使用Ansoft designer如何快速进行标准化测量？

mengzhuhao

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4 ~( R: S9 O6 A0 @, @8 {例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制
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如果通过编程的方法实现自动化测量，有熟悉的朋友么？
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4 k2 J. \! f' J, s; x4 {有那些思路、方法与例子呢？
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參考
* E$ T1 t. P) a/ L6 s3 |http://home.educities.edu.tw/oldfriend/SIwave/compare_APDS_wi_SIwizard.htm
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