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本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑
4 m" u" e& i, e/ m. ? R( v' D* o
, J/ I3 n* ]% D回复 shark4685 的帖子 u) @" k7 y1 i! H
5 O) Q( y7 B0 l5 W- F& `
兄台这个想法很好，/ v- o" x4 _& r6 m' v- Q* X6 Z
但是如果要仿真到5~10GHz的频段，目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。
" z% v6 y( r( B7 ~" j, b w) g高频的情况下需要考虑到
+ _" j( U8 Z! f5 h9 C* O1)skin effect和表面粗糙性，造成的电阻和电感的变化7 ]3 f! f0 g7 Q( ?( n7 n+ o8 {( \
2)介质的频率相关性，造成的电容和电导的变化
Q# E; G6 h; o% H1 u6 D$ J* L3)介质的不均匀性
2 f$ h" i' q# C. v4 r
, V; q3 S5 c: M+ B: ^4 @ C- `大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1)，但是基于的都是简单的波浪模型，并不一定准确% K [5 ?7 ?* P5 ]% c
而对于2)，3)目前polar什么的都无法include，而这部分将有巨大影响。
7 S5 `8 U$ n; @) t/ D9 z我所知道的CST和HFSS都支持2）介质的频率相关模型，但是因为建模的缺陷，想要include 1)那么就要花费很多时间建模。
* a2 E0 r2 N2 c' W P a而对于3)只有少数软件支持，比如Q3D，当然愿意花时间建模，CST/HFSS也可以搞定3)" R6 @" z9 ^2 g5 E! a
所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战，需要自行修改RLGC。
9 I4 q, b! H" [% V3 [0 ^) W% N( E; U0 v) F
如果你要比较准确性，我相信对于1)，2)，3)的处理不同，各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。
& H3 R: u& |8 |" [9 W/ F而且你仔细检查s参数，会发现他们的质量不太好，比如因果性，无源性，物理性可能欠佳。
# [, s. t( w: c3 j0 I) Q( P3 L
% S9 F) {- |" `1 m# { M) j对于高频应用，s参数的质量不好，意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。- W F) s- J* |0 z
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发表于 2011-5-6 12:39
发表于 2011-8-2 23:15
