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EDA365电子论坛网»电子社区 › 研发技术版块 › 信号完整性SI/PI仿真 › 使用ADS如何快速进行标准化测量？
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[ADS仿真] 使用ADS如何快速进行标准化测量？

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mengzhuhao
  • TA的每日心情
    擦汗
    2020-1-14 15:59

    • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到
    跳转到指定楼层
    1#
    发表于 2012-6-18 20:38 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    使用ADS如何快速进行标准化测量？  u: {3 m& f1 i  E& z  v6 F

    3 m. w0 t+ N4 q6 `3 F2 L$ P# W* a2 M# B9 D# ~3 [
    1 n$ W3 p* {! b4 }) v8 x: V5 Z
    例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制2 C) {! L- }8 v$ m

    ( C9 O* G% s# q- g9 T5 q* _+ n6 Z" c, T" R4 W9 I+ I
    " X6 C' Q( f# x8 Y" ~$ B7 x
    如果通过编程的方法实现自动化测量，有熟悉的朋友么？
    + @1 t% x0 R0 C' P' f8 L; t5 Z7 d- z( s: J& v
    : ^7 g  K' I4 Y

    3 F! I! O" q! {( d2 k有那些思路、方法与例子呢？
    - _/ g; r, @& Z' i- I& [4 A0 E

    下载资料威望不够？点击查看获取威望的N种方法>>
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    EDA365微信号及QQ群号！
    mengzhuhao
  • TA的每日心情
    擦汗
    2020-1-14 15:59

    • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到
    2#
     楼主| 发表于 2012-6-19 10:27 | 只看该作者
    搜了ads的help 里面有ddr2/3的kit，不过目前还不太会用 有熟悉的朋友吗

    下载资料威望不够？点击查看获取威望的N种方法>>
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