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光触发电子测压仪可靠性设计及分析

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发表于 2021-10-11 13:26 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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摘 要院针对光触发电子测压仪在多点测试过程中容易受火炮膛内复杂环境渊高温尧高压尧强电磁冤的影响等问题袁通' {. _5 k1 f) i
过设计合理的光窗结构袁增强测压仪外壳的密封性能和整体强度曰采取在光窗处附着一层电磁屏蔽薄膜的措施袁降低! W, a7 p6 T& Z+ s" x$ e4 l
来自火炮发射时产生的电磁干扰遥 在模拟复杂条件下袁采用有限元分析软件对改进后的测压仪光窗及壳体进行强度
8 w, s% p( o0 G. u/ y* X仿真袁同时对壳体的电磁屏蔽性能进行分析遥 仿真结果表明院改进后的光触发电子测压仪壳体满足膛压测试要求袁电% E! {% N7 I  |' B
磁屏蔽性能得到进一步改善遥 通过实验测试袁验证光触发结构设计的合理性和有效性袁达到系统的设计要求遥. ]* R4 C4 U+ U  k5 V# {, c7 n
关键词院激光触发曰可靠性设计曰仿真曰电磁屏蔽' M2 H. S$ D8 s1 ?

) N4 c/ r4 L! z0 a! b( R: r* d  _1 @; i3 x! r8 v/ [

: G. m$ _! r4 O7 n2 n附件: 光触发电子测压仪可靠性设计及分析.pdf (1.2 MB, 下载次数: 3) $ E- \2 d0 j2 I0 N  m9 Q* D8 _  t% E
( U6 C7 o0 P' F5 O% `

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发表于 2021-10-11 16:45 | 只看该作者
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