TA的每日心情 | 怒 2019-11-20 15:01 |
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元器件失效分析的几个关键点
( e: h2 M; ]; V& y/ _4 N器件失效会存在于产品的整个生命周期,如果缺乏对各个阶段失效信
4 w) s+ v& [! o* F: @息及失效器件的收集,失效分析工作将失去必要的物质基础。因此,开展失效
: o* Y/ T }" ?) R; f! J" t8 `分析,必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制
; j4 D6 F3 `" g9 ?& ~5 M) P6 R( i度。; O! m, O, e( R$ ~" B1 i
失效预警及启动分析机制. }8 p3 v2 f6 b
失效分析虽然重要,但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻' Q* [+ M9 Z V" F7 |( `
底地分析。在产品生命周期内,器件失效具有明显的阶段性特点,不同阶段失: p$ P$ r+ G$ m( h. o4 w
效的原因也有所不同,因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而' m% O* S; s! p0 |% v
实际操作中,应根据具体情况来灵活处理,根据需要决定是否启动失效分析。( d9 ]& U! H( w" x8 P/ X- K8 n5 [
开发阶段失效数量少,但相对的失效率很高,而且设计使用问题、新器$ q/ u; z( d( C& i7 B" P
件质量问题相对较多。在该阶段发现问题,更改成本也较低。因此应适当降低7 C1 X; n @4 V7 O! k W
预警门限,加大失效分析的覆盖面。
) [( G* N& o' P( A; z生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD 问题、测试过) V1 V# m: i i* o$ f8 g/ L+ x
应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题,预警门限相
( P9 G( N" p* g+ K/ Z! B6 G# G' Z对较高. b% M: f" |8 J9 y* W/ ?5 ?
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