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射频前端常用的几种工艺

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发表于 2021-7-30 14:09 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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射频前端常用的几种工艺
6 t3 \- G# }. J* Q1 p, h
半导体技术从20世纪50年代开始发展至今,按材料分,主要经历了三代。
1第一代Ge(锗,zhě)和Si(硅),这个产业链非常成熟,成本较低,经常在大规模集成电路中使用。
2第二代是III-V族化合物的GaAs(砷化镓,shēn huà jiā)和InP(磷化铟)等,工作频率高抗辐射,主要应用在射频功率放大器和光电器件。
3第三代为GaN(氮化镓)和SiC(碳化硅),高能量密度,高击穿场强,更抗高温和辐射,主要应用在基站功放和LED,如2014年获诺奖的蓝光LED就是基于GaN材料。

; h2 T& K) B$ F" o2 L

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发表于 2021-7-30 14:34 | 只看该作者
第一代: ^# G$ q- a, r& v: C8 [- L" {% j
1.1
) r  B) a6 G; l( M* }
  H# Q3 a3 b, K( B; P% q/ ?Ge现在不太常见,但它其实也是非常重要的半导体材料,第一个晶体管就是由锗制造的。Ge的禁带宽度小,有利于发展低电压器件;电子空穴迁移速率快,可以制作高速器件。但是Ge在工艺和器件性能上有一些问题:
' Q8 X! V+ U; |% P7 ?3 l1 T- t2 }7 c, a! P
1)熔点较低,937°C的熔点限制了高温工艺(更高的熔点允许更宽泛的工艺容限,其它半导体材料熔点均在1200°C以上);2)表面缺少自然发生的氧化物,从而容易漏电;3)导电性好,容易过热;4)地球储量少,原材料稀缺。" B" V" T1 h2 H( X+ U' e; y/ d
. T, K4 g( Z* z/ C, z7 a
这些都限制了Ge的大规模应用,因此基于Ge的半导体集成电路不太常见。
5 Q, W8 Z) [6 g8 P3 J( N% K
/ y' r9 C) H. X, K1.2# t+ o" k7 @& h* F9 g! l' V+ j; {

6 M2 T  p' l) s* A  BSi 与 SiO2 (二氧化硅)的平面工艺,相比Ge有如下几个绝对的优势:7 v" x3 W6 S4 F. R7 V, v8 @( g
0 P- m5 y# k; f# @( f
1)熔点高,1415°C的熔点允许更高温的工艺;2)解决了集成电路的漏电问题;3)电路表面形貌更平坦;4)地球储量非常丰富,土壤和沙子中含有大量 SiO2 和硅酸盐。8 u% C- r7 G, q! y

0 j9 @: `& t- ]9 q, a6 H. N因此,如今世界上超过90%的集成电路都是基于 Si 的。  I: L  e9 O; \  h) M

$ |2 A; P7 w  X# R% g% sSi 材料最成熟的工艺当属 CMOS,即互补金属氧化物半导体。RF CMOS 工艺可分为两大类:体硅(Bulk-Si)CMOS工艺和SOI(绝缘衬底硅)工艺。8 L0 w& a8 g! z/ P' G! B" Q$ h
3 Z1 m. H1 |3 Z! V$ m+ m" }/ c8 w
1.2.1体硅(Bulk-Si)CMOS工艺5 c  y9 t+ ]8 f. j5 F
, J9 {7 Q$ ^# x
体硅CMOS可以将射频、基频与存储器等组件合而为一提高集成度,并同时降低组件成本。现在LTE和Wi-Fi的收发机,以及分立的LNA等,基本采用体硅CMOS工艺制造。但是由于体硅CMOS在源和漏至衬底间存在寄生二极管,造成种种弊端,因此不太适合制作高功率高线性度开关。9 G2 q) i# _% @7 a* B$ M1 N; [

1 f1 W- F* C- b0 h# H2 c& L( i# o1.2.2 SOI(绝缘衬底硅)工艺( H/ c# _7 |4 f
; o* |. h8 E4 G
SOI工艺最大的特点是在衬底Si和顶层Si之间加入了一层SiO2绝缘层。这种独特的Si/SiO2/Si结构实现了器件和衬底的全介质隔离,相比体硅CMOS工艺,减小了寄生电容,运行速度提高30%,降低了漏电,功耗减少约一半,并且消除了闩锁效应。多个管子级联可以承受高功率,因此业界一般采用SOI工艺来设计大功率开关以及天线调谐开关。3 ^/ [& b0 T7 u8 }
$ f2 Z/ F0 @! C  z
1.3! u3 c! j4 J% n# J! O

