TA的每日心情 | 怒 2019-11-20 15:01 |
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电阻类元件失 & l# J1 k* l5 n% M3 j7 H. O
效分析
# u" r/ c. R0 `2 F, l外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 # E7 K% z, q! z" P# X, C
性分析,切片,SEM&EDS 等
7 I, C7 S8 r- c) e6 E2 U8 i2 u面议 * Z5 R2 `- {3 Q" j* v/ C
金属膜电阻器、 片式固定电
! d* E& d0 V$ M |" i阻器、金属箔固定电阻器、线 $ f4 F( z4 J4 i' H% X+ H5 l
绕电阻器、电位器、热敏(温
7 i; p0 Y# |4 k8 j0 E) l1 Y度传感) 电阻器 0 [6 q2 L* @ e" H2 r/ [% x
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1 C6 X3 M+ o1 X: D- N电容器元件失
4 Y0 d1 [: e. X1 A效分析 % u- K) L# a7 J8 ]
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
2 }9 T! M" H+ g! d7 R0 J2 p性分析,切片,SEM&EDS 等
8 ]8 G: N; y: h8 \& a面议 2 D4 w' G- _) |6 P9 a
陶瓷电容器、瓷片电容器、云
- a0 g- J4 i( Y& h* I9 W母电容器、薄膜电容器、非固 1 \9 o* R) @; v% y: ?
体电解质钽电容器等 ; Q' H$ h0 w- O# l, V
3 - p& y" `& `1 ?0 j, N! Y+ O4 z
电感元件失效 ; J, v' t4 z4 o2 t( X2 c
分析 , v" g( p) C: q- ]4 V8 N" v
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
/ L+ Y/ n/ P7 s7 U% n性分析,切片,SEM&EDS 等
& p3 z, k$ \8 U. q" o0 f面议
. k/ v$ ?& D9 D" \9 z8 [8 h共模抑制电感、环形电感、晶 " }& D O& }/ i2 M O5 M
体谐振器、连接器
4 j8 l' a- `1 }" q+ l5 P7 f" }- ~4
5 e O, M# ~( K机电类器件失 / ~+ a; s* H% u) B" A1 m
效分析 # s {1 j. Q( g# V$ O
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 3 `7 f5 R! {( \! M! d6 ^- k6 E+ S8 P
性分析,切片,SEM&EDS 等 $ ]4 f) q3 H! m
面议 , Z& b. X. [7 P- ^5 N, c' C9 ?
电磁继电器、固体继电器、接
1 P, R; Q3 |( t* Y! n! p口变压器、压力传感器、开关 # u& Y6 ~$ f2 w9 P# Z
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7 U! l. b9 H: E9 F- @* L6 N$ w光电类失效分 ! O& I$ S: P, J- N( z) x
析 2 Y* t1 z D6 \9 c" W
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
" h+ i" R7 y) t性分析,切片,SEM&EDS 等
; ?8 E, m$ g, v+ k5 T/ X3 |面议 8 [$ e! K F \# m2 U( X7 n$ s7 ~
光耦、真空管、激光器 ) ^/ q% m& ~" g2 v) U# h
6
& A8 w3 P. v$ q5 k1 V: t/ b F0 c二极管、三极
" P: ^$ _' X) m5 x管、MOS 管失 + d& l5 I6 ?3 w6 c; }- t
效分析 & \; Z. A- t$ i: D9 z
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 % Q+ P3 B! D, J4 t* Q) A/ n+ }2 ~0 {/ b
性分析,切片,SEM&EDS 等 / W, z# `: M$ j" r: i. f
面议
' e" S$ t. F' ]# n0 G. }6 |/ f, G7 * o4 r* x- \ |* T* ?
功率器件失效 3 t) q) `7 n, P
分析
% b9 R% ?0 R/ |" q9 o外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 8 b- F- m6 w6 c' b
性分析,开封、切片,SEM&EDS 等 2 e1 W% {0 }; t* o- j& B% q& o
面议
( ?, u' G% [1 f M8 ?IGBT、整流桥、可控! l. o, v; O7 ~. ?5 |+ m$ K. E
电子元器件失效分析-就选广电计量!.pdf
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