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EDA365电子论坛网»电子社区 › 研发供应链讨论 › 失效分析&可靠性 › 电子元器件失效性分析
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电子元器件失效性分析

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hthjgjkkl

该用户从未签到
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1#
发表于 2021-9-7 10:25 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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l
失效的概念
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1 特性剧烈或缓慢变化
2 不能正常工作

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l        失效种类
1 致命性失效：如过电应力损伤
2 缓慢退化：如MESFET的IDSS下降
3 间歇失效：如塑封器件随温度变化间歇失效

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附件： 电子元器件失效性分析.rar (104.39 KB, 下载次数: 2)

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行者～ABC

该用户从未签到
2#
发表于 2021-9-7 11:12 | 只看该作者
可以采取减缓老化的方式

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刘工在线
  • TA的每日心情
    怒
    2019-11-20 15:01

    • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到
    3#
    发表于 2021-9-7 14:24 | 只看该作者
    温度也重要

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    瞪郜望源_21
  • TA的每日心情
    开心
    2025-6-5 15:36

    • 签到天数: 1097 天

    [LV.10]以坛为家III
    4#
    发表于 2021-9-7 15:44 | 只看该作者
    这个资料很不错，汇总的很到位，内容全面丰富，很有指导和实用性，学习下

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