% p. e; @' @8 f/ j" T( n/ M: e& \ 封装缺陷主要包括引线变形、底座偏移、翘曲、芯片破裂、分层、空洞、不均匀封装、毛边、外来颗粒和不完全固化等。' O; O- Y& a9 ~7 J# D 1 引线变形 5 t& _' w( l6 {% z3 j; W ...
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