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一个高质量开关电源效率高达95%,而开关电源的损耗大部分来自开关器件(MOSFET和二极管),所以正确的测量开关器件的损耗,对于效率分析是非常关键的。那我们该如何准确测量开关损耗呢?
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% P6 Z z! j4 v6 k1 L2 ?一、开关损耗 n& {6 X' O) ~3 @
$ v) h- u9 g6 g# W6 N' m+ H由于开关管是非理想型器件,其工作过程可划分为四种状态,如图1所示。“导通状态”表示开关管处于导通状态;“关闭状态”表示开关管处于关闭状态;“导通过程”是指开关管从关闭转换成导通状态;“关闭过程”指开关管从导通转换成关闭状态。一般来说,主要的能量损耗体现在“导通过程”和“关闭过程”,小部分能量体现在“导通状态”,而“关闭状态”的损耗很小几乎为0,可以忽略不计。8 H% W1 H2 O9 {. h9 c
5 b9 n( v& X3 i' @8 w8 D+ V( b( y$ W( I% L
图1 开关管四种状态划分
7 O2 Y6 P$ @$ x" E! _) B9 A
8 I6 s5 x2 c6 E% s- h) Z实际的测量波形图一般如图2示。4 K& Z& a4 |* j& v
7 I, K% X+ `, T' U
/ \, ` u( s; e: q# W
图2 开关管实际功率损耗测试2 N$ @; h. N6 M' {) ^$ L0 |
+ y7 J$ ^4 Y. v* G0 T% z$ j. g
二、导通过程损耗5 u; }( \2 n! o% n7 L6 s3 T
0 H, m- C/ C! e4 T. B晶体管开关电路在转换过程中消耗的能量通常会很大,因为电路寄生信号会阻止设备立即开关,该状态的电压与电流处于交变的状态,因此很难直接计算功耗,以往的做法,将电压与电流认为是线性的,这样可以通过求三角形的面积来粗略计算损耗,但这是不够准确的。对于数字示波器来说,通过都会提供高级数学运算功能,因此可以使用下面的公式计算导通过程的损耗。1 L4 F5 S2 I8 j* A$ ^, V
. H8 [8 G# J7 ]7 z, q, D. E
1 H% ]. ~5 z0 G8 O y M0 ~Eon表示导通过程的损耗能量
! p, Q9 u4 D2 ?Pon表示导通过程的平均损耗功率(有功功率)- [9 Q7 k. \2 O$ @0 T9 ?8 Z, K
Vds、Id分别表示瞬时电压和电流" _* o0 r7 C: T/ s! U
Ts表示开关周期
: j5 N2 q/ P$ C2 Q/ ^ B7 _ Yt0、t1表示导通过程的开始时间与结束时间, a9 w7 [% q4 X2 M7 d5 p1 J6 n J! Q$ I
7 j' ^" H& G7 z% G
关闭过程损耗
$ h/ ^, A c( y! g. h5 r
! j6 \* M5 @# g2 F% V9 M* r关闭过程损耗与导通过程损耗计算方法相同,区别是积分的开始与结束时间不同。
, X$ W" B+ V; I7 ?( {! w6 X, [3 x' |9 ], ]0 B
Eoff表示关闭过程的损耗能量
$ k* J4 c3 T3 l% }8 K1 I4 E& l# WPoff表示关闭过程的平均损耗功率(有功功率)
1 n. V8 r# R% F4 `) EVds、Id分别表示瞬时电压和电流 i( Y1 B- |9 k
Ts表示开关周期
9 I0 O% K, g2 J3 ?8 q& Dt2、t3表示关闭过程的开始时间与结束时间
- O M$ P& Z) N5 r9 V( J# D T8 b/ H) c' y) Y! E2 ?4 X6 F9 x! y
三、导通损耗
3 b5 v* a+ h t; `$ ]7 P L5 d
