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电子元器件失效的目的

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发表于 2021-7-23 09:37 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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电子元器件失效的目的是借助各种测试分析技朮和分析程序确认电子元器件的失效现象﹐分辨其失效模式和失效机理﹐确定其最终的失效原因﹐提出改进设计和制造工艺的建议﹐防止失效的重复出现﹐提高元器件可靠性。失效分析是产品可靠性工程的一个重要组成部分。失效分析被广泛应用确定研制生产过程中产生问题的原因﹐鉴别测试过程中与可靠性相关的失效﹐确认使用过程中的现成失效机理。
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发表于 2021-7-23 10:28 | 只看该作者
电子元器件失效的目的是借助各种测试分析技朮和分析程序确认电子元器件的失效现象
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发表于 2021-7-23 10:32 | 只看该作者
分辨其失效模式和失效机理﹐确定其最终的失效原因
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发表于 2021-7-23 10:35 | 只看该作者
失效分析是产品可靠性工程的一个重要组成部分。/ C* p. D8 u" [8 v: t

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发表于 2021-7-23 10:39 | 只看该作者
失效分析被广泛应用确定研制生产过程中产生问题的原因﹐鉴别测试过程中与可靠性相关的失效﹐确认使用过程中的现成失效机理。) B/ A. c2 O2 I) j# e* Y; m
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