TA的每日心情 | 怒
2019-11-20 15:01 |
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元器件失效分析的几个关键点. C; V# d4 F8 |( `% k& c5 e) ?
器件失效会存在于产品的整个生命周期，如果缺乏对各个阶段失效信
# ? u+ F% Q+ |: v息及失效器件的收集，失效分析工作将失去必要的物质基础。因此，开展失效, {3 E9 C- `- d% W" x4 g
分析，必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制7 H- t0 \( b- N+ V- z2 c0 h" j
度。# X, {; p% l, }: D% T' O1 \. F% l: @
失效预警及启动分析机制
) A6 M- v G5 U1 }2 ]( {失效分析虽然重要，但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻; b, C- l) f; A* f1 N" ?' h
底地分析。在产品生命周期内，器件失效具有明显的阶段性特点，不同阶段失
7 a% C9 t: Z6 `' t) g$ L- c$ u效的原因也有所不同，因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而
8 M' v, }% |. R实际操作中，应根据具体情况来灵活处理，根据需要决定是否启动失效分析。$ l: ^2 e( p1 e. L# k
开发阶段失效数量少，但相对的失效率很高，而且设计使用问题、新器
1 B* P4 i, ~8 ~; _8 q, |件质量问题相对较多。在该阶段发现问题，更改成本也较低。因此应适当降低+ O+ T5 e: ~0 S/ ]& e
预警门限，加大失效分析的覆盖面。 B, `4 H% D* z! h
生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD 问题、测试过
! N' [$ `0 X/ n5 ~( x4 m$ K应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题，预警门限相
& P! Z& P3 w( F- P; f1 R对较高. Q" Z: r5 Y4 Z5 h# g$ T
) Z2 k9 y6 s1 Z% J2 H, M( g
: J2 g/ P) Y) z; j% f& U2 u0 I附件：
元器件失效分析的几个关键点.pdf
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发表于 2021-10-21 14:50
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楼主
发表于 2021-10-22 09:28
