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常用元器件失效模式及解决办法

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发表于 2023-1-28 10:35 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 winushej 于 2023-1-28 10:36 编辑
2 c0 D5 @; j) E+ M7 s2 L# r& d
2 @- p2 m% ]% ]$ b电子元器件主要包括元件和器件,电子元件是生产加工过程中分子成分不被改变的成品,比如:电容、电阻和电感等。电子器件是生成加工过程中分子结构发生变化的成品,比如:电子管、集成电路等。' B9 I* B2 X* u; U

; F% [3 V9 v- q  J电阻类元器件- P5 Y4 f6 a; j
电阻类元器件出现故障在电子设备中占很大的比例,电阻可以分为分流、降压、负载、阻抗匹配等功能。根据构造的不同,电阻类元器件可以分为线绕电阻、非线绕电阻。
% W0 G9 j$ a- A3 n  F' o% r$ B电阻类元器件失效的主要方式有接触损坏、开路以及引线机械损伤。
* L. [: j( t5 W温度变化对电阻的影响主要是温度升高时,电阻的热噪声增加,阻值偏离标称值,允许耗散概率下降等。但我们也可以利用电阻的这一特性,比如,有经过特殊设计的一类电阻:PTC(正温度系数热敏电阻)和NTC(负温度系数热敏电阻),它们的阻值受温度的影响很大。4 B, r1 i# ]" e, [! Z, j5 j7 w
机械振动会使焊点、压线点发生松动,导致接触不良等机械损伤。
5 d+ g% N/ ~( ^7 {  h
4 b1 \/ Y/ V# F4 x电容类元器件$ d9 ^1 \4 @0 O+ I8 f  Q- K* m
电类元器件失效的主要方式有击穿、机械损伤、电解液泄露等。
! D2 w3 {6 Q7 i) L电容出现击穿的原因主要有:1、介质存在缺陷、杂质和导电离子;' g- @: Y: o, q7 @- {: O, s
2、介质出现老化;. P1 V  D/ W& [
3、介质材料存在电、气隙击穿;* \5 f: E1 E+ Q; r7 U/ j
4、制造加工时介质有机械损伤;+ D# ^" P. [9 U& V
5、介质分子结构出现变化;
% R8 ?6 _6 m5 Z  L# A. k6、金属离子迁移构成导电沟道或边缘飞弧放电。' ?% q, J$ ?$ e0 w4 Z' s0 T: ]2 n
6 [9 c2 j- Q$ U
电容失效也可能是开路造成的,引出线与电容接触点氧化导致低电平开路,引出线与电极接触不良,电解电容器阳极引出金属箔由于机械折断等造成开路故障。此为,电容也可能因为电参数退化故障而导致失效,比如:电极材料金属离子出现迁移、材料金属化电极自愈效应、电极的电解腐化与化学腐化、潮湿、表面污染等都可能造成电容的电参数退化。  M3 d/ u/ y- a6 o: T2 ]/ \& J* X3 q

: w! P. j  S+ a1 h
8 Y/ e) q6 L( A( _# B! C! B电感类元器件
. F6 C1 q; Z- B. D9 e! |电感类元器件涉及到变压器、电感、滤波线圈、震荡线圈等。电感类元器件的大部分故障是外界因素导致的,比如:变压器的温度升高、负载短路使线圈经过的电流过大等,都会使线圈出现短路、短路以及击穿等故障。% G* c, q, M; x
在集成电路中,不论哪一部分出现问题,整体都无法正常运行,比如:电极短路、开路、机械磨损、可焊接性差等都会失效。失效主要分为彻底损坏和热稳定性不良等,热稳定性失效主要出现在高温或者低温,超出了器件的工作温度范围而失效。; [3 P% w' T( W( D* }) d3 \
% A- Z* ^2 i4 f6 P% ^
) H- _# \+ b8 H' ^' F; k
解决方法4 E+ B# i: D8 m- y/ X
那如何有效的找到失效的电子元器件,并更换或者修复问题呢?
1 M8 A( `3 C* E! m/ O' A在调试中,出现电路无法工作或工作不正常的问题时。首先通过动态观察法,就是将线路设备通电的情况下,听、看、摸、闻等方法对电子元器件的故障进行判断。比如:听设备是不是有异常的声音,仔细看电路内有没有冒烟、火花等情况;摸一摸元器件、电路有没有发烫的情况;闻一闻有没有焦糊等味道。也可通过万用表测量电路中通断情况,通过测量正常与不正常电路中各类值来判断。
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    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2023-1-28 13:11 | 只看该作者
    遇到失效状况先找原因

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    发表于 2023-10-29 15:51 | 只看该作者
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