& t9 X3 t0 S- g) U9 k7 U. V导通状态下,开关管通常会流过很大的电流,但开关管的导通电阻很小,通常是毫欧级别,所以导通状态下损耗能量相对来说是比较少的,但亦不能忽略。使用示波器测量导通损耗,不建议使用电压乘电流的积分的来计算,因为示波器无法准确测量导通时微小电压。举个例子,开关管通常关闭时电压为500V,导通时为100mV,假设示波器的精度为±1‰(这是个非常牛的指标),最小测量精度为±500mV,要准确测量100mV是不可能的,甚至有可能测出来的电压是负的(100mV-500mV)。4 V# M3 y, |4 d! Z: S
9 _, L* P. O( `# l$ r+ R
由于导通时的微小电压,无法准确测量,所以使用电压乘电流的积分的方法计算的能量损耗误差会很大。相反,导通时电流是很大的,所以能测量准确,因此可以使用电流与导通电阻来计算损耗,如下面公式:
5 n: i2 `1 T2 E) q# {5 `! N" f5 J( ]) h f4 P& ?3 I+ k: ^4 D
t7 `- ?! e$ D9 C
) g/ N$ ?5 G( o0 P( J/ `3 VEcond表示导通状态的损耗能量
/ S5 R; p' E- M9 BPcond表示导通状态的平均损耗功率(有功功率)
- q& w9 h" a' D( G0 D, H$ ]Id分别表示瞬时电流
0 ^7 m! i% b* s P7 \1 w2 V0 ?, A; Z. mRds(on)表示开关管的导通电阻,在开关管会给出该指标,如图3所示9 c. x. z0 Q( k
Ts表示开关周期: _4 R5 b+ P2 g, A8 l+ V, N
t1、t2表示导通状态的开始时间与结束时间# P1 E$ l, y5 \! Y9 O' j- t
" o, P3 u# p$ B- \9 `- q" y8 y* f0 r8 L+ _3 U/ x3 I/ P: z6 P5 y) e% q
图3 导通电阻与电流的关系
* |- I- K, F6 d% i9 o5 T' z' Y7 p# t& [" B( ^
四、开关损耗8 I& U' `- z e- k3 p
: D( h( }. j- _/ q' u7 z3 q. E
开关损耗指的是总体的能量损耗,由导通过程损耗、关闭过程损耗、导通损耗组成,使用下面公式计算:* H8 ~7 n7 F" F9 I( m7 _
' s: X; e* _" S, Y. V% U i# M9 \3 h1 p0 b' C, V7 O! L- j# C) n& Z! h
五、开关损耗分析插件
# q7 j: S7 Q: B: [0 J3 Y5 l, f) b% n
高端示波器通常亦集成了开关损耗分析插件,由于导通状态电压测量不准确,所以导通状态的计算公式是可以修改的,主要有三种:
2 a5 b7 e5 _( i5 u# z* U. v9 ?- q) l, s2 Q, X7 }% j
● UI,U和I均为测量值" B$ G3 c1 q0 w* K: x% ~/ H1 q
● I2R,I为测量值,R为导通电阻,由用户输入Rds(on)- g4 i2 Q5 @ h+ r; _+ O3 i2 I
● UceI,I为测量值,Uce为用户输入的电压值,用于弥补电压电压测不准的问题。
2 \% C0 d$ G! s: Z一般建议使用I2R的公式,下图是ZDS4000 Plus的开关损耗测试图。
* W- P9 @1 Q' v4 v. {5 Q7 s* ]4 V: e' h$ a6 r3 K! y
( ^3 g# S: M- X; [( j3 z6 _7 B
图4 开关损耗测试结果图 f7 q$ d* j$ t$ D5 Y% }* ]
2 q8 l- s+ ]: `
六、总结# z. R- x; `% C1 F
$ X$ y5 W) D) v1 G' v( E0 l开关损耗测试对于器件评估非常关键,通过专业的电源分析插件,可以快速有效的对器件的功率损耗进行评估,相对于手动分析来说,更加简单方便。对于MOSFET来说,I2R的导通损耗计算公式是最好的选择。
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