基于加速老化试验的失效分析对光电器件可靠性的影响

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基于加速老化试验的失效分析对光电器件可靠性的影响
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        摘 要：本文介绍了通信用光电器件的加速老化试验，以及加速老化试验对通信用光电器件可靠性评估中的应用，给出了加速老化试验的基本概念、试验方法和试验流程，并分析了加速老化试验对通信用光电器件的可靠性影响以及对器件寿命的预测。为通信用光电器件在开发、生产和可靠性设计提供依据。

        关键词：可靠性 加速老化试验 失效分析 光电器件 试验方法 试验流程

        中图分类号：TN306；TN406 文献标识码：A文章编号：1672-3791（2013）06（b）-0026-02

        The failureanalysis of the accelerated aging test of the influence on the photoelectricdevices based on Reliability

        YangChouchou LiuQiang

        （Office of School of information science andengineering，Yanshan University，Qinhuangdao Hebei，066004，China）

        Abstract：This paper introduces the communication devices andthe application of the accelerated aging test，acceleratedaging test of communication for optoelectronic devices in reliabilityevaluation，test methodand test process accelerated aging test is given，andthe analysis of the accelerated aging test of communication reliability ofoptoelectronic devices and forecast of the life of the device. As thecommunication for optoelectronic devices in the development，production and provide a basis for reliability design.

        KeyWords：Reliability；Accelerated aging test；Failureanalysis；Optoelectronicdevices；Testmethods；Testprocedure

        通信用光电器件的可靠性问题，主要涉及由器件设计、制备、封装等因素决定的固有可靠性和由用户使用水平决定的使用可靠性两方面内容，因此器件可靠性工作也就相应地涉及选、用两方面的问题。光电器件可靠性的工作目的，主要是选择可靠的器件和可靠地使用器件。而要达到这个目标，需要对器件进行应力试验获取试验数据，并通过试验数据对器件的可靠性进行分析。

        目前在可靠性评估中用的最多的试验手段是加速老化试验，在加速老化过程中应用的最基本的环境应力是温度，应力对性能参数的影响假定遵循Arrhenius关系。在试验过程中，选定的参数要定期监测直到退化超过寿命终止阈值或规定的小时数已经达到。在试验结束时仍然没有失效的器件，观察到的任何退化可被外推以提供当超过寿命终止阈值试验无限期地进行的估计。这些估计的时间和其它样品超过寿命终止阈值的时间一起可用于与器件可靠性相关的各种计算。

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2021-11-29 15:20 上传

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这些光电器件的可靠性将影响到整个传输系统，因此光电器件可靠性的高低显得尤为重要。