3 i) @# G; W1 E8 ]3 K1 T0 i另一种较流行的材料是SiGe(锗硅)。
3 [6 g& c$ k& m0 E- Y$ ]5 ]7 q$ `9 G  |, y0 ^
不同于硅技术中所形成的简单晶体管,SiGe需要晶体管具有异质结构和异质结,这些结构有好几层和特定的掺杂等级,从而允许高频运行。
# Z% Q$ A' N! V4 u& k* o5 B) O4 q! Y3 H. G5 P) D
依材料特性来看,SiGe高频特性良好,材料安全性佳,导热性好,功耗较低,而且制程成熟、整合度高,成本较低。SiGe不但可以直接利用半导体现有8寸晶圆制程,达到高集成度,还有媲美GaAs的高速特性。高频和低功耗的LNA产品一般采用SiGe工艺设计

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3#
发表于 2021-7-30 15:25 | 只看该作者
第二代
6 k3 y" w" I  r7 D2 ]- o' ~第二代半导体最具代表性的就是GaAs。
' p/ _/ O$ E- I' P; H
% |: f$ }! E; P" q( j3 H& E其最重要的一个特性就是载流子的高迁移率,这种特性使得在通信系统里GaAs器件比硅器件更快的响应高频微波并有效地把它们转变为电流。通常GaAs器件比模拟类硅器件快两到三倍。GaAs本身对辐射所造成的漏电具有抵抗性。辐射(如宇宙射线)会在半导体材料中形成空穴和电子,它会增大不需要的电流,从而造成器件或电路的功能失效或损毁,而GaAs是天然辐射加固材料。
7 R6 s- e( s' W# c/ x  w0 y% ^5 H8 h0 k2 ~
尽管GaAs在性能上有很多优点,GaAs也不会取代硅成为主流的半导体材料。# l& @8 K3 G/ ]4 H8 O6 _! e
( _1 k, Y' q9 B& n3 @
其原因在于性能和制造难度之间的权衡。虽然GaAs电路非常快,但是绝大多数电子产品不需要那么快的速度。在性能方面,GaAs如同Ge一样没有天然的氧化物,为了补偿,必须在GaAs表面淀积多层绝缘体。这样导致更长的工艺和更低的产量。而且在GaAs中半数的原子是砷,而砷是有毒的。
! |. H( i" A- g  n/ }, M6 [' K
% J# ~& {8 g# `9 T此外,在正常的工艺温度下砷会蒸发,这就额外需要抑制层或者加压的工艺反应。这些步骤延长了工艺时间,增加了成本。在GaAs晶体生长阶段也会发生蒸发,导致晶体和晶圆不平整。这种不均匀性造成晶圆在工艺中容易折断,而且也导致了大直径的GaAs生产工艺水平比硅落后。Si晶圆12寸已经大规模量产很久了,而GaAs的晶圆还只有6寸。
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$ G9 ~0 J& ^# X  X4 e- u( j现在高频的开关以及功放等一般采用GaAs工艺。
  • TA的每日心情
    开心
    2023-6-2 15:15
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    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-7-30 16:14 | 只看该作者
    第三代
    ' _& W+ g. a( S# r) h( a& HGaN与现有技术相比,有更高的漏极效率、更大的带宽、更高的击穿电压和更高的结温操作。
    8 E3 U- z& ^/ J" M+ C
    6 k7 p. T: V' v目前的GaN还无法像硅一样直接获得一个晶圆, 它的衬底也只能通过外延技术(基于如蓝宝石,SiC,Si等) 获得一个厚的衬底,然后把这个厚的衬底剥离获得一个所谓的GaN晶圆。
    ! t+ |4 A0 T1 r# Q, C+ H* O
    + o9 w1 t' c$ G  \( @6 O0 W  Y目前GaN-on-Si已经有6寸晶圆量产了,而GaN-on-GaN的4寸晶圆量产都很困难。
    $ c, h/ j/ E) V  y. h1 O8 w
    4 Y, w! a  L' R1 I* ?- x9 f

    该用户从未签到

    5#
    发表于 2021-7-30 17:10 | 只看该作者
    按材料分,主要经历了三代. I/ h0 r- ?: |  c/ S

    该用户从未签到

    6#
    发表于 2021-7-30 17:21 | 只看该作者
    好东西值得分享

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    7#
    发表于 2021-8-1 23:23 | 只看该作者
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