|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
拆解NG1灯具电源,板上测试MOS开关管,存在DS引脚短路现象,从板上拆下后测试DS正常,因此为电源板上其他回路短路。 从外观上可观察到压敏电阻出现炸裂,拆下压敏电阻后,电源上MOSFET开关管DS之间不再短路,因此为短路压敏电阻导致。 对其他元器件进行测试,发现电容存在容量严重降低,电源的保险丝、变压器等无异常。拆下压敏电阻后上电测试,电源可以点亮光源。
, B3 M/ B! C! V# f- D% l( O; g; s- o( ?0 l
, i$ ~& v/ q6 |% u+ Y3 v4 g' I9 [9 u8 U+ d# ~4 y% C e/ d
拆解失效电容NG1,内部存在铝膜熔融现象,展开铝膜与其他常规的CBB电容铝膜对比,失效NG1电容铝膜颜色偏黑。8 n' U/ ]% o! A# o+ {1 w% R. n
7 U$ O( x4 \, v2 r& c- }6 m
2 s) O1 _' B8 a- s+ [3 H8 ^6 j
: [( T. |1 `; d# L
- i" @! V$ S: m& q 对失效电容NG2进行金相切片+氩离子研磨切片分析,在SEM下可观察到电容内部铝膜熔融现象。由于送测样品的C1电容均出现了不同程度的失效,因此建议电源厂对同批次电容进行确认,同时加强电源的可靠性检验。
0 ?7 e3 q R/ |: y' i* b. F( h" p/ h: f* ]% `
/ u# y J, N1 x8 s" m' X
|
|