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微电子器件可靠性的失效分析

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发表于 2021-10-9 10:08 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本次课主要内容:. {& F8 |* F* Y1 u1 e  E9 b
$ \0 }- O% P( p, i: d
第四章 失效分析5 ^! q# b! q0 ^6 W: [  J2 f9 i# o$ ~( l
4.1 失效模式与失效机理
# ?  N2 I+ R) P4.2 失效模型0 Q- a: B2 P/ p0 s* e
4.3 失效分析的内容与程序
5 e0 u8 \1 i. P/ [; E) k4.4 微分析的物理基础- ^5 \! ^# N3 r$ I! z

& w; k+ P# H: `' h补充材料:失效分析图片( _/ Y' Z5 Z1 |" L% I' j8 K; W
- b+ B) m' N8 r' |) F1 c9 R9 f7 x
本次课要点:' }9 V$ I0 h* Q8 Q
1、失效模式与失效机理定义区别
" |  I/ w/ f$ n3 \% ^" ~+ Z  Z2、了解几种失效模型;# X8 _& p1 m* j& N8 x2 j
3、掌握失效分析基本原则程序;4 R- Y7 r% ?( q  J3 i
4、了解微分析技术的物理基础。  i2 Y+ g4 E( Z3 T

# P' B5 t" ]0 p6 C1 S附件: 微电子器件可靠性的失效分析.zip (6.16 MB, 下载次数: 1) , v8 w* ^2 w7 n% O2 P; ?7 l7 i! }
& O4 C1 P3 X- n  q8 b

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2#
 楼主| 发表于 2021-10-9 10:48 | 只看该作者
串联模型——绳子从最细处断
2 g9 ~5 M+ g- V0 J: _  Z7 `# h. l这个模型很重要

该用户从未签到

3#
发表于 2021-10-9 10:49 | 只看该作者
有的失效可恢复(如雪崩击穿),有的不可恢复(如ESD),不可恢复的每次损伤都有影响,累积起来最终导致器件失效。* c; `9 V, n/ Z* ^3 }+ [6 p
步进应力和序进应力试验就是以这种模型为依据。
7 Z; |; K- D/ [      (应力不增加额外的失效模式)
1 w& d; J( n$ s0 @: _
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    2023-5-15 15:25
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-10-9 13:57 | 只看该作者
    先做外部分析,后做内部(解剖)分析
  • TA的每日心情
    开心
    2025-9-6 15:02
  • 签到天数: 1162 天

    [LV.10]以坛为家III

    5#
    发表于 2021-10-9 15:06 | 只看该作者
    不错不错,分析的很是到位,内容全面丰富,很有指导和实用性,学习下
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