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第三更4 Z- p% H* V* U3 ~2 U4 h& W
" w8 u! V( ~( _. s* n* O. c8、如何处理实际布线中的一些理论冲突的问题
9 a* w; n2 P* A% A1 a1. 基本上, 将模/数地分割隔离是对的。 要注意的是信号走线尽量不要跨过有分割的地方
8 q8 o0 z% N: r2 {: b1 W/ l6 A: m, n(moat), 还有不要让电源和信号的回流电流路径(returning current path)变太大。
6 ~$ _$ }. C' N4 N8 B& s2. 晶振是模拟的正反馈振荡电路, 要有稳定的振荡信号, 必须满足loop gain 与phase 的规范,2 [- r, e7 p! U" R. H
而这模拟信号的振荡规范很容易受到干扰, 即使加ground guard traces 可能也无法完全隔离
0 ~( E0 }5 M& R1 Y4 P干扰。 而且离的太远, 地平面上的噪声也会影响正反馈振荡电路。 所以, 一定要将晶振和
+ n! H# @$ G' [: G9 G4 ]. d芯片的距离进可能靠近。$ J+ W c% s5 z* w! ^& I
3. 确实高速布线与EMI 的要求有很多冲突。 但基本原则是因EMI 所加的电阻电容或ferrite
1 X/ X. v1 ^ k8 cbead, 不能造成信号的一些电气特性不符合规范。 所以, 最好先用安排走线和PCB 叠层的
7 K1 I# R1 M1 f2 F6 T技巧来解决或减少EMI 的问题, 如高速信号走内层。 最后才用电阻电容或ferrite bead 的方
$ C7 o8 b }8 {3 i式, 以降低对信号的伤害。3 V. Y% p4 X9 z( ?
) o) P) A5 r" H& [% a, V9、如何解决高速信号的手工布线和自动布线之间的矛盾?/ g. z# K5 m. I# I. V
现在较强的布线软件的自动布线器大部分都有设定约束条件来控制绕线方式及过孔数目。
% I% y1 q. a- f, L% h. |各家EDA 公司的绕线引擎能力和约束条件的设定项目有时相差甚远。 例如, 是否有足够的3 z# M4 }& r* {, D( k
约束条件控制蛇行线(serpentine)蜿蜒的方式, 能否控制差分对的走线间距等。 这会影响到自
5 i5 V1 f p6 D动布线出来的走线方式是否能符合设计者的想法。 另外, 手动调整布线的难易也与绕线引
9 @1 d( \2 @ x \* U8 X擎的能力有绝对的关系。 例如, 走线的推挤能力, 过孔的推挤能力, 甚至走线对敷铜的推挤' E5 W+ T* Y5 W8 T6 K7 g2 w& f7 A
能力等等。 所以, 选择一个绕线引擎能力强的布线器, 才是解决之道。6 r3 S; p8 a7 \! c# ?9 o
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10、关于test coupon。
* ^" g y( N/ L3 n* ^& [7 w" _) I7 btest coupon 是用来以TDR (Time Domain Reflectometer) 测量所生产的PCB 板的特性阻抗是; _3 }6 Z, b- N) T( G
否满足设计需求。 一般要控制的阻抗有单根线和差分对两种情况。 所以, test coupon 上
* K5 U% V# H; Z- B( P, g6 `" D的走线线宽和线距(有差分对时)要与所要控制的线一样。 最重要的是测量时接地点的位置。3 @( | k1 V, u8 V' W5 c5 Y6 m
为了减少接地引线(ground lead)的电感值, TDR 探棒(probe)接地的地方通常非常接近量信' h% F2 q1 C E) [2 C! H
号的地方(probe tip), 所以, test coupon 上量测信号的点跟接地点的距离和方式要符合所! R. C% l A9 d5 F# W% ^% h. s
用的探棒。 |
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