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本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑
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' o* |8 M! k& r; b g/ X9 A1 @: t9 }; ]* y回复 shark4685 的帖子
# f& ~" w+ @% R2 T* s( G { L! m. @$ Y
兄台这个想法很好，& w1 i3 ]' Y) D; Z' {
但是如果要仿真到5~10GHz的频段，目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。
" m- y" o+ h p! O高频的情况下需要考虑到$ V( H0 r4 P. B$ c7 k
1)skin effect和表面粗糙性，造成的电阻和电感的变化+ [/ v" ^: y2 o v$ v- f
2)介质的频率相关性，造成的电容和电导的变化1 g5 G) E& c8 w* f8 i* N
3)介质的不均匀性# r8 M9 F9 d ^( }) V
1 V9 L* r7 }9 O* |, k2 T! Q大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1)，但是基于的都是简单的波浪模型，并不一定准确
! Z8 S" ^# L L y+ `- a而对于2)，3)目前polar什么的都无法include，而这部分将有巨大影响。
8 [6 L: V& T% v1 t) s; H我所知道的CST和HFSS都支持2）介质的频率相关模型，但是因为建模的缺陷，想要include 1)那么就要花费很多时间建模。* }. o# u+ @; D; v
而对于3)只有少数软件支持，比如Q3D，当然愿意花时间建模，CST/HFSS也可以搞定3)
+ U+ t+ x1 |. ?- v所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战，需要自行修改RLGC。$ v F; G) l5 h, Z/ K
) _2 z3 X3 c% |0 h( F# G" a
如果你要比较准确性，我相信对于1)，2)，3)的处理不同，各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。
, A) s: P/ ?. H/ L8 i而且你仔细检查s参数，会发现他们的质量不太好，比如因果性，无源性，物理性可能欠佳。
8 d. T' m+ V% f! S
* [: h3 _2 L* M: Z对于高频应用，s参数的质量不好，意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。
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发表于 2011-5-6 12:39
发表于 2011-8-2 23:15
