TA的每日心情 | 怒 2019-11-20 15:01 |
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元器件失效分析的几个关键点* z' R5 L$ `" q0 h8 r( \( r% g
器件失效会存在于产品的整个生命周期,如果缺乏对各个阶段失效信4 o% d, J& W! |: z! z( p% f% @% t
息及失效器件的收集,失效分析工作将失去必要的物质基础。因此,开展失效" _. J' O& X, Z+ ~4 }9 e' R
分析,必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制
" h) @# I! h% h! b度。
! {1 p9 S! \2 a+ ^# [9 o! `失效预警及启动分析机制- ]2 _' N# X" u1 w
失效分析虽然重要,但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻) W" l( M. p" P( H! Z8 Z
底地分析。在产品生命周期内,器件失效具有明显的阶段性特点,不同阶段失
( D2 b0 u9 a+ K效的原因也有所不同,因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而
; [6 @! X+ Y9 T- d8 ?1 w+ m实际操作中,应根据具体情况来灵活处理,根据需要决定是否启动失效分析。
3 _ y, u3 H5 a3 q9 @开发阶段失效数量少,但相对的失效率很高,而且设计使用问题、新器
$ ~( ^* Q/ ?% w3 V件质量问题相对较多。在该阶段发现问题,更改成本也较低。因此应适当降低9 H/ d3 ~. B, q8 D, z V# `
预警门限,加大失效分析的覆盖面。
" {3 K4 \( G) O x. ^! [# O生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD 问题、测试过' W. f1 u! O9 G; m
应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题,预警门限相
6 A4 N8 N+ M g6 g1 \对较高& V2 E& ?7 p6 z: ^+ i
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' n2 C& b* }8 y1 `5 [附件:
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