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逻辑电平检测电路

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1#
发表于 2013-3-26 19:27 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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% o0 D8 H) e0 ~+ c" I, h最近在做一款芯片,里面需要用到这样一个电路(暂且命名为逻辑电平检测电路):
* a$ s4 X+ B* k! g1、输出寄存器是由8位数据位(经过异或操作)和一位反转位组成的9位寄存器" j" U$ B- C- _3 b
2、反转位定义:当数据位里面有超过4位的1时,反转位设置为1,否则保持为08 e4 i' I- X$ L7 g% a) e) W- c
3、输出的8位数据位要和反转位进行异或操作,然后才能输出7 t- ?( C! G- E1 g0 C/ s% q4 E
- B$ P, d  R: L6 {7 n
0 G8 W. Q: J3 e4 I: ^! C

& K7 R2 J- q4 a: I# T. }# ^6 n5 E1 P/ c; h9 [, F$ P& E$ k
如何检测1的个数是否大于4的电路最好能用组合电路实现。
4 r# ?4 Y# [, U希望能有朋友指点一下,多谢了。 + _; E& Y5 J- H' A+ O

9 k3 G( A; G4 t7 j3 [( z

该用户从未签到

2#
发表于 2013-5-16 08:26 | 只看该作者
本帖最后由 zgq800712 于 2013-5-16 08:29 编辑 4 W' ^* a5 [; H3 ^' V
3 L1 ?, b) n! d) ?9 z7 n/ Z4 e
哎想不出来,看序列检测器也不是用组合逻辑的。,楼主说的是4个任意位1 还是连续1。, M3 z8 H- w9 W- x' W
连续位的话就好做了。
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