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DFM不应局限于芯片,PCB更需要它

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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2021-6-29 14:33 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    尽管围绕着可制造性设计(DFM)的价值、定义、变化性和技术争执颇多,但所有的问题都是基于芯片。当然,当我们开始考虑45和32纳米设计时,芯片DFM是很关键的要求。然而,关注芯片DFM,却忽视了更重要的技术需要:面向印刷电路板的DFM。
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    0 q, p2 G) |, @- t& _$ D我们都知道即使硅片百分之百完美,如果芯片到芯片通信链接的任何一个元件(比如封装,连接头或电路板)损坏,目标系统可能仍然不能正常工作。许多封装、连接器和PCB供应商也许被系统设计师追逼着控制他们的加工容差。
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    但是,除非所有供应商一致加强规范,例如一个有正负5%容差的连接器对PCB正负10%容差的系统可能收效不大。为了优化系统设计,设计师需要研究每个元件的因果关系。迄今为止,我们没有DFM工具来处理诸如此类的设计问题。
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    深联电路-数码相机HDI板
    0 X. \. I6 B# I& a在预布局设计阶段,高速系统或信号完整性工程师通常只能进行有限的Spice仿真。为确保系统工作正常,需要对能覆盖所有加工容差的边界情形进行仿真。
    % \& g7 J0 z  o' z- J9 D8 N! |
    + W3 T3 w. C' y例如,PCB内的金属线宽变化、介电堆叠高度、介电质常数和损耗正切值全部都能影响阻抗和衰减。然而,仅有较大规模公司的工程师才可能有资源来定制自有的脚本,来进行上千次仿真工作,然后再对结果进行处理。即便这样,对哪种变量进行扫描仍然没有定义完好的标准。
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    1 v/ L4 Q* U5 V3 F3 |) \最明显缺乏的是封装和连接器的边界模型。对于高速设计,这些模型只能通过与频率相关的S参数来精确定义。然而,极少有供应商提供好的S参数模型,更不用说在宽范围频率内的边界模型了。9 S! f9 E# n) W) l! o. t+ L

    9 z% r. B# O5 x( h& Z" b在后布局验证阶段,需要进行复杂PCB的精确提取和仿真,以计算详细的转角和弯曲。可是,几乎没有工具可用。6 b6 x$ U4 C5 g* U6 n1 [
    ' _6 X' Q" W9 i  ^3 W
    ! i6 j. t* O% r# u3 y
    深联电路-手机电源HDI板
    - g0 I4 Q3 F% `" D6 n0 k! l/ g, Y很明显,需要通用的PCB设计和验证方法。那么,我们需要些什么呢?1 K& f* y# E# A7 y7 O9 s3 e

    ( Z1 Q9 e# C7 U3 ?( U% O让我们关注两大领域。对预布局设计,举例来说,最好有GUI驱动的线路图输入编辑器,使设计师能容易地输入每个元件的变化,仿真并处理结果,报告每个变量的产生和影响。9 W( t7 A  c' I1 j# x

    + \% E8 V; U' z对后布局验证,DFM工具需要能自动调整版图以覆盖边界情形,采用快速的全波提取器来提取寄生参数,在电路仿真中用I/O晶体管边界模型仿真。8 O; h3 s; q' R# o% |8 s: U

    : R. c" |% J, P9 J! p4 `$ y只有当设计师在设计和验证内都考虑了工差,他们才能说做了可制造性设计。只有当工具供应商认识到芯片只是子系统——比如PCB——的一部分,那么DFM最终才能与开发终端产品的客户真正相关起来。

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    发表于 2021-6-29 15:13 | 只看该作者
    最明显缺乏的是封装和连接器的边界模型。对于高速设计,这些模型只能通过与频率相关的S参数来精确定义。然而,极少有供应商提供好的S参数模型,更不用说在宽范围频率内的边界模型了。

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    3#
    发表于 2021-6-29 15:18 | 只看该作者
    在预布局设计阶段,高速系统或信号完整性工程师通常只能进行有限的Spice仿真。为确保系统工作正常,需要对能覆盖所有加工容差的边界情形进行仿真。
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    2020-7-28 15:35
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    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-6-29 15:23 | 只看该作者
    PCB内的金属线宽变化、介电堆叠高度、介电质常数和损耗正切值全部都能影响阻抗和衰减。然而,仅有较大规模公司的工程师才可能有资源来定制自有的脚本,来进行上千次仿真工作,然后再对结果进行处理。即便这样,对哪种变量进行扫描仍然没有定义完好的标准。
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