芯片ICT测试：ATECLOUD-IC如何测试芯片上电和下电功能？

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　　芯片的上电与下电功能测试是集成电路生产和研发过程中非常重要的一步，它可以帮助企业确保产品的可靠性、整合性和兼容性，同时提高生产效率和产品质量。
. h. ~; N+ ]- j: ?+ l$ T5 X　　因此在芯片的研发设计中，企业会对芯片的上下电有严格的要求，包括上下电的时序，斜率等，不合理的设计往往会引起芯片上电无法启动、芯片逻辑混乱等异常情况。

　　为什么要测试芯片的上下电功能?
3 _4 B3 a6 z5 w　　1.芯片的上下电功能可以直观的反应出芯片的稳定性和可靠性;上电过程需要确保电源芯片能够在给定条件下实现正确的初始化和输出，而下电过程则需要确保芯片能够在接收关机信号后安全地停止输出电压。
3 v. i+ ^9 _- E' f　　2.芯片通常需要与其他器件和设备共同工作，因此测试其上下电功能可以验证芯片在系统级别上的整合性和兼容性。如果电源芯片不能正常启动或关闭，可能会导致整个系统无法工作。
　　3.测试电源芯片的上下电功能可以帮助生产厂家和质量控制部门快速检测和筛选出故障或品质不合格的产品，以确保产品的出厂质量和生产效率。
　　芯片上下电功能测试原理
- s+ J# Q3 |* E　　对于芯片上电与下电功能的检测，上下电波形和时间是比较重要的指标，因此后续测试主要以测试这两个指标为主。
* J9 y- E" E. x　　芯片上电之后会有一个上电复位(POR)现象，也就是电源给的输入电压达到芯片的工作电压之后，芯片不会立刻进入工作状态，而是会有一个缓慢的启动过程，这个过程被称为上电复位，而上电复位所需的时间就是上电时间;同理下电复位(BOR)也是指是输入电压断开之后，芯片从工作状态缓慢进入“归零”状态的现象，这个过程所需的时间为下电时间。
　　在芯片的设计和产生中企业总是希望上下电时间小一些，一般都是在ms级别，过长的上电时间会导致芯片无法正常启动，影响其他元器件的的工作，从而使整个系统启动异常;而过长的下电时间则会导致芯片的工作效率低下，无法再次快速上电。
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　　ATECLOUD芯片ICT测试上下电功能的方法
* C( h6 _6 y/ W7 t9 Z　　在测试芯片的上下电波形和时间之前，需要准备硬件仪器，包括：多通道电源、电子负载、示波器。
　　电源负责给芯片提供输入电压，让芯片进入工作状态;电子负载负责在输出端拉载不同电流;示波器则负责采集芯片上电与下电时的波形。
  q3 q" K% Q; U  u8 B　　为了测试在不同电流下芯片的上下电功能，我们可以让电子负载拉载空载和满载的电流，通过示波器采集两种状态下，输出电压、输出电流的波形，采集到波形之后我们就可以直接读取到上电时间和下电时间的参数。
　　使用芯片ICT测试系统需要提前将硬件仪器和芯片连接在一起，之后直接登录ATECLOUD，然后启动平台中芯片上下电测试的方案;系统会自动设置电压、电流等参数，3-5秒后就可以直接抓取上下电波形，并采集到上下电时间，同时将采集到的图片和指标直接展示在系统界面上，测试系统可以免去手动参数调节，记录数据等过程，极大的提升测试的效率。
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　　芯片ICT测试系统的特点
8 W( \: [+ S6 h9 Y2 ^4 ~( c7 u: R　　除了自动配置参数、抓取图形与数据之外，自动测试系统还可以将测试中的数据直接导出为数据报告，而数据报告的格式也可以根据用户需求自定义选择，再也无需手动记录庞大的测试数据了;数据洞察模块可以将所有测试到的数据进行整体分析，自定义数据看板，数据图表大屏幕集中管控，可以助力企业从测试效率等多维度分析企业数据，从而保障企业及时优化研发方向，支持管理决策。详情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html