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多层片状陶介电容器由陶瓷介质、端电极、金属电极三种材料构成，失效形式为金属电极和陶介之间层错，电气表现为受外力（如轻轻弯曲板子或用烙铁头碰一下）和温度冲击（如烙铁焊接、烘干快速升温）时电容时好时坏。
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多层片状陶介电容器具体不良可分为: 1、热击失效 2、扭曲破裂失效 3、原材失效三个大类
, O& p9 b% T. C- T! b" M6 Y. q; C: R热击失效模式： 热击失效的原理是：在制造多层陶瓷电容时，使用各种兼容材料会导致内部出现张力的不同热膨胀系数及导热率。 ; C: F, h4 h2 p/ [: L' U. x
当温度转变率过大时就容易出现因热击而破裂的现象，这种破裂往往从结构最弱及机械结构最集中时发生， 一般是在接近外露端接和中央陶瓷端接的界面处、产生最大机械张力的地方（一般在晶体最坚硬的四角），而热击则可能造成多种现象： 3 U p' h& o6 ?2 T5 W
第一种是显而易见的形如指甲狀或 U-形的裂縫，如图 1 # {8 S6 Z, M; e7 _
第二种裂缝也会由裸露在外的中央部份，或陶瓷/端接界面的下部开始，并随温度的转变， 或于组装进行时，顺着扭曲而蔓延开来，（见图 2）
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第三种裂缝也会由裸露在外的中央部份，或陶瓷/端接界面的下部开始，并随温度的转变， 或于组装进行时，顺着扭曲而蔓延开来（见图 3）
' W l6 ]0 u( D第一种形如指甲狀或 U-形的裂縫和第二种隐藏在内的微小裂缝，两者的区别只是后者所受的张力较小，而引致的裂缝也较轻微。第一种引起的破裂明显，一般可以在金相中测出，第二种只有在发展到一定程度后金相才可测。 扭曲破裂失效此种不良的可能性很多：按大类及表现可以分为两种： - l0 I* ~4 B( j7 T
第一种：SMT 阶段导致的破裂失效 当进行零件的取放尤其是 SMT 阶段零件取放时，取放的定中爪因为磨损、对位不准确， 倾斜等造成的。由定中爪集中起来的压力，会造成很大的压力或切断率，继而形成破裂 点。这些破裂现象一般为可见的表面裂缝，或 2 至 3 个电极间的内部破裂；表面破裂一般会沿着最强的压力线及陶瓷位移的方向。（见图 4）
5 j) a/ v5 d% J1 g, f# Y真空检拾头导致的损坏或破裂﹐一般会在芯片的 表面形成一个圆形或半月形的压痕面积﹐并带有 不圆滑的边缘。此外﹐这个半月形或圆形的裂缝直经也和吸头相吻合
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另一个由吸头所造成的损环﹐因拉力而造成的破 裂﹐裂缝会由组件中央的一边伸展到另一边﹐这 些裂缝可能会蔓延至组件的另一面﹐并且其粗糙的裂痕可能会令电容器的底部破损。 9 w7 S1 d) P k7 W: ~! }! {
第二种：SMT 之后生产阶段导致的破裂失效 电路板切割﹑测试﹑背面组件和连接器安装﹑及最后 组装时，若焊锡组件受到扭曲或在焊锡过程后把电路板 拉直，都有可能造成‘扭曲破裂’这类的损坏。
. Z( e7 F* M5 r5 B, |) k; R8 f在机械力作用下板材弯曲变形时，陶瓷的活动范围受端 位及焊点限制，破裂就会在陶瓷的端接界面处形成，这 种破裂会从形成的位置开始，从 45°角向端接蔓延开来。 原材失效 多层陶瓷电容器通常具有 2 大类类足以损害产品可靠性的基本可见内部缺陷：电极间失效及结合线破裂，燃烧破裂。这些缺陷都会造成电流过量，因而损害到组件的可靠性，详细说明如下： 1、电极间失效及结合线破裂主要由陶瓷的高空隙，或电介质层与相对电极间存在的空隙 引起，使电极间是电介质层裂开，成为潜伏性的漏电危机
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2、燃烧破裂的特性与电极垂直，且一般源自电极边缘或终端。假如显示出破裂是垂直的 话，则它们应是由燃烧所引起。
% w4 j0 r( w) S- N结论： 由热击所造成的破裂会由表面蔓延至组件内部，而过大的机械性张力所引起的损害，则可由组件表面或内部形成，这些破损均会以近乎 45°角的方向蔓延，至于原材失效，则会带来与内部电极垂直或平行的破裂。另外：热击破裂一般由一个端接蔓延至另一个端接﹐由取放机造成的破裂﹐则在端接下面出现多个破裂点﹐而因电路板扭曲而造成的损坏﹐通常则只有一个破裂点。
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发表于 2022-11-17 14:01
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