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PCB可靠性问题失效分析思路

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  • TA的每日心情
    开心
    2020-7-28 15:35
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2021-5-27 13:39 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    以下为正文:
    9 J; Y& m6 {* h0 k5 e6 j" F$ S$ i9 D2 ~/ y6 \
    PCB在实际可靠性问题失效分析中,同一种失效模式,其失效机理可能是复杂多样的,因此就如同查案一样,需要正确的分析思路、缜密的逻辑思维和多样化的分析手段,方能找到真正的失效原因。在此过程中,任何一个环节稍有疏忽,都有可能造成“冤假错案”。- L% h9 j8 W% R, p6 i" H
    0 C+ f6 N" \8 d% E$ V! a2 t1 w
    可靠性问题的一般分析思路
    1 [0 p6 _3 `% g" Q; o  ]; f
    , j: f! x+ {) ]+ x背景信息收集( r1 `* [0 H  j
    背景信息是可靠性问题失效分析的基础,直接影响后续所有失效分析的走向,并对最终的机理判定产生决定性影响。因此,失效分析之前,应尽可能地收集到失效背后的信息,通常包括但不仅限于:, U: \( _, B, R% g
    $ f& b( }/ [; h& b/ o  @' W
    (1)失效范围:失效批次信息和对应的失效率
    ) o# T" A' x3 P* W8 l) C1 T①若是大批量生产中的单批次出问题,或者失效率较低时,那么工艺控制异常的可能性更大;
    5 g9 i: `7 F# F( ^8 f7 k- w②若是首批/多批次均有问题,或者失效率较高时,则不可排除材料和设计因素的影响;' h- V. H: V1 L. H

    & k. k: L4 _$ c, s" w7 |2 @(2)失效前处理:失效发生前,PCB或PCBA是否经过了一系列前处理流程。常见的前处理包括回流前烘烤、有/无铅回流焊接、有/无铅波峰焊接和手工焊接等,必要时需详细了解各前处理流程所用的物料(锡膏、钢网、焊锡丝等)、设备(烙铁功率等)和参数(回流曲线、波峰焊参数、手焊温度等)信息;
    ( D7 g* X) v! ~7 Y- x. T  T8 a) A" f+ F% v% Z" m: x+ t' O" b
    (3)失效情境:PCB或PCBA失效时的具体信息,有的是在前处理比如说焊接组装过程中就已失效,比如可焊性不良、分层等;有的则是在后续的老化、测试甚至使用过程中失效,比如CAF、ECM、烧板等;需详细了解失效过程和相关参数;
    7 t. L3 h* u9 y2 _8 c . \$ A7 Z" a" V( y+ r. R
    失效PCB/PCBA分析
      w7 }! ]8 t6 ~/ K5 n- T ) q) z" ~& {. K& Q. l
    一般来说失效品的数量是有限的,甚至仅有一块,因此对于失效品的分析一定要遵循由外到内,由非破坏到破坏的逐层分析原则,切忌过早破坏失效现场:
    # s6 K* _9 }0 a) y* _6 M0 ~ * h& j* P0 [+ v" J6 V
    (1)外观观察
    3 }! h$ `7 z- a; D8 x外观观察是失效品分析的第一步,通过失效现场的外观形态并结合背景信息,有经验的失效分析工程师能够基本判断出失效的数个可能原因,并针对性地进行后续分析。但需要注意的是,外观观察的方式很多,包括目视、手持式放大镜、台式放大镜、立体显微镜和金相显微镜等。然而由于光源、成像原理和观察景深的不同,对应设备观察出的形貌需要结合设备因素综合分析,切忌贸然判断形成先入为主的主观臆测,使得失效分析进入错误的方向,浪费宝贵的失效品和分析时间。3 t& {  @. G/ ?, z# E3 c2 J
    : |& V9 b1 w. ~3 E' k5 I
    (2)深入无损分析
    - f. y& j5 l8 L& k9 S" C+ T有些失效单单采用外观观察,不能收集到足够的失效信息,甚至连失效点都找不到,比如分层、虚焊和内开等,这时候需借助其他无损分析手段进行进一步的信息收集,包括超声波探伤、3D X-RAY、红外热成像、短路定位探测等。
    * y. D+ K2 ^) v" k0 j( |3 ?在外观观察和无损分析阶段,需注意不同失效品之间的共性或异性特征,对后续的失效判断有一定借鉴意义。在无损分析阶段收集到足够的信息后,就可以开始针对性的破坏分析了。3 {- p' n; m, J$ f. M1 B, \

