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什么是PCB/PCBA金线键合0 t" E6 J. L; t
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PCB板上的芯片(Chip on Board,COB)已经成为普及的封装技术。COB是指将裸芯片直接贴在PCB上,使用非常细小的金属引线分别与芯片和PCB焊盘引线检核而实现电气连接的一种技术,该技术也称为PCB/PCBA金线键合技术。由于金线具有优良的导电性、导热性、耐腐蚀性和耐氧化性,在微电子封装中常常使用金线作为引线键合的主要材料。 - i/ f5 N: B3 g
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什么是PCB/PCBA金线键合失效# ?4 | M7 d3 e7 P% J
/ I y1 S' w7 Q# SPCB/PCBA金线键合常用的模式主要有球楔焊模式和楔焊模式。在拉力测试过程中,引线断裂形式通常包括球焊与焊盘分离、球焊端脖颈断开、金线断开、楔焊端颈缩点断开、楔焊与焊盘分离。当断裂表现为球焊与焊盘分离和楔焊与焊盘分离时,判定键合失效。即在键合拉力测试后,焊点从PCB焊盘处分离,则判定PCB/PCBA金线键合失效。
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PCB/PCBA金线键合失效机理4 e& a; T) q' @# x: p6 ?7 s. I% N/ M
. }! E$ {9 ^4 x G9 NPCB/PCBA金线键合通常采用热压超声键合工艺,即在一定的键合时间内,在外加压力和超声振动作用下,引线与焊盘相互摩擦产生摩擦热,破坏、清除焊盘表面氧化膜,然后金线与焊盘表面紧密接触而形成微观焊点。随着焊点面积逐渐增大,界面间的微小空洞消失。同时,在高温作用下,金属原子发生相互扩散,从而形成可靠的宏观焊点。
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PCB/PCBA金线键合失效分析方法: @8 ]0 H# D, J
% ~( c7 S: T. f* K. X, U6 Q外观检测:金相观察或者SEM分析 失效模式确认:X射线测试厚度和XPS、微观形貌观察(SEM)、粗糙度测量 污染物分析:元素分析(EDS)和FTIR光谱分析 0 V3 ?6 ~( R* i/ A: a) Q( n
PCB/PCBA金线键合失效影响因素有哪些2 t6 t7 u) r! Z
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从引线键合的过程来看,影响键合效果的主要因素有键合参数(如压力、超声波电流和键合时间)、金线的有效接触面积、焊盘表面镀层质量、镀层粗糙程度、表面污染等。
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