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坏性物理分析(DPA),可用对电子元器件设计、结构、材料和质量等进行测定,并判断其是否达到设计使用标准。其具体破坏性物理分析,可以完成对电子元器件的全面分析,并实施一系列检验,其对电子元器件应用的作用毋庸置疑。
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1 电子元器件破坏性物理分析 ! J" t: G2 ~+ \) C
电子元器件破坏性分析是用于分析具体的电子元器的功能状态情况,其最先是美国开始使用。电子元器件破坏性物理分析的重点在于破坏性物理分析,展开对电子元器件的解剖,分析其内部元素,并将其具体结构情况与设计进行对比,分析其内部结构实际情况与设计是否符合,材料情况与设计是否匹配,再确定电子元器件的功能是否达到设计标准。具体的电子元器件破坏性分析的主要目的,就是确定电子元器件功能是否满足设计要求,通过具体检测项目与设计的对比,可完成对电子元器件的质量判断。电子元器件破坏性分析可用于电子元器件产业分析产品合格率,并为其工艺改进奠定基础。
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2 \" f6 S6 x0 t" ]2 x 2 电子元器件破坏性分析的应用效果 : l8 m/ h4 C- B# `
近年来,我国对电子元器件破坏性分析的展开程度逐渐加深,其应用效果也十分明显,具体应用效果如下:, y( O- p* ^+ X
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2.1 半导体器件质量合格率明显提升
7 e3 b; o2 I/ X# m3 X/ e/ r 半导体材料是现代电子产品的重要组成部分,具有极高的应用价值。但是,在实际的生产中,半导体器件的质量问题较为突出,借助电子元器件破坏性分析的运用,全面改善了半导体器件质量问题,整体提升了半导体器件的合格率,效果显著。即使在一些个别批次出现问题,也不会发生类似0键合、0拉克等的质量问题。
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2.2 电子元器件质量问题的造成原因发现明显 5 d/ ]* S* X3 @5 F7 Y) B
电子元器件的质量问题是影响电子元器件应用的关键,在应用电子元器件破坏性分析后,可完成对电子元器件的全面检测。通过电子元器件破坏性分析后,得到电气元器件不合格率主要以内部不合格较高,接下来是以芯片剪切不合,最后为检核强度,这三种问题,是影响电子元器件的关键问题,均可借助电子元器件破坏性分析得到,故此,需采取针对性的措施,降低其对电子元器件的干扰。
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2.3 可为器件改进提供依据,改善整体质量 , `. P0 a1 F# T+ C0 R
由电子元器件破坏性分析可获取详细的电子元器件质量问题因素,如上述问题研究分析的基础上,得到详细的电子元器件问题信息,电子元器件生产企业,根据这些获取的信息,可完成对电子元器件的整体改进,进而规避同类问题的发生。在电子元器件破坏性分析应用后,对提升电子元器件生产企业的效率和合格率具有积极的推进作用。 / R) ?1 ]$ J G9 \: L" D
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3 电子元器件破坏性分析的要项
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3.1 具体要项 : N/ p! B: c+ U
电子元器件破坏性分析在具体应用,为保障应用效果,需对其具体要项展开研究,内容如下:
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$ B! E8 H8 C2 w3 A0 l 3.1.1 用户委托形式展开
! _2 c" Y+ k' Q A, L5 `: C/ p 通常情况下,电子元器件破坏性分析是由具有专业技能人员实施,电子元器件生产企业,以委托的形式,促使相关技术人员展开电子元器件破坏性分析。针对委托形式,相关技术人员,在严格按照规范标准的基础上,在合同中根据澄清说明、裁定标准,对具体分析格进行定制。具体分析中,展开对电子元器件厂商提供的样品解剖,技这一过程中,必须严格按照操作规范展开,解剖前,展开对电子元器件的常规外观检查,确认合格后,方可进行下一步检测。 % E; l( `& K* R" r- s9 v# T
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3.1.2 电子元器件破坏性分析展开时机 : }% o4 Z; z& a' t. L. ?8 G/ ?
该工作是在明确标准下展开,且其对展开时机具有一定的要求。最佳时机为产品出厂前、产品购置筛选等,这些时机的电子元器件破坏性分析可排除外界因素的影响,进而保障电子元器件破坏性物理分析效果。
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" l( l2 u4 {7 b" o 3.1.3 抽样科学性 {; G t- M- C: n* c0 K0 T" \
电子元器件破坏性分析的样品需要具有全面的代表性,如果样品缺乏代表性,就会导致电子元器件破坏性分析结果不具代表性,严重影响产品质量。故此,在电子元器件抽样过程,必须保持电子元器件具有良好的代表性,可将整体电子元器件的情况进行表述。 & K0 e _ \! l8 b; R
# s7 R$ |) P c8 v0 }( u, F! I z 3.2 电子元器件破坏物理分析实例
" y) C, V g2 C0 z 现本文以RJK型有质量等级的薄膜固定电阻器为破坏物理分析的对象 7 S3 ]: C3 O' A5 q: X4 C4 Z+ N
(1)确定具体执行标准;
+ f3 b& A" S0 c( a- M' q: Q (2)报告封面进行编辑,报告封面包括具体电子元器件的型号,单位名称、编号、日期和结论等内容;
3 \5 @2 t- V9 C3 ^) k2 A$ g (3)报告正文,正文由概要、破坏物理学分析情况等内容,并将实验项目,电阻器编号信息,包括项目的检验结果、参数等数据信息,促使报告结果使用者能够清晰得到目标信息; 6 _0 P$ w% g$ a$ Y. ?* z
(4)记录情况,择取规范化的表格,记录进行时间、数据、提供照片等;
) N" z( F5 j% Y! p (5)按照所择取的规范内容,展开有效的电阻元器件抽样。
" r. V* I+ B. t 按照上述各要项及具体内容,可顺利完成电子元器件破坏性物理分析,从而满足航空、航天等众多行业对电子元器件的高可靠性的要求,作用明显。
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4 结束语
, d' G& w5 {- o; b. ~0 e7 O( @ 电子元器件是电子产品的组成部分,受电子元器件质量的影响,电子产品的质量与性能也会发生变化。针对这种情况,为改善电子产品合格率与维护效果,可借助电子元器件破坏性分析,解剖电子元器件,并与设计进行对比,继而得到检测结果。根据电子元器件破坏性分析可完成对电子元器件整体性能的提升,推动相关产业发展。
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