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PCB可靠性问题失效分析思路

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发表于 2021-7-2 14:45 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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PCB在实际可靠性问题失效分析中,同一种失效模式,其失效机理可能是复杂多样的,因此就如同查案一样,需要正确的分析思路、缜密的逻辑思维和多样化的分析手段,方能找到真正的失效原因。在此过程中,任何一个环节稍有疏忽,都有可能造成“冤假错案”。
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- m/ p( x$ L, n+ Z& O0 b) r

; w  \) k1 m+ Y可靠性问题的一般分析思路% X3 a7 b; J' e5 H7 }8 h

+ @8 S- Q# z5 x8 p
+ c, u/ b# h  Y$ B, M  v$ D

8 g0 T7 L) ~9 X. z6 }* ^

0 E' Y, J9 [2 s/ f  ^3 \背景信息收集
, ~0 Z# U5 m' Y9 J. S5 S3 [6 U  i% J9 t8 Y) ], z4 ?/ P
' S( w. L3 A; `1 _4 P- C% m
背景信息是可靠性问题失效分析的基础,直接影响后续所有失效分析的走向,并对最终的机理判定产生决定性影响。因此,失效分析之前,应尽可能地收集到失效背后的信息,通常包括但不仅限于:9 U# N+ Q6 V7 g9 s; f

# i8 D( L, a  E- L/ @1 k 4 D% z- [  S/ \# O: |' P- }

3 `8 s  p- G. [; z) K8 X. V8 e) f

3 f1 R9 m6 W7 i; f(1)失效范围:失效批次信息和对应的失效率
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  k: _1 m. C3 h. H! Q4 _8 |①若是大批量生产中的单批次出问题,或者失效率较低时,那么工艺控制异常的可能性更大;1 X: g# ^7 h, ~& [) O
# W+ P3 `, w4 }- e. U2 C3 E9 c
②若是首批/多批次均有问题,或者失效率较高时,则不可排除材料和设计因素的影响;+ t" B6 X) [# D6 q! ]4 Q! t9 t
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' \$ b0 t# r! }, Y7 V$ M0 P
5 R4 i; G! K5 M/ ]7 x; {
(2)失效前处理:失效发生前,PCB或PCBA是否经过了一系列前处理流程。常见的前处理包括回流前烘烤、有/无铅回流焊接、有/无铅波峰焊接和手工焊接等,必要时需详细了解各前处理流程所用的物料(锡膏、钢网、焊锡丝等)、设备(烙铁功率等)和参数(回流曲线、波峰焊参数、手焊温度等)信息;
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% s8 P) L+ c6 H2 @6 V
' v  F1 I9 \  g7 j$ O9 A# U
(3)失效情境:PCB或PCBA失效时的具体信息,有的是在前处理比如说焊接组装过程中就已失效,比如可焊性不良、分层等;有的则是在后续的老化、测试甚至使用过程中失效,比如CAF、ECM、烧板等;需详细了解失效过程和相关参数;
- t* y( J; u+ j+ G+ b6 z) n. q' o
9 L: k9 _( a7 g5 o
! c. }) N. Q/ t/ l5 e5 R6 V" _- V- Z3 i5 L: `4 n+ u) H
失效PCB/PCBA分析9 J$ m1 T, f* p7 y% b
, w1 o, q4 Q  m: B; ^6 B8 V1 v/ K

1 N" |; l- k7 G  `% W! ]% [3 m$ h  O
一般来说失效品的数量是有限的,甚至仅有一块,因此对于失效品的分析一定要遵循由外到内,由非破坏到破坏的逐层分析原则,切忌过早破坏失效现场:
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, S, Q7 C* A/ Q& V
(1)外观观察9 Q$ j6 a" U! c% Y7 ?+ c7 Y

: S+ H& O( j7 k# e9 @7 x外观观察是失效品分析的第一步,通过失效现场的外观形态并结合背景信息,有经验的失效分析工程师能够基本判断出失效的数个可能原因,并针对性地进行后续分析。但需要注意的是,外观观察的方式很多,包括目视、手持式放大镜、台式放大镜、立体显微镜和金相显微镜等。然而由于光源、成像原理和观察景深的不同,对应设备观察出的形貌需要结合设备因素综合分析,切忌贸然判断形成先入为主的主观臆测,使得失效分析进入错误的方向,浪费宝贵的失效品和分析时间。) b6 a+ }6 n/ b8 }3 [

