微带线阻抗测试的问题

replace · 发表于 2022-12-29 13:46

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最近在测试一款产品的微带线阻抗时，厂家提供了两种测试方法
（1）TDR测试法
这种测试方法测试可以测试出一段连续的阻抗出来。但是我没看到有关于频率的概念在里面。请问这个有人清楚吗?
（2）smith圆阻抗发
这种测试方法只是可以测试某一个频率点的阻抗?不同频率点就有不同的smith圆图?

someone · 发表于 2022-12-29 14:50

TDR:Time-Domain Reflectometry ，通过时域方法来量测，肯定看不到频率了；Smith:通过频域的方法来量测，在Smith原图上应该体现为一段圆弧线。

nocturne · 发表于 2022-12-29 15:06

TDR是时域，但是也可以知道频率（因为 t＝1/f、f＝1/t）、TDR最早的应用可以推导至有线电视建设的时候，为了知道缆线断在哪里！
Smith是频域但是它所能看到的不只是阻抗这么简单，（因为 R±Jw、其中w＝2*pi*frequency)

purpose_857 · 发表于 2022-12-29 15:22

是没有直观的看到频率，不是和频率无关，另外精度的话，看你工作的频率多高了，10GHz以上，个人建议采用smith法。

Blah · 发表于 2022-12-30 10:58

purpose_857 发表于 2022-12-29 15:22, d7 X; j/ b- l9 T: H' }$ N
是没有直观的看到频率，不是和频率无关，另外精度的话，看你工作的频率多高了，10GHz以上，个人建议采用smi ...

是的10G是个分水岭，

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