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[仿真讨论] 减小轨道塌陷措施?

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    [LV.4]偶尔看看III

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    1#
    发表于 2013-10-11 09:44 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    1、减小电源和地路径的回路电感;+ o+ X* t  J+ L) n/ E7 [
    2、使电源平面和地平面相邻并尽量靠近;
    , ]: h% O: U0 |1 {3、在平面间使用介电常数尽量高的介质材料使平面间的阻抗最低;: f$ p+ z3 K" `  S
    4、尽量使用多个成对的电源平面和地平面;
    9 F6 v+ ?# o/ F  {( ]5、使同向电流相隔尽量远,而反向电流间隔尽量近;
    3 E2 K4 B) G, }+ I( D, A" C) o1 r6、在实际中,使电源过孔与地平面过孔尽量靠近。要使它们的间隔至少与过孔的长度相当;
    / T; C; J3 K/ [( q7、应将电源平面与地平面尽可能靠近去耦电容所在的表面处;
    $ Z+ X" s1 ^. o; G7 I8、对相同的电源或地焊盘使用多个过孔,但要使过孔间距尽量远;! G9 n9 h$ U- B  i' p6 K7 q
    9、在电源平面或地平面上布线时,应是过孔的直径尽量大;6 m$ U- H0 R" h3 G5 n2 o  M- G
    10、在电源焊盘和地焊盘上使用双键合线可以减小键合线的回路电感;
      e$ Q# U: h/ U/ u, i! l% s9 c11、从芯片内引出尽可能多的电源和地引线;  ?- [4 `1 x. Y, ?/ _/ r
    12、在芯片封装时引出尽可能多的电源和地引脚;5 g8 Y, n8 E. @/ {# F
    13、使用尽可能短的片间互连方法,例如倒装芯片而不是键合线;' h0 r2 N  z+ w+ h) |( Q( E
    14、封装的引线应尽量短,例如应使用CSP封装而不是QFP封装;
    * l$ u3 F/ O) b% f) ~16、使去耦电容焊盘间的布线和过孔尽可能短而宽;1 B4 H2 a  B9 t1 T# Z6 j0 z
    17、在低频时使用一定量的去耦电容来代替稳压器件;
    ! q" V- a1 ^9 w$ c18、在高频时使用一定量的去耦电容来抵消等效电感;
    ; |6 }$ z6 D* F! ^8 |7 w19、使用尽可能小的去耦电容,并尽量减小电容焊盘上与电源和地平面相连的互连线的长度;
    : v6 `8 j) p2 l2 B# W20、在片内使用尽量大的去耦电容;+ j5 z: `) \# R: \7 h
    21、在封装中应使用尽可能多的低电感去耦电容;
    ' `" k0 O5 z/ r* F' P22、在I/O接口设计中使用差分对;

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2013-10-18 16:23 | 只看该作者
    就一句话:使DIE pad出来的wirebond线与POWER/GROUND RING的电感尽量小。
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