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本帖最后由 Xuxingfu 于 2012-6-13 13:41 编辑
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昨天刚参加完深圳安捷伦功放数字预失真DPD技术研讨会,传2个课件上来,分享给大家!2 S' M5 F& g1 e
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安捷伦主推他的SystemVue通信仿真软件进行DPD仿真及算法& k6 L, O; r1 q4 ~5 u0 Z. K
, b3 K9 H2 S. Y+ F. j2 [, F8 Q4 C( _
数字预失真DPD_Wideband_webcast_archive.pdf
(3.21 MB, 下载次数: 730)
功放的数字基带预失真技术研究3.pdf
(278.08 KB, 下载次数: 273)
8-功放预失真模块化测试解决方案.pdf
(2.01 MB, 下载次数: 407)
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9 B; W: R, w; H& R1 d5 {SystemVue简介及其发展史 - \" Z+ M# R! ^
( o% o" f. @1 }9 } 在2005年Elanix被美国安捷伦(Agilent)公司收购,把软件名字改为SystemVue,由原先的SystemView1.0,SystemView4.5,SystemView5.0,SystemView.6.0,再到后来的SystemView2005,SystemVue2007,SystemVue2008.功能也逐步的的完善,有开始的具有基本的仿真功能到后来的增加了DSP库,第二代,第三代移动通讯,蓝牙库的完善,实例仿真的范围的拓展,眼图相位噪声处理的完善。随着科技的发展,人类创造出来的智慧也在不断升值。 SystemView是由Elanix公司发起的, ELANIX公司创建于1991年,主要从事高级的硬件和软件信号处理与通信系统的设计和开发。ELANIX公司位于CALIFORNIA州,公司总裁和创建人PATRICK J.READY博士拥有先进的信号处理器的美国和国际专利权,是一位信号处理和通信方面的改革者。ELANIX公司的技术力量雄厚,其设计工作可以依据使用的处理器及其环境的状况,使用DSP,MP'S,ASIC,VLSI神经网络和其他当前领先的技术。包括所有的用于商业和军用的信号处理在内,公司在理论分析,软件开发,仿真与测试,硬件设计和微处理器等方面有广泛的经验。 " ]. B w* u% [. Y% Z
(二)SystemView的特点
! d5 S- } x% X+ `0 b$ g 1.1.真正的动态系统仿真器; - j& I6 B# \8 ?0 t' @
2.2.直觉样本数据(Z域)和连续的Laplace域系统详细说明; & q" z; X+ j4 ^/ x3 E1 x
3.3.多速率系统和并行的平行系统;
% f( g& Z' b) U4 q1 i4.4.时间连续和时间离散的混合系统; ( [/ {" U9 U4 S" @$ e0 Y, S: R/ V
5.5.图形FIR滤波器设计(包括:低通、带通、高通、带阻、Hilbert(90度相移)和微分网路); 0 }% ^* M! F$ Z0 ^8 P$ w
6.6.大量的IIR滤波器库(包括:多极Bessel、 Butterworth 、Chebyshev 和Linear Phase);
' [8 [9 J) K) f) C7.7.FFT类型:magnitude、squared magnitude、光谱分析器、能量谱密度和相位;
. M" k" Y0 n/ d) D8.8.无限制地支持嵌入式系统和多层子系统,可建立大规模分层系统;
8 ^$ |$ _; C$ p- b v9.9.全部的逻辑功能、开关和非线性装置组件;
9 `7 J9 Z0 o) L# s% S( o, D) C1010.完整的信号源、接收端、函数、算子和MetaSystem库;
3 b" P! t/ ?; r! ~* E9 @) P' ^1111.外部和内部的信号源和接收端;
7 P" Z$ [% t% {' H- l1211.内置系统诊断和连接检查; 9 D/ O X$ n# K
1312.全局参数连接和变量图标参数; ' E( w4 S6 o5 f
1413.用于高级块处理的接收端计数器; . p4 Y# S( \ N* P$ o2 F0 K
1514.在分析窗口中多图显示; 5 M+ f9 v4 n2 ~2 w' j
1615.带有指导和自动示例的在线帮助系统。
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* E$ w/ a( y5 ` d(三)功能
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1.能在DSP、通讯和控制系统应用中构造复杂的模拟、数字、混合和多速率系统。具有大量可选择的库,允许用户有选择地增加通讯、逻辑、DSP和射频/模拟功能模块。特别适合无线电话(GSM,CDMA,FDMA,TDMA,DSSS)、无绳电话、寻呼机和调制解调器以及卫星通信系统(GPS,DVBS,LEOS)等的设计;能够仿真(C3x,C4x等)DSP结构;可进行各种系统时域/频域分析和谱分析;对射频/模拟电路(混合器,放大器,RLC电路和运放电路)进行理论分析和失真分析。
