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激光共聚焦显微镜在芯片材料生产领域中的应用

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发表于 2023-3-2 15:57 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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在材料生产领域中,如需要芯片材料/部件粗糙度的时候,不管是使用原子力显微镜还是台阶仪,都没有办法同时兼顾分辨率、扫描区域以及扫描速度。而基于激光共聚焦显微测量技术的激光共聚焦显微镜,配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像,对细节的展现纤毫毕现,能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。并且可以在保证分辨率的同时满足测量速度的需求。, V6 d1 x4 y: o; d; ^* Z* Q9 J
; g/ @3 g; T/ c' P8 R" ?- ~
VT6000激光共聚焦显微镜
2 c: l& o& u9 D: X
1、非接触式扫描,操作简便,样品即放即扫。% ]- c4 D/ k' v) s
应用:垫圈, s+ i8 V2 z% p5 h% O8 o; e- z
激光共聚焦显微镜非接触式扫描测量速度比接触式测量快数百倍。能以更高的精度对亚微米范围的3D结构进行测量,短时间内能测量整个面板表面密封件的性能,以及其与表面组成相关的各种数据点。
8 i2 ^& [, I& D5 Y! L2 X2 \) C& }) @" v7 I+ P
2、具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能,粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。7 x* ^5 t6 p4 Z8 N, L$ t
应用:金属板. W) _. K$ ~8 A. V/ t; q
除粗糙度评价标准外,激光共聚焦显微镜还可以计算和评估表面封闭区域的微体积,适用于评估这些重要的功能性三维结构。结合测量中提供的自动测量和批量测量功能,可实现对小尺寸精密器件的批量测量并直接获取分析数据的功能。
* [1 f, v- X' ~8 w5 Z: u+ p* |1 S6 Z% q4 X5 E# T7 ~( g
应用:摩擦学,腐蚀等表面工程. G& c& Q) ]( V" H' J) V) K
磨痕的体积测量,粗糙度测量,表面形貌,腐蚀以及亚微米表面工程后的表面形貌。
2 E- m6 J+ t$ r& _0 ~+ W- \
- Q7 o8 R. E. `+ ~/ E
应用:半导体/ LCD
- }% l0 W0 O) e2 B' U0 Z6 @: m, [" \各种工艺(显影,刻蚀,金属化,CVD,PVD,CMP等)后表面形貌观察, 缺陷分析 非接触型的线宽,台阶深度等测量。
7 ]. c: M$ W3 U6 ~7 H9 U

! D' F, k, h4 s" h3、具备自动拼接功能,能够快速实现大区域的拼接缝合测量。  Y% h4 G5 g8 l- u# i
在样品表面抽取多个区域测量,就可以快速实现大区域、高精度的测量,从而对样品进行评估分析。( g, `; T! [  U4 m: O8 l9 l

! P' z% h" h! S3 r. T6 u% [& H激光共聚焦显微镜具有高对比度、高分辨率及可重建三维图像的优势,查看各种显微照片更加清晰,在材料生产、科研和检测领域获得广泛应用。8 g2 Q! K: x3 o2 d* i
0 j3 J( O/ l' ~8 z6 O& F# {/ V) ^

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2#
发表于 2023-3-2 16:39 | 只看该作者
先进的封装,都开始使用光刻机了。
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