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PCB分层起泡失效案例分析—控深钻孔的风险预防

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发表于 2021-7-7 14:45 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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一、背景
8 _2 X3 U5 r% ]: V9 d' z6 r& g3 q% C% @- H9 h- W+ d% x3 E$ Y
PCBA板在回流后发现SS面出现内层发白分层现象,现对其进行原因分析,样品外观如图1所示:
0 ]8 m, h1 j. u& V3 `" v% c$ J
& M$ p5 k+ D' k7 n
" Q6 S9 k* P  x7 J! u1 Q1 E

' K$ [& y4 {3 j  B" C
- R( w( E% c# y$ u: k8 c6 `2 p, B
* r2 H* f' Y9 _  e4 Y
二、失效点位置确认
2 e* Z# |/ H0 |4 m: e, j' _
9 w9 k7 g! S$ w* s& V

5 e" P7 e/ q$ ~8 s! B2.1 分层界面确认; X8 h& A0 Y1 |7 S& b2 V7 V# a2 {

) \/ q  c( ]. g3 V" M& N# Q* _
+ i9 S& H# {7 T8 J/ [1 ~
从以上分层位置取样制作垂直切片,观察分层区域的截面形貌,结果如图2所示:
) E. F! n6 I# |" L0 S
) W0 B* @* f" y' y$ d, B' N7 t( ^
. v5 N6 g- M) E, `+ l2 w/ ]
) t1 c! M( E$ W6 E) Z
9 e! h0 V% N9 ?) A1 _- E0 n

" j; g% r. }$ \如图2中的垂直切片观察,发现不良PCBA 的分层均发生在控深钻孔区域,且分层界面主要集中在L6/L7PP片的玻纤与树脂之间以及L7/L8层芯板的玻纤与树脂之间。4 ]* L! c& P- i- d
& [. ?' O/ M* S, w

4 d- X$ I' P- d! F2.2 分层起泡点确认
0 ?! R4 a- S( o' ~* d2 K8 ~' e. [/ U7 k/ Y9 S- I0 a

( G# z: d8 u/ E6 {7 j" k; O0 Y制作不良板的分层位置的水平切片与垂直切片,分析不良PCBA分层的起爆点,如下图3所示:0 ~6 x5 N& \. `- ~; F# E
- i$ ]/ Y3 d- j0 l% o% k

$ l, ~8 `+ L2 T- s) U" [0 |  }

4 w3 T) D7 H; z- A# z* U. i' L' K/ E/ Y8 @* U: [6 |7 D$ H

0 H1 \1 W) o+ R如图3所示,分层起泡区主要集中在控深钻孔区域,且该区域的孔壁铜层厚度不均匀;通过垂直切片,发现L7层附近的孔壁铜厚较薄的位置有微裂纹存在,且裂纹逐渐扩展延伸至L7/L8层芯板的玻纤和树脂界面之间,在外观上形成发白分层现象,说明分层起爆点位于控深钻孔孔壁铜厚较薄的区域。
5 t! ^0 l1 B6 O' S6 [- N* N5 ~7 [  a3 R6 @6 J; w
; c' }' Q, d0 B7 O( }/ W3 c- U6 J
三、原因分析
, u3 o; p- C# |0 o, }9 R: E$ x7 Q/ F2 s$ v  N; X4 P! R# h

+ {; Y3 R, h1 ~5 ]0 ^* V! K3.1 孔壁铜厚和树脂塞孔气泡确认/ T8 x! d4 a; l( V9 U
1 J& z# ^0 N, x
. Y* H6 x8 t8 A4 n$ t8 U
用金相显微镜观察分层位置的垂直切片,并测量孔壁铜厚,如图4所示:
' m; L0 [0 i7 r
, e  C# M2 Y6 v, x4 ?% s- y! R- C- m

  f) s4 P  W% a% G4 W, X

: S* J" q! k, W1 L4 F7 l由图4可知,树脂塞孔内的树脂填充少于60%(IPC-A-600G要求树脂填孔至少填满60%),存在塞孔气泡,靠近L7层的孔壁铜厚只有9~11μm,不符合工艺要求的最小孔壁铜厚20μm,即此处孔壁铜厚偏薄。控深钻孔的塞孔树脂填充不饱满,在回流焊的高温条件下,孔内残留的气体体积剧烈膨胀,产生较大的内应力,导致孔铜偏薄的位置被拉断,最终造成分层的现象。
8 O, k, B3 n$ H. g  W
, {% T2 r1 L+ A7 ]

, v# _' `* K$ Q四、验证实验
, M$ k& _& d+ D( T0 W4 z) P; b* j& P% v. Q) k) H

1 E: z) w7 T& @; I% B, l1 F# X
为确认导致该款板分层的根本原因,取PCBA设计以下两组实验:
(1) 取未分层的无控深钻孔区域进行热应力测试;
(2) 取未分层的有控深钻孔区域进行热应力测试。
热应力测试结果如下图5所示:

) ~9 H" s$ k. U* C% _% w" j

. x% [. B* p% }" F; K9 L: \
由上图5可知,无控深钻孔的区域热应力后无分层起泡现象,而有控深钻孔的区域经过热应力测试后出现白斑,且分层出现在控深钻孔周围的区域,进一步表明有控深钻孔的区域,其孔内存在气泡,在高温下气体体积膨胀大,使得孔壁铜厚偏薄区域容易发生分层。
  ^# s( ~7 S  B% Q- e
9 Q3 T3 s8 b; `, ?! A: s* f
$ D; ~+ u- K- O1 t, S, ~
: S0 N3 Q2 r: n

. h- W+ R9 e1 Y, t6 w五、分析结论
( F+ Z/ m; z+ ^) u2 G7 v5 O
/ M$ W: ~4 e7 Z& A6 S! u) F

# `" ?8 e; f8 T) Z4 Z% ], z7 y7 e该板的控深钻孔周围区域分层的原因是:控深钻孔的塞孔树脂填充不饱满,在回流焊的高温条件下,孔内残留的气体体积剧烈膨胀,产生较大的内应力,导致孔铜偏薄的位置被拉断,最终造成分层的现象。1 s1 v, z1 w$ {0 w

+ @. i3 ~! z0 x0 a
1 r) X6 j: d$ J$ A+ J2 I- ]

0 R' a3 G+ \5 @; m$ e( |
* h0 H5 [5 s6 M2 M3 P% B
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    开心
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    [LV.1]初来乍到

    3#
    发表于 2021-7-7 17:21 | 只看该作者
    起泡了就不能用了
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