; _$ o, }; i% l9 b- n8 R8 K1 f3 x  M" P& k- C8 o- B. w' i* J. R& Y

4 P3 [$ z7 n9 s' T! G( X(2)深入无损分析7 j" }& r3 o5 N% j% E# F
' E9 G' M) S; d0 A2 v8 y* c
有些失效单单采用外观观察,不能收集到足够的失效信息,甚至连失效点都找不到,比如分层、虚焊和内开等,这时候需借助其他无损分析手段进行进一步的信息收集,包括超声波探伤、3D X-RAY、红外热成像、短路定位探测等。
9 a# `4 Z& T9 A3 n3 p- j. N) k7 @' x
) A* U% A9 s1 M& T; V2 z9 f. |在外观观察和无损分析阶段,需注意不同失效品之间的共性或异性特征,对后续的失效判断有一定借鉴意义。在无损分析阶段收集到足够的信息后,就可以开始针对性的破坏分析了。
! C! [; s. q9 J3 }( Q6 }2 T/ Z
" u  ?+ ?- v8 |( }1 h) j* }1 y3 T( n
; C# d) u6 P8 g0 E8 ]
(3)破坏分析% g5 }: b. S/ v4 a
5 j1 V: y( T9 Y; w4 F
失效品的破坏分析是不可少的,且是最关键的一步,往往决定着失效分析的成败。破坏分析的方法很多,常见的如扫描电镜&元素分析、水平/垂直切片、FTIR等,本节不作赘述。在此阶段,失效分析方法固然重要,但更重要的是对缺陷问题的洞察力和判断力,并对失效模式和失效机理有正确清楚的认识,方可找到真正的失效原因。" _( u, ~! y/ P9 S4 G
+ V) R# G! n. {: Y& t  v) M; C

6 ~/ }% B# l+ U! u( y
$ s3 m3 Z% W! n裸板PCB分析+ z8 t3 [7 L" S* h& y8 {- f0 l

3 {7 S; ]) F* p% w! Y7 g
- p+ H: J! m( G/ v4 `
$ [3 Q# _4 W& R% V  [" d' c当失效率很高时,对于裸板PCB的分析是有必要的,可作为失效原因分析的补充。当失效品分析阶段得到的失效原因是裸板PCB的某项缺陷导致了进一步的可靠性失效,那么若裸板PCB有同样的缺陷时,经过与失效品相同的处理流程后,应体现出与失效品相同的失效模式。若没有复现出相同的失效模式,那只能说明失效品的原因分析是错误的,至少是不全面的。
& b, C' E0 _6 h5 G$ s' }6 M2 h% M6 T* h+ C  l# X
/ q* Y) I* |% s. I

7 R6 R! w1 u  O: d8 L  ]复现试验
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6 }  e* Y8 W1 W3 I0 r" H, `' D
当失效率很低且无法从裸板PCB分析中得到帮助时,有必要对PCB缺陷进行复现并进一步复现失效品的失效模式,使得失效分析形成闭环。& E6 M) ]' Z7 `* {- c
" M8 W. |4 o) J5 f& F/ Z
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& s" g% u4 r9 P% G9 w
在面临着PCB可靠性失效日益增多的今天,失效分析对于设计优化、工艺改善、材料选型提供了重要的第一手信息,是可靠性增长的起点。
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发表于 2021-7-2 15:24 | 只看该作者
有些失效单单采用外观观察,不能收集到足够的失效信息,甚至连失效点都找不到,比如分层、虚焊和内开等,这时候需借助其他无损分析手段进行进一步的信息收集,包括超声波探伤、3D X-RAY、红外热成像、短路定位探测等。
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    [LV.1]初来乍到

    3#
    发表于 2021-7-2 15:37 | 只看该作者
    外观观察是失效品分析的第一步,通过失效现场的外观形态并结合背景信息,有经验的失效分析工程师能够基本判断出失效的数个可能原因,并针对性地进行后续分析。但需要注意的是,外观观察的方式很多,包括目视、手持式放大镜、台式放大镜、立体显微镜和金相显微镜等。然而由于光源、成像原理和观察景深的不同,对应设备观察出的形貌需要结合设备因素综合分析,切忌贸然判断形成先入为主的主观臆测,使得失效分析进入错误的方向,浪费宝贵的失效品和分析时间。

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    4#
    发表于 2021-7-2 15:44 | 只看该作者
    失效发生前,PCB或PCBA是否经过了一系列前处理流程。常见的前处理包括回流前烘烤、有/无铅回流焊接、有/无铅波峰焊接和手工焊接等,必要时需详细了解各前处理流程所用的物料(锡膏、钢网、焊锡丝等)、设备(烙铁功率等)和参数(回流曲线、波峰焊参数、手焊温度等)信息
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