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一、IMC
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6 f/ t3 c: ?$ u. `9 ]1、焊点的形成过程
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3 `/ n# j8 Z7 J% c焊点的形成过程可分为三个阶段:焊料润湿(铺展)、基底金属熔合/扩散和金属间化合物(IMC)的形成。. T. c4 ^0 Y1 L2 V
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2、金属间化合物! I' N: o9 C# F" b! [! B) N2 I
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金属间化合物,英文全称为Intermetallic Compound,缩写为IMC,它是界面反应的产物,也作为形成良好焊点的一个标志。
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3 g5 M: V5 x, [2 L) L在各种焊料合金中,大量的Sn是主角,它是参与IMC形成的主要元素。其余各元素仅起配角作用,主要是为了降低焊料的熔点以及压制IMC的生长,少量的Cu和Ni也会影响IMC的结构。% V5 l! S3 n2 K; l
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/ S/ Z* |/ t6 ~) v在有铅工艺条件下,锡铅焊料与Cu、Ni界面形成的IMC典型形态如下图所示。焊料中只有Sn参与IMC的形成,IMC的成分固定。9 g% T% p, K& h) `& T( V7 R1 R) }
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. u, Z$ ]$ P$ \在无铅工艺条件下,由于使用的无铅焊料种类比较多,IMC的成分与形态比较复杂。如在使用SAC305焊料时,焊料与Ni基界面形成的IMC为(Cu、Ni)6Sn5和(Cu、Ni)3Sn4双层三元合金层,如下图 所示,这点不同于有铅焊接。
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) x: s5 R c. e y二、IMC的形成与发展
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普遍认为,很厚的IMC是一种缺陷。因为IMC比较脆,与基材(封装时的电极、零部件或基板)之间的热膨胀系数差别很大,如果IMC长得很厚,就容易产生龟裂。因此,掌握界面反应层的形成和成长机理,对确保焊点的可靠性非常重要!# l+ z$ O/ h# J3 i3 z/ }
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IMC的形成与发展,与焊料合金、基底金属类型、焊接的温度与时间以及焊料的流动状态有关。一般而言,在焊料熔点以下温度,IMC的形成以扩散方式进行,速度很慢,其厚度与时间开方成正比;在焊料熔点以上温度,IMC的形成以反应方式进行,温度越高、时间越长,其厚度越厚,如下图所示。因此,过高的温度、过长的液态时间,将会导致过厚的IMC。9 c* F5 x/ e/ H% ?# D. [
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& e( {& g; z2 k8 l! b# M在有铅工艺条件下,由于有Pb的抑制作用,Cu与SnPb焊料形成的IMC一般不超过2.5μm。但在无铅工艺条件下,由于Cu在熔融的SAC305中的熔解度比在Sn63/Pb37中的熔解度高8.6倍,因而在与SAC反应时会形成较厚的IMC层,这点不利于无铅焊点的可靠性。6 ?$ `# ~1 }2 f* y: ^$ a6 U
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还有一个现象值得进一步研究,就是当Cu与SAC305首次再流焊接(包括BGA植球过程)形成的IMC较厚时(≥10μm),如果再次过炉焊接,有可能形成超宽的、不连续的块状IMC,这是一种抗拉强度比较低的IMC组织,如果出现在BGA焊点上很可能带来可靠性方面的隐患。
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1 r( c. l% ~4 \( f" C: T三、与界面扩散有关的断裂失效8 h8 \% I" C: I* T& m
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N* f8 S* F) A% Y& F; ~1、金脆失效
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% i5 o4 e1 p6 B( d, S( N5 q+ K: m如果Au太厚(针对电镀Ni/Au而言,一般应小于0.08μm),则在使用过程中,弥散在焊料中的Au会扩散到Ni/Sn界面附近,形成带状(Ni-Au)Sn4金属间化合物。该IMC在界面上的富集常常导致金脆失效。% { h* h6 \+ I0 j$ X
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2、界面耦合现象
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PCB焊盘界面上的反应不但与本界面有关,也与器件引脚材料及涂层有关。如焊盘为Ni/Au,而器件引线为Cu合金时,Cu常常会扩散到Ni/Sn界面从而导致界面形成(Cu、Ni)3Sn4—(Cu、Ni)6Sn5,它会导致焊点大规模失效。' C) \3 B# I; Q. E! C4 j
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3、kirkendall空洞
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' O. s2 w$ V. Z/ z5 t1 `. FENIG镀层容易发生著名的kirkendall空洞。! I" |" H/ _" y6 z: u& o
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5 q- Z2 U+ y1 {5 y1 `9 Tkirkendall空洞与高温老化时间有关,时间越长,空洞越多。如果在125℃条件下,40天就会形成连续的断裂缝。( n K" t. A3 W- \0 s% N; N8 z
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( f6 `( K, D, J0 x四、黑盘% P% V! u8 z1 s, B
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( V" B1 q# H' p, K) ]' X" z4 A
& O8 C) S! Z2 p7 u3 @9 t1、定义
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因为焊点断裂面呈灰色、黑色,所以被称为黑盘。
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与黑盘有关的断裂都发生在Sn—Ni界面的IMC下。焊盘颜色越深、IMC越薄,从黑色到黑灰色!
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+ G5 R7 u9 o0 x( d1 }9 _0 R7 a2、与黑盘有关的三个典型特征6 t O, s6 J' L
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4 o" `# [& m2 [1)断裂面(IMC下)可以观察到腐蚀裂纹(泥浆裂缝),如下图所示。裂纹越多,焊点的连接强度越低(裂纹完全不润湿),也越难形成IMC。由于无铅焊点比较硬,受到应力后直接传导到界面,因此,无铅焊点因黑盘失效的情况更多见。( M& L- L* }' l1 A" ]: `# w! i
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2)从磨光的横截面可以观察到“腐蚀”已经渗透,甚至穿透Ni层到Cu基体,俗称“金刺”特征。
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3)Ni近表面P含量比较高(达到20%左右,为正常的两倍),但需要指出的是富磷不是导致焊点失效的直接原因。
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