找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 222|回复: 3
打印 上一主题 下一主题

电子元器件失效分析-就选广电计量!

[复制链接]
  • TA的每日心情

    2019-11-20 15:01
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    跳转到指定楼层
    1#
    发表于 2021-12-10 17:58 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

    EDA365欢迎您登录!

    您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

    x
    电阻类元件失
    : d' C/ g! Z- W7 F2 W效分析
    0 m& x* ~$ M/ f+ \0 X% W$ N外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    # w* D. Y1 d8 k, L性分析,切片,SEM&EDS 等 ; H, m+ `1 R' C" k
    面议
    2 J' }1 P$ y" ^  F9 {3 P6 c金属膜电阻器、 片式固定电
    - i& N' F$ @: y8 |阻器、金属箔固定电阻器、线
    # K4 V" i5 x6 H+ k8 k: i5 v. @绕电阻器、电位器、热敏(温
    " {  y- _9 j: g  g6 {* K& b" \3 R! G7 B度传感) 电阻器
    0 a0 \8 A' m) H# {0 w" l. R& d2 / O# B& g9 L' j* s% D3 Q
    电容器元件失
    * K+ }8 ]5 H# ]效分析
    , \2 ]. l) a3 V* A外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 - l! t# `: U# }1 t' @
    性分析,切片,SEM&EDS 等
      u4 r3 D6 u0 b- \5 C4 y面议
    " F0 X: m2 ^! Q+ i陶瓷电容器、瓷片电容器、云 9 q) r$ H6 w" x
    母电容器、薄膜电容器、非固 2 \+ o9 p: h2 o% l4 Q0 t
    体电解质钽电容器等
      o5 h7 S  c$ q; \! `" Q  O3
    * c# W, g3 y' Z9 A: y: e, Q电感元件失效
    : P6 u( c' I9 v5 N: w分析
    , o/ J% k+ ^5 E2 e) K* ?外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 0 r- a5 u6 p9 P. m
    性分析,切片,SEM&EDS 等 * t5 U8 V# z0 E. z* T- v2 R
    面议 ! i6 X. l4 r! G* j& ^
    共模抑制电感、环形电感、晶 # T: a  f0 V, i& F. g, Q" _
    体谐振器、连接器 : g+ t; y; ?) _* J: M
    4 $ t( y/ T; s6 j# d/ v5 I
    机电类器件失
    / i3 Y% G" F# H5 R# m效分析 " u# ?* i' _7 [0 X% c+ j
    外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    ; p5 m2 Y4 X) v, U; U; l& X性分析,切片,SEM&EDS 等
    0 m  T7 @0 N+ E9 [% P面议 % ~3 _3 P4 L( V
    电磁继电器、固体继电器、接 ! ?3 a5 U% m( Q/ j1 L# _& U6 f' t
    口变压器、压力传感器、开关 * H7 t# k4 ^+ U1 F/ s" Q
    5
    ' Z4 ~, N( q: k) p光电类失效分
    . Z% y0 o5 I% k) Q
    1 ]/ @0 L; u6 w" l4 R( u外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    / A. i" N4 o0 A( |性分析,切片,SEM&EDS 等
    9 t5 }) ?$ l* V0 N0 O  w5 ~: s面议 - a" b4 z& H1 M5 Q0 ^: s0 _
    光耦、真空管、激光器
    : `' m, A0 w) d: y6 . b5 n  P$ m. I  M) J  g' k
    二极管、三极
    ) B2 H% b9 k8 E: L6 \- q管、MOS 管失 , W% [/ a5 K/ `7 P& V3 k
    效分析
    6 @, W% v# H, [+ D! p$ }外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
      x* `% O$ {6 t/ F  F0 ?性分析,切片,SEM&EDS 等
    8 b3 s# B9 E5 b0 M面议
    ) O/ i7 M; ~( n8 E2 Y) F9 N7 + j$ |9 l. W) o, h( O, s
    功率器件失效
    2 X  z: ^0 ~& d. f" U, X0 x分析 6 d4 ^0 L. i7 x
    外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    6 }% D8 |) ?. w9 ^# G性分析,开封、切片,SEM&EDS 等 , y0 b4 v% f: d! E3 w1 v. L& d
    面议
    ' E+ H- C9 y4 m0 ~3 R4 R/ ~IGBT、整流桥、可控/ r+ }7 m7 n4 h( r
    电子元器件失效分析-就选广电计量!.pdf (104.6 KB, 下载次数: 1) $ v/ z  e( L! ^7 p9 b. i
    ' p" {+ s5 t6 K! F+ M& [
    9 T6 q3 k# O6 Q

    " Q+ R, ~0 @  O* h/ X8 J

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2021-12-10 18:23 | 只看该作者
    X-RAY,电参数测试是常见的分析方法
  • TA的每日心情
    开心
    2025-7-18 15:39
  • 签到天数: 1131 天

    [LV.10]以坛为家III

    3#
    发表于 2021-12-15 12:48 | 只看该作者
    rare resource!!! excellent  professional  datas!!!  thanks for your sharing!!!
  • TA的每日心情
    开心
    2023-5-15 15:25
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-12-16 16:04 | 只看该作者
    电容的失效性要好好测,一个板子用的太多了
    $ @' |3 T. k0 K) I' f$ _
    您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

    本版积分规则

    关闭

    推荐内容上一条 /1 下一条

    EDA365公众号

    关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

    GMT+8, 2025-7-20 07:40 , Processed in 0.109375 second(s), 26 queries , Gzip On.

    深圳市墨知创新科技有限公司

    地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

    快速回复 返回顶部 返回列表