TA的每日心情 | 无聊 2025-6-25 15:33 |
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签到天数: 6 天 [LV.2]偶尔看看I
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本来想在老帖里发,想了想还是得发一个新帖:
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% f7 K: v4 ~" m本人一直没搞清楚IIC的采样方式,目前看到了三种采样方法的说明:高电平采样、上升延采样+高电平采样、上下边沿双采样7 B5 I* _' m0 t6 B4 x: V
& i2 G5 z$ p- l5 r( ]1、高电平采样:许多文献或者帖子都说明了是高电平采样,但是似乎没有找到盖棺定论的决定性文献,如果是根据建立保持时间的时序要求反推,时钟高电平处肯定是有采样的,因为一般边沿采样的建立保持时间都是以某个时钟边沿为参考,但是I2C的保持时间是以下降沿为参考,也就是说上升沿到下降沿之间有采样点,但是无法判断是高电平采样还是边沿采样
+ Y _8 g# z- n) i9 [" y7 N2、上升延采样+高电平采样:该说法具体内容是,i2c内部有边沿敏感电路,在上升沿会采样数据,而在高电平采样是为了判断是否出现了star、stop信号,因此还是需要保证边缘的单调性
, U% Q% |1 r( D- \& Q1 ?3、上下边沿双采样:该说法来源与本站某贴中的贴友“其实I2C的采样也是边沿采样,只不过是上下沿都采一次”" `; i: ~0 ^( H) S# c3 J
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因为本人之前一直以为是高电平采样,因此觉得边缘稍微有一点回沟或者平台不会有问题,但实际好像不是这么回事。虽然几种采样形式没有对测试结果没有影响,但是会影响对信号质量的评估,有时候iic边沿就是存在回沟无法消除,最终评估是否可接受时还是需要回到采样的本质,需要从理论和测试的情况下能判断信号质量符合预期。' y; S& N7 |9 D0 t- y5 g0 ]
7 |+ i+ h. i. S3 I# ^, \4 v5 v希望诸位能解答小弟的疑问,或者提供一些可供参考的信息来源
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