    9 k6 r5 Q3 T; J  n2 n(3)破坏分析* D5 z+ A* i6 `8 m
    失效品的破坏分析是不可少的,且是最关键的一步,往往决定着失效分析的成败。破坏分析的方法很多,常见的如扫描电镜&元素分析、水平/垂直切片、FTIR等,本节不作赘述。在此阶段,失效分析方法固然重要,但更重要的是对缺陷问题的洞察力和判断力,并对失效模式和失效机理有正确清楚的认识,方可找到真正的失效原因。
    ' K* `. K2 ^% ^& h( J' Z8 k 3 q- v) n" X% H0 N' ?! h0 U
    裸板PCB分析
    5 Y7 R" |, b2 I9 F' b1 ^( i ' G8 r8 K- n% A% f: ^& C; M
    当失效率很高时,对于裸板PCB的分析是有必要的,可作为失效原因分析的补充。当失效品分析阶段得到的失效原因是裸板PCB的某项缺陷导致了进一步的可靠性失效,那么若裸板PCB有同样的缺陷时,经过与失效品相同的处理流程后,应体现出与失效品相同的失效模式。若没有复现出相同的失效模式,那只能说明失效品的原因分析是错误的,至少是不全面的。
    + Q9 a! Y1 R# Q2 a6 C/ y* P; C7 t
    ) r4 U* J* O( ]+ L1 V) {复现试验  i* t- I/ I5 r: E

    " l4 t5 R' ]# s- T当失效率很低且无法从裸板PCB分析中得到帮助时,有必要对PCB缺陷进行复现并进一步复现失效品的失效模式,使得失效分析形成闭环。
    . O7 @7 u3 w, f0 r! ~ 9 E7 a5 V, a& @% C0 K
    在面临着PCB可靠性失效日益增多的今天,失效分析对于设计优化、工艺改善、材料选型提供了重要的第一手信息,是可靠性增长的起点。

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    2#
    发表于 2021-5-27 14:51 | 只看该作者
    当失效率很高时,对于裸板PCB的分析是有必要的,可作为失效原因分析的补充。当失效品分析阶段得到的失效原因是裸板PCB的某项缺陷导致了进一步的可靠性失效,那么若裸板PCB有同样的缺陷时,经过与失效品相同的处理流程后,应体现出与失效品相同的失效模式。若没有复现出相同的失效模式,那只能说明失效品的原因分析是错误的,至少是不全面的。
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    开心
    2020-7-31 15:46
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    [LV.1]初来乍到

    3#
    发表于 2021-5-27 15:41 | 只看该作者
    外观观察是失效品分析的第一步,通过失效现场的外观形态并结合背景信息,有经验的失效分析工程师能够基本判断出失效的数个可能原因,并针对性地进行后续分析。但需要注意的是,外观观察的方式很多,包括目视、手持式放大镜、台式放大镜、立体显微镜和金相显微镜等。然而由于光源、成像原理和观察景深的不同,对应设备观察出的形貌需要结合设备因素综合分析,切忌贸然判断形成先入为主的主观臆测,使得失效分析进入错误的方向,浪费宝贵的失效品和分析时间。

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    4#
    发表于 2021-5-27 15:42 | 只看该作者
    若是大批量生产中的单批次出问题,或者失效率较低时,那么工艺控制异常的可能性更大。
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