找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 381|回复: 4
打印 上一主题 下一主题

SMD塑封半导体器件失效分析方法及机理分析

[复制链接]

该用户从未签到

跳转到指定楼层
1#
发表于 2021-11-13 16:59 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
& C. G% d. e% l; M5 ?
附件: SMD塑封半导体器件失效分析方法及机理分析.zip (169.09 KB, 下载次数: 2)
* p7 W9 I' S: |) @8 r3 u2 i/ o1 ~

该用户从未签到

2#
发表于 2021-11-13 17:14 | 只看该作者
故障分析的最终目的是要准确确定故障的起因

该用户从未签到

3#
发表于 2021-11-13 17:21 | 只看该作者
划片:碎片,割裂,缺角

该用户从未签到

5#
发表于 2021-12-22 18:35 | 只看该作者
看着资料还不错             ; i+ r& d4 Y$ K6 y+ g1 S0 U+ V
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

推荐内容上一条 /1 下一条

EDA365公众号

关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

GMT+8, 2025-9-7 20:18 , Processed in 0.109375 second(s), 26 queries , Gzip On.

深圳市墨知创新科技有限公司

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

快速回复 返回顶部 返回列表