电子元器件失效分析技术

刘强633

引起参数漂移的主要原因：
: |) P. ]5 W. P) \; v封装内水汽凝结、介质的离子粘污、欧姆接触退化、金属电迁移、辐射损伤
7 j/ ~6 k0 j2 T+ C3 ?7 g+ t例：
Pad点处无钝化层，有水汽的话，会导致短路，水汽蒸发后又恢复绝缘性，表现为工作时参数不稳定
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guanshen

失效分析是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及，它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。

瞪郜望源_21

不错不错，写的很有深度，很有参研价值，学下