|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
一、IMC, @5 N4 D- X8 v
" L6 ]0 h, r0 X( y# I) h
/ f$ z( l* `9 s( f( V& l( u5 f$ d9 ]' m
1、焊点的形成过程6 A- k: h6 ^# i2 K+ R
, ~8 C, q9 R6 L) e+ a! P- o0 }. q
7 K/ y" V' e! i# P# D- S4 ^' w r9 e7 H. J F4 S
焊点的形成过程可分为三个阶段:焊料润湿(铺展)、基底金属熔合/扩散和金属间化合物(IMC)的形成。; w1 `) V- I" s
3 s# X4 P- `3 |: [, p3 d2 G' Z( X
3 \1 H( j0 b# ]& p$ c" e9 n1 y E! P- g1 s
2、金属间化合物
) G' S" y5 }/ Y! l: p+ z! c/ p& E9 Q; D0 H
9 B) e# h7 [ K. p
8 B" i6 H! s {" ~. v* Y金属间化合物,英文全称为Intermetallic Compound,缩写为IMC,它是界面反应的产物,也作为形成良好焊点的一个标志。 c2 i, I& X) k
9 N8 ^% u9 Q+ [5 H' X8 `! n/ m" d6 C2 u& b( V9 m' u
; r; I& C9 K0 s
在各种焊料合金中,大量的Sn是主角,它是参与IMC形成的主要元素。其余各元素仅起配角作用,主要是为了降低焊料的熔点以及压制IMC的生长,少量的Cu和Ni也会影响IMC的结构。* f' }: Y. v7 D
5 j0 Y( }5 G6 f/ R7 A
/ T6 p6 s6 S _& a) Z% X/ F
3 m1 I8 \* n( Q: t在有铅工艺条件下,锡铅焊料与Cu、Ni界面形成的IMC典型形态如下图所示。焊料中只有Sn参与IMC的形成,IMC的成分固定。
: R) d/ c# K6 w5 e( s! t( _4 K2 s {3 K) N. c! ?7 Y# [1 H: L4 i
' h9 W8 y' s0 E, p. V
在无铅工艺条件下,由于使用的无铅焊料种类比较多,IMC的成分与形态比较复杂。如在使用SAC305焊料时,焊料与Ni基界面形成的IMC为(Cu、Ni)6Sn5和(Cu、Ni)3Sn4双层三元合金层,如下图 所示,这点不同于有铅焊接。
* l" u/ c8 V! y% w
5 [0 p2 G5 o* e- k# S1 s二、IMC的形成与发展5 a; h) L* }7 c; @$ o& B
7 b( a/ {2 O/ e/ O
& C4 G# I/ Z& S& y5 W5 e( ?! J
+ o3 G1 \/ e$ | ^5 y! H, l普遍认为,很厚的IMC是一种缺陷。因为IMC比较脆,与基材(封装时的电极、零部件或基板)之间的热膨胀系数差别很大,如果IMC长得很厚,就容易产生龟裂。因此,掌握界面反应层的形成和成长机理,对确保焊点的可靠性非常重要!
4 u ?- W% r! [' E% l$ p; M9 i0 ~6 y- M
# C% ^7 @ [6 n4 a+ w% J. k3 q. W5 N# m7 y+ [7 s3 R
IMC的形成与发展,与焊料合金、基底金属类型、焊接的温度与时间以及焊料的流动状态有关。一般而言,在焊料熔点以下温度,IMC的形成以扩散方式进行,速度很慢,其厚度与时间开方成正比;在焊料熔点以上温度,IMC的形成以反应方式进行,温度越高、时间越长,其厚度越厚,如下图所示。因此,过高的温度、过长的液态时间,将会导致过厚的IMC。3 U' d f/ M- L& X
. ?! H8 @/ i5 [0 f* n# h, Z D7 b* w: o
4 R( r$ p- [8 l5 z5 i在有铅工艺条件下,由于有Pb的抑制作用,Cu与SnPb焊料形成的IMC一般不超过2.5μm。但在无铅工艺条件下,由于Cu在熔融的SAC305中的熔解度比在Sn63/Pb37中的熔解度高8.6倍,因而在与SAC反应时会形成较厚的IMC层,这点不利于无铅焊点的可靠性。
3 b6 n. ~: `% m; Z3 L! ~& N8 C, Q2 k! ?0 y
1 g* D) i# ^ {
N' P: K. t' i0 M- q4 @还有一个现象值得进一步研究,就是当Cu与SAC305首次再流焊接(包括BGA植球过程)形成的IMC较厚时(≥10μm),如果再次过炉焊接,有可能形成超宽的、不连续的块状IMC,这是一种抗拉强度比较低的IMC组织,如果出现在BGA焊点上很可能带来可靠性方面的隐患。8 Y9 O9 c0 G# v/ V
$ G2 I: N5 v/ l. K+ y8 B3 S) F: q
" H! d$ A9 H. `
三、与界面扩散有关的断裂失效; k! X' x% m: b: p
