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测量小型封装芯片温度的4个方法

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    2020-9-8 15:12
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2021-2-25 13:25 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    x
    测量小型封装的运算放大器或类似器件芯片温度的最佳办法是什么?
    ' ?( c. k% M5 Y& ~1 q  {8 s: e
    ! T# t1 R- _/ N) V4 t测量结温或芯片温度的方法有几种,某些方法较优。  R4 A; S* n% a, i/ \; O: b. S

    % i0 g7 c4 H, B  w* E$ Y01
    " k5 o  F3 j$ Z6 x) R使用经典结温方程
    5 l/ R3 N. o* }; {4 [8 O9 B* _" _5 E. \4 r: y1 r+ \4 G" @
    下面给出的是经典结温方程:
    3 B$ O! H5 h5 E0 ~9 {' N3 F            TJ = TA + PDϑJA 结温 TJ 等于环境温度 TA 加上器件功耗 PD 与器件热阻 θJA 的乘积。根据我的经验,这种计算相当保守,得到的结温大约比实际结温高出 30%~50%,具体情况取决于制造商。
    $ @" q/ n' a# n& k" L  o! H& e3 d' W4 C/ K9 c
    02
    . U5 D6 s: A/ `; Z, P使用热电偶
    3 {. {/ C6 m1 Z, k. t8 j/ `, m/ u- K8 W7 M" R6 A  Q
    对于较大型封装来说,这种测量方法较为准确;但在较小型封装器件使用时就会遇到问题。例如,SC70 或 SOT 等小型封装贴敷热电偶的面积较小。即使您能在一个封装上贴敷热电偶,热电偶的热质量实际上起到散热器的作用,从器件上吸走部分热量,从而给测量结果带来误差。
    ) L! ~( L/ E8 f, L) x03
    , P* _$ x6 m; X9 {, O% i2 C使用红外照相机- h+ k3 X. x" C  ]
    这种方法实际上是测量封装外部的壳温,能够准确地测量较小型封装的芯片温度。在大多数情况下,壳温与结温之差只是几度。这种方法的缺陷是红外照相机价格往往相当高,大约是数万美元。, r! p: @7 o9 h

      }3 q9 q% l7 M0 w  T! a04! ~& \; r4 S/ u3 J+ c
    利用片上二极管作为温度传感器
    " M% ?# \. \, T- n( |这是一种最经济且最准确的方法。从半导体物理学的角度,我们知道在PN结上施加恒流源后,结电压随着温度的变化大约是 -1 mV/°C ~ -2 mV/°C。描绘二极管电压随着温度的变化特征可以使用户测量二极管电压,并很容易地确定芯片温度。其中的窍门找到可以在运算放大器中作为传感器的二极管。大多数运算放大器无法提供专门的测温二极管,但您可以使现有二极管履行测温功能。
    , d. B1 y7 f5 L, ~如今的大多数放大器,如果不是全部,都内置静电放电(ESD)保护二极管以及输入保护二极管。ESD 二极管连接放大器的输入端与输出端,以提供摆幅。因此,可以连接这些二极管,并利用它们作为轮廓(outlined)测量运算放大器的芯片温度。' _; ^, a/ u; P& ~1 o6 m

    : ?8 P$ F% G2 s( T0 o1 }& X$ ^测量小型封装芯片温度的办法都 get 到了么?在文末留下你的见解和看法说不定会有精美小礼品砸中你哦~
    , M* F7 c  i* R2 T' S( i# V  ^  {- [) Y# w& j# O

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    发表于 2021-2-25 14:12 | 只看该作者
    使用热电偶
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