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PCB/PCBA金线键合失效分析

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  • TA的每日心情
    开心
    2022-12-27 15:07
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

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    1#
    发表于 2022-8-24 13:41 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    什么是PCB/PCBA金线键合0 t" E6 J. L; t
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    PCB板上的芯片(Chip on Board,COB)已经成为普及的封装技术。COB是指将裸芯片直接贴在PCB上,使用非常细小的金属引线分别与芯片和PCB焊盘引线检核而实现电气连接的一种技术,该技术也称为PCB/PCBA金线键合技术。由于金线具有优良的导电性、导热性、耐腐蚀性和耐氧化性,在微电子封装中常常使用金线作为引线键合的主要材料。
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    什么是PCB/PCBA金线键合失效# ?4 |  M7 d3 e7 P% J

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    PCB/PCBA金线键合常用的模式主要有球楔焊模式和楔焊模式。在拉力测试过程中,引线断裂形式通常包括球焊与焊盘分离、球焊端脖颈断开、金线断开、楔焊端颈缩点断开、楔焊与焊盘分离。当断裂表现为球焊与焊盘分离和楔焊与焊盘分离时,判定键合失效。即在键合拉力测试后,焊点从PCB焊盘处分离,则判定PCB/PCBA金线键合失效。

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    PCB/PCBA金线键合失效机理4 e& a; T) q' @# x: p6 ?7 s. I% N/ M

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    PCB/PCBA金线键合通常采用热压超声键合工艺,即在一定的键合时间内,在外加压力和超声振动作用下,引线与焊盘相互摩擦产生摩擦热,破坏、清除焊盘表面氧化膜,然后金线与焊盘表面紧密接触而形成微观焊点。随着焊点面积逐渐增大,界面间的微小空洞消失。同时,在高温作用下,金属原子发生相互扩散,从而形成可靠的宏观焊点。

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    PCB/PCBA金线键合失效分析方法: @8 ]0 H# D, J

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    外观检测:金相观察或者SEM分析
    失效模式确认:X射线测试厚度和XPS、微观形貌观察(SEM)、粗糙度测量
    污染物分析:元素分析(EDS)和FTIR光谱分析
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    PCB/PCBA金线键合失效影响因素有哪些2 t6 t7 u) r! Z
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    从引线键合的过程来看,影响键合效果的主要因素有键合参数(如压力、超声波电流和键合时间)、金线的有效接触面积、焊盘表面镀层质量、镀层粗糙程度、表面污染等。

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    该用户从未签到

    2#
    发表于 2022-8-25 09:40 | 只看该作者
    COB是指将裸芯片直接贴在PCB上,使用非常细小的金属引线分别与芯片和PCB焊盘引线检核而实现电气连接的一种技术
  • TA的每日心情
    开心
    2025-8-30 15:03
  • 签到天数: 1156 天

    [LV.10]以坛为家III

    3#
    发表于 2022-8-25 13:44 | 只看该作者
    不错不错,很是深度和独味,开尝一下
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