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板面情况
% V; l- O7 s8 ]" i8 S! H" p8 `0 b某型号的平板电脑主板在组装完成后发现存在批次性功能失效问题, 经故障定位和电路分析, 确定部分导通孔存在阻值增大甚至开路的现象。对失效导通孔进行外观检查, 失效位置 PCB 板面未见失效机理分析腐蚀、 烧毁等异常现象。 . X+ @3 L' y& `2 `
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% `8 k1 `" A% X" L分析原因 - {% x- J$ S) V8 }$ `/ p; Z
对失效导通孔区域的分析结果表明: , A; u" z: n3 i
(1)失效导通孔及其附近位置导通孔均呈环形断裂。孔铜断裂位置铜层存在缺口, 最薄处的厚度仅约为 6 μm, 明 显 地 偏 薄 , 远 小 于 IPC -6012D 的 最 小 要 求(18 μm)。
( z S% H2 F" e3 I( C而孔壁断裂处铜层偏薄, 会使得其抗拉强度差, 在受热膨胀形变过程中发生断裂而导致导通孔不通;
$ O$ k1 n; q# E) N7 S: |& W(2)失效导通孔为油墨塞孔,孔口一端塞满绿油,一端没有塞满,未被阻焊膜覆盖的孔壁铜层普遍可见被咬蚀形成的凹坑, 孔壁铜层断裂位置亦呈现明显的咬蚀形貌, 且位于孔壁中间油墨未覆盖位置,而被阻焊膜覆盖的孔壁铜层则未发现咬蚀现象且铜层厚度均在 20 μm 以上。 1 n1 l# G' f5 R h
结合导通孔形貌特征及 PCB 制造工艺,可知在 PCB 在阻焊工艺之后表面处理过程中孔内残留微蚀液未被清洗干净,从而导致孔铜被咬蚀变薄;
2 C, f4 r, }8 q3)失效品板材热分析结果显示失效样品板材 α1-CTE 为 65.7×10-6/℃, α2-CTE 为 358.9×10-6/℃, PTE 为 5.51%, 均较高,超出了一般基材的规范上限, 对于一般的基材 Tg 温度为 110~150℃, IPC-4101C 规定 α1-CTE 上限 为 60×10-6/℃, α2-CTE 上限为 300×10-6/℃, PTE 上 限为 4.0%; , g7 R* k$ s! V
同时部分孔铜断裂位置也存在基材开裂现象,孔壁其他位置铜层也发现断裂界面能够吻合的裂纹,由此表明基材在焊接受热时膨胀较大 。 * A, Z" R2 s( C5 k/ I& H% c/ R/ N1 @ D7 L
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. t3 l& S: I& u E0 t2 d/ e2 k分析结果
! a8 x. H* ^5 A. t9 h% `8 m+ i孔壁铜层被咬蚀使得孔铜偏薄或开裂, 降低了孔铜的抗拉能力, 从而在焊接热应力的作用下导致完全断开, 咬蚀是由于PCB 制造工艺不良所导致的;
9 K _8 Z$ a9 h z8 l% E5 aPCB 的 Z 轴的热膨胀系数较高, 进一步地加剧了孔铜断裂现象的发生。
& H& o# m/ c: [8 q很多的 PCB 来料检验只简单地做了电路通断测试, 而未进行严格的批次性可靠性检验,类似孔铜被咬蚀和基材热膨胀系数偏大的问题必须通过切片和 TMA才能发现。 2 M& C# |2 j$ _9 Z& B2 m2 B
此次孔断失效为批次性失效, 在组装成成品主板后无法进行返修,给企业造成了很大的损失。因此,建立完善的 PCB 管控体系对于整机制造企业来说至关重要 ,为影响PCB可靠性的项目建立批次性检测体系,才能保证高质量的 PCB 来料, 从而制造出具有高可靠性的产品 。 5 b# n |) J/ Y' v6 C2 W
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