-6-22 09:28
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发表于 2010-6-24 14:59
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