TA的每日心情 | 怒 2019-11-20 15:01 |
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元器件失效分析的几个关键点$ a& i( ~' V1 O2 l6 G6 l
器件失效会存在于产品的整个生命周期,如果缺乏对各个阶段失效信
* G( W. J& E- t5 b息及失效器件的收集,失效分析工作将失去必要的物质基础。因此,开展失效
' V3 ]" o! k$ w) S分析,必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制
, n( N8 i# n7 v& W% h度。5 T# m0 z" H& D' e9 K. ~! f/ f
失效预警及启动分析机制: T* X9 _; n' P4 u0 L
失效分析虽然重要,但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻
% Q+ ^# O- V0 ^! y% F底地分析。在产品生命周期内,器件失效具有明显的阶段性特点,不同阶段失! u$ v$ l0 N, s! |- m9 K
效的原因也有所不同,因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而
7 c( \' J# u* p实际操作中,应根据具体情况来灵活处理,根据需要决定是否启动失效分析。
* w" Y* C* Y2 n2 G5 Y; [开发阶段失效数量少,但相对的失效率很高,而且设计使用问题、新器
( V* ]: \' @- o9 J% x/ F5 p件质量问题相对较多。在该阶段发现问题,更改成本也较低。因此应适当降低
* R$ s- r N4 u y预警门限,加大失效分析的覆盖面。
W: r" e# d; k0 c( n1 N生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD 问题、测试过& u+ E L# p7 |; Q# d1 Z
应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题,预警门限相) d- _/ j; s0 I" Q* j
对较高. p, L) `5 e3 ?9 K0 ]
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