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[仿真讨论] 减小轨道塌陷措施?

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    [LV.4]偶尔看看III

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    1#
    发表于 2013-10-11 09:44 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    1、减小电源和地路径的回路电感;
    , y# _8 }2 h( V5 q) ^4 r/ D/ B* C2、使电源平面和地平面相邻并尽量靠近;% Q6 A6 g9 x4 w$ Y5 F5 Z5 {
    3、在平面间使用介电常数尽量高的介质材料使平面间的阻抗最低;
    1 F) w, M6 Y. L+ V3 L* F8 n4、尽量使用多个成对的电源平面和地平面;5 o/ {' N8 A! s3 @: ^, [
    5、使同向电流相隔尽量远,而反向电流间隔尽量近;
    2 y# p2 z( `7 Q9 {6、在实际中,使电源过孔与地平面过孔尽量靠近。要使它们的间隔至少与过孔的长度相当;4 I1 g8 @2 e: |% [& W& F: @$ X; g6 U/ p
    7、应将电源平面与地平面尽可能靠近去耦电容所在的表面处;6 c# q, w9 c/ ^6 L" l
    8、对相同的电源或地焊盘使用多个过孔,但要使过孔间距尽量远;- M: P  ~& q- H1 R. q  t9 l$ D
    9、在电源平面或地平面上布线时,应是过孔的直径尽量大;  m& f  u6 W) c" `
    10、在电源焊盘和地焊盘上使用双键合线可以减小键合线的回路电感;7 V) E8 y0 H: ]5 Y3 h
    11、从芯片内引出尽可能多的电源和地引线;
    6 p8 O( J' p  N! [  v12、在芯片封装时引出尽可能多的电源和地引脚;
    & P5 ]2 z" J  S$ A: C; j$ _/ ?13、使用尽可能短的片间互连方法,例如倒装芯片而不是键合线;
    # r# d, a% \  f. }3 p0 A/ C14、封装的引线应尽量短,例如应使用CSP封装而不是QFP封装;
    5 ~  `1 m7 Z. a  W# m& L16、使去耦电容焊盘间的布线和过孔尽可能短而宽;
    3 p4 d: n! }! ^0 `- i5 Z17、在低频时使用一定量的去耦电容来代替稳压器件;
    ( A6 @# R  o2 U0 H" t18、在高频时使用一定量的去耦电容来抵消等效电感;/ s* a) ~% K0 G3 q2 W8 Y; z; B
    19、使用尽可能小的去耦电容,并尽量减小电容焊盘上与电源和地平面相连的互连线的长度;0 p' V0 ^; g; Z; C% Q
    20、在片内使用尽量大的去耦电容;) k: W7 k5 a7 D  @8 ]% ]
    21、在封装中应使用尽可能多的低电感去耦电容;, J5 c$ _& p4 H6 B7 ~) O. G9 r
    22、在I/O接口设计中使用差分对;

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2013-10-18 16:23 | 只看该作者
    就一句话:使DIE pad出来的wirebond线与POWER/GROUND RING的电感尽量小。
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