. ^7 [+ Y& Y5 r+ i& e+ B& s
, C- t5 A& `, q" u, f
3 k$ V. q5 P d- @2 e
1、金脆失效
) ^, X9 g3 V6 t( J
* [9 H5 {# N# U: L% A7 z/ ]
+ Z: c9 W6 {* D+ L, n4 R4 W4 j [3 j" X1 O |
如果Au太厚(针对电镀Ni/Au而言,一般应小于0.08μm),则在使用过程中,弥散在焊料中的Au会扩散到Ni/Sn界面附近,形成带状(Ni-Au)Sn4金属间化合物。该IMC在界面上的富集常常导致金脆失效。0 k4 e: n4 h# x9 D8 D
1 i! K5 |. b' O9 A2 z/ O1 U
6 f% x! l) S, x$ _2 E. Z* |$ r, B. O0 [5 B4 J/ x
2、界面耦合现象: o8 L" L, \4 j
7 s; B4 ]3 {$ N# C% O
' f1 \9 G. K- k5 x0 W
v- Y- P3 T- PPCB焊盘界面上的反应不但与本界面有关,也与器件引脚材料及涂层有关。如焊盘为Ni/Au,而器件引线为Cu合金时,Cu常常会扩散到Ni/Sn界面从而导致界面形成(Cu、Ni)3Sn4—(Cu、Ni)6Sn5,它会导致焊点大规模失效。4 M% Y, F5 `) D9 d0 z
- @% G4 J2 R/ u7 W! N8 `3 u
; C9 v! g$ I6 [+ l
$ M9 H: u6 C5 ?: a1 q- X3、kirkendall空洞2 [" d6 s$ q9 o0 d- `* M
$ k# H2 Q$ V s1 F& B3 O
' Y6 q' B9 i! B& n
& i" ]# H1 Z. n% Z% HENIG镀层容易发生著名的kirkendall空洞。1 D8 i3 M. D0 r3 Y6 p" |0 \- r/ G
+ Z3 V: S% \9 e9 [" L) B# F" v" F
8 H+ v6 ]4 F- ~" X
+ B/ N* E* h! I* h' |& K" \kirkendall空洞与高温老化时间有关,时间越长,空洞越多。如果在125℃条件下,40天就会形成连续的断裂缝。
- ?; q A0 @% S4 A; x8 b A
8 G7 `2 `( k$ U' m2 Q6 H$ S+ h3 R1 `- X. j$ |9 L
; f3 n& @, e# W& M
四、黑盘
1 P% `; N9 ^2 h- w! J1 k/ |% a% g: G! I h+ r6 e7 m9 Z
8 z4 P& B8 I; E: L' k) P
6 g- `' b! F' w3 A2 u% U: C4 E7 Y
1、定义* z+ X2 x1 `! C' r5 p
# p6 A$ L- \6 x4 Y& |/ E
+ X: @6 `& t" B9 p. U" a4 {
, i. g% Y: i% [1 Y
因为焊点断裂面呈灰色、黑色,所以被称为黑盘。
5 [& b% a1 s9 }4 a i5 J8 g- f; j# t3 R4 J6 V
% f( ]; I! `. u$ k
2 `: w$ ~# Y/ U! {3 b0 H& L
与黑盘有关的断裂都发生在Sn—Ni界面的IMC下。焊盘颜色越深、IMC越薄,从黑色到黑灰色!
, h8 e7 y8 Z% f' q4 A6 e
! S$ S( L1 _! K: |0 |8 A
; o3 G2 @" ~; v9 y. G* n$ d) {
2、与黑盘有关的三个典型特征
, ^/ P8 F8 ^2 X/ P5 U9 [/ E& U7 M* _& v5 a" a1 M
% m' [& S( i% u4 y3 Y! A0 y
+ g" Z2 z3 L2 Y6 y1)断裂面(IMC下)可以观察到腐蚀裂纹(泥浆裂缝),如下图所示。裂纹越多,焊点的连接强度越低(裂纹完全不润湿),也越难形成IMC。由于无铅焊点比较硬,受到应力后直接传导到界面,因此,无铅焊点因黑盘失效的情况更多见。+ f }& _; T4 Y- \: y9 }& N5 R
9 [0 J. {/ [. o6 A* x% _6 [, |7 ?# |
t7 q5 a! _" g
$ s2 L1 W* ?% }; X1 m
X& u1 b" g# a2)从磨光的横截面可以观察到“腐蚀”已经渗透,甚至穿透Ni层到Cu基体,俗称“金刺”特征。$ s( \' I! L9 p( S( f
5 q' d6 u; ]& J9 u
' `" k! f1 c6 j6 I8 A2 m. y7 ^0 j# ^: R6 ~5 H# s
% I& d& l8 t+ Z: _" `; o, w; q( Q, J6 w
' g$ O! m) E/ ?3)Ni近表面P含量比较高(达到20%左右,为正常的两倍),但需要指出的是富磷不是导致焊点失效的直接原因。2 i& V& `1 o0 S- w% x' c$ P2 m( D
|
|