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{# r; e- f$ ]3 z6 l' k3 J1 B2.使用熟悉的Windows界面和功能键(单击、双击鼠标的左右键),SystemView可以快速建立和修改系统,并在对话框内快速访问和调整参数,实时修改实时显示。只需简单用鼠标点击图符即可创建连续线性系统、DSP滤波器,并输入/输出基于真实系统模型的仿真数据。不用写一行代码即可建立用户习惯的子系统库(MetaSystem)。 SystemView图标库包括几百种信号源、接收端、操作符和功能块,提供从DSP、通信、信号处理、自动控制、直到构造通用数学模型等的应用。信号源和接收端图标允许在SystemView内部生成和分析信号,并提供可外部处理的各种文件格式和输入/输出数据接口。
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3.SystemView通过Notes(注解)很容易在屏幕上描述系统;生成的SystemView系统和输出的波形图可以很方便地使用复制(copy)和粘贴(paste)命令插入微软word等文字处理器 通过利用SystemView中的图符和MetaSystem(子系统)对象的无限制分层结构功能,SystemView能很容易地建立复杂的系统。首先可以定义一些简单的功能组,再通过对这些简单功能组的连接进而实现一个大系统。这样,单一的图符就可以代表一个复杂系统。MetaSystem的连接使用也与系统提供的其他图符同样简单,只要单击一下鼠标器,就会出现一个特定的窗口显示出复杂的MetaSystem。但是在学习版中没有MetaSystem图符功能,必须升级到专业版才有此功能。
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# Q' c g" y8 c) S( O6 }4.SystemView允许合并多种数据采样率输入的系统,以简化FIR 滤波器的执行。这种特性尤其适合于同时具有低频和高频部分的通信系统的设计与仿真,有利于提高整个系统的仿真速度,而在局部又不会降低仿真的精度。同时还可降低对计算机硬件配置的要求。 7 R" ~, H& A3 b& ~ ^9 c
' O. f/ I" M1 n% x5.SystemView包含一个功能强大的、很容易使用的图形模板设计模拟和数字以及离散和连续时间系统的环境,还包含大量的FIR/IIR滤波类型和FFT类型,并提供易于用DSP实现滤波器或线性系统的参数。 : z" x% i/ ?) L3 d! A9 V
( o- X+ x B$ v) q6.SystemView提供的分析窗口是一个能够提供系统波形详细检查的交互式可视环境。分析窗口还提供一个能对仿真生成数据进行先进的块处理操作的接收计算器。接收计算器块处理功能十分强大,内容也相当广泛,完全满足通常所需的分析要求。这些功能包括:应用DSP窗口,余切,自动关联,平均值,复杂的FFT,常量窗口,卷积,余弦,交叉关联,习惯显示,十进制,微分,除窗口,眼图模式,功能比例尺,柱状图,积分,对数基底,求模,相位,最大最小值及平均值,乘波形,乘窗口,非,覆盖图,覆盖统计,自相关,功率谱,分布图,正弦余弦,平滑(移动平均),谱密度,平方,平方根,窗口相减,波形求和,窗口求和,正切,层叠,窗口幂,窗口常数等。 SystemView还提供了一个真实而灵活的窗口用以检查系统波形。内部数据的图形放大,缩小、滚动、谱分析、标尺以及滤波等,全都是通过敲击鼠标器实现的。 ) u- B& E/ H7 v/ I, c. e
1 D# [. u( G+ \& t% M7.SystemView允许用户插入自己用C/C++编写的用户代码库,插入的用户库自动集成到SystemView中,如同系统内建的库一样使用。 5 s- v6 c1 f! Q- a' y2 o% ]# R
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8.SystemView能自动执行系统连接检查,通知用户连接出错并通过显示指出出错的图符。这个特点对用户系统的诊断是十分有效的。 6 V9 }# B3 |- d& r& H2 _$ T
2 s7 Y7 b5 e4 K: P5 Y' a) S, `(四)SystemView的应用领域
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/ z; r* S1 e* @* t! ]9 N1. 信号处理、通信和控制系统。包括模拟、数字和混合模式的系统;
8 E9 b9 e8 D& o. h% m% Q2. 相位和频率锁相环;
, @7 h$ f' x" M* Z' p3. 调制、解调和通道建模; 8 M& v( z2 f. K2 h5 m: z$ E
4. 完整的DSP系统设计和测试;
4 x7 y* c/ _2 U* G8 Z& Y, A0 @5. 模拟到数字变换系统、量化和采样系统(包括d—s数据转换)、同相和正交系统;
) z3 s4 K6 W8 A6 m6. 线性和非线性系统设计和测试;
u; `1 _$ [0 M0 g a2 Y" t$ n. v7. 线性和非线性微分方程的解(包括模糊理论); 1 ?: n3 W% l1 |
8. 控制系统设计和测试。 0 k3 x) [' b5 _: ]: g+ Z
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