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微电子器件可靠性的失效分析

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发表于 2021-10-9 10:08 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本次课主要内容:! X/ b/ b' ^' m3 N, A/ C
) N" ^5 O$ V, q2 ~& W" O2 J( W" C
第四章 失效分析' y4 `( Q: u# o; q! S
4.1 失效模式与失效机理
1 y5 l1 h" B: g7 I3 }8 c4.2 失效模型
* G" T3 \: o* x$ @% `7 t7 v4.3 失效分析的内容与程序) ?! Z; K4 z8 ^' g5 C( G. M7 p
4.4 微分析的物理基础
2 v0 S- l1 i4 p5 `* _) o* A# U+ b8 s
+ ^& K5 b6 q$ p# j6 g2 N; M9 n补充材料:失效分析图片& @: R) D2 F/ D: ~# o" Z
3 g  z+ v1 r) d
本次课要点:3 Q9 K6 W1 u$ y6 N3 Q9 o
1、失效模式与失效机理定义区别7 M, U# d8 g6 }7 @9 Z# l
2、了解几种失效模型;& U* l4 h" |' N3 _! N
3、掌握失效分析基本原则程序;. H$ F8 x  I$ J* r" C, v0 s
4、了解微分析技术的物理基础。
: |/ b2 d2 r) M1 ?3 s  E! M$ V; u6 d, _" L' d
附件: 微电子器件可靠性的失效分析.zip (6.16 MB, 下载次数: 1)
; |) ^6 K% `4 B/ G* ^6 O$ F2 r0 I

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2#
 楼主| 发表于 2021-10-9 10:48 | 只看该作者
串联模型——绳子从最细处断
" P2 m! b! ~+ b/ w3 g: D& n这个模型很重要

该用户从未签到

3#
发表于 2021-10-9 10:49 | 只看该作者
有的失效可恢复(如雪崩击穿),有的不可恢复(如ESD),不可恢复的每次损伤都有影响,累积起来最终导致器件失效。
7 e1 W- P4 D9 Z# Z& n& r; o步进应力和序进应力试验就是以这种模型为依据。3 h( k8 s- G! K' {; q( V0 C$ y9 }
      (应力不增加额外的失效模式), ~6 Q. |" M" Y! D; s7 `) B: n
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    2023-5-15 15:25
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-10-9 13:57 | 只看该作者
    先做外部分析,后做内部(解剖)分析
  • TA的每日心情
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    2025-6-7 15:54
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    [LV.10]以坛为家III

    5#
    发表于 2021-10-9 15:06 | 只看该作者
    不错不错,分析的很是到位,内容全面丰富,很有指导和实用性,学习下
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