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本帖最后由 陆妹 于 2021-1-28 11:21 编辑
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在上篇文中,我们列出了几个提升独立天线隔离度的实验案例,但是这些案例对于终端天线来说,似乎没有什么作用。那么终端天线如何提高隔离度呢?
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( z) J5 X3 R+ U0 ]4 A在《浅谈天线隔离度问题上篇——天线隔离的定义》中,我们提到天线辐射方向图也会影响天线的隔离度。只需将两个天线辐射最弱的方向相对,就可以获得较好的隔离度指标。9 }* S" s% z, i4 M5 O
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" v' w) N/ @' X+ l, w但是天线辐射方向图有时候并没有办法通过简单的经验判断来得出,特别是我们终端中的PCB天线,PIFA天线,IFA天线。
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! O$ X) x3 @9 t. b, T9 a; m这些天线的辐射方向图受到天线周围环境以及地平面的影响,光靠看是看不出个123的。要想提前预知天线辐射的方向图,只能通过准确的3D电磁场仿真才能得出结果。
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比如说我们现在这块板子,就用了CST来进行仿真设计,预测了天线的方向图以及天线的隔离度。大家可以一起来看看,我们仿真和实测的结果到底有多大的区别。
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/ a# f- [+ I$ L! |, W1、2号天线隔离度仿真与实测对比
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! ]7 `% c- K3 d( C" E: q0 N1、4号天线隔离度仿真与实测对比
4 ~& U$ o* E* I j! [通过仿真,我们可以预知天线的方向图,从而提前修改天线的形状,位置,以达到提高天线隔离度的目的。
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$ Q, s' h" f# |7 N但是,如果说天线位置已经固定,并且通过更改天线形式,已经无法做到隔离度的提升时,有没有其他的办法来解决这个问题呢?# |; }/ G1 G% _' |1 H6 q0 {8 G
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也是有的。天线间的互耦会影响隔离度,那么如果通过匹配解耦的方式来调节,理论上来说也是有可能让隔离度再次优化的。退耦网络拓扑图如下。
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D网络作为一个四端口网络,起到一个退耦的作用,它的目标就是通过网络变换将S21变为0。在网络变换的过程中,S11和S22必然会劣化,所以需要匹配网络M来将天线匹配到一个合适的值。! F) Y( L* ~6 ?) j
8 v) k ?3 m4 V8 ^% l% f! f2 }我们将这两个天线当成一个双端口网络,然后用网分测试出这个双端口网络的S参数,保存为SNP文件并导入ADS仿真。: t; T, j& b! Q6 N9 J
% D/ n- ~5 w( [8 [6 Y8 Q, R这里采用ADS仿真是为了快速找到合适的集中参数器件,实际匹配情况可能和仿真结果略有差别。下面是仿真结果。
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改善后 3 e; ^) K; l1 ~& I0 {- E3 t
通过仿真得到器件值以后,我们在真实主板中将这些器件焊接上去,看看隔离度能否得到真实优化。实际使用的匹配器件,和仿真器件略有差别,仿真结果只作为定性,测试结果需以实际器件为准。! u* T' A6 I7 l% y# S
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通过实测结果与仿真结果对比,我们可以看到,隔离度曲线基本吻合,而且相比之前有比较大改善,从-10dB直接优化的-20dB,而天线本身的VSWR则没有太过于劣化。这说明通过添加退耦网络改善天线隔离性能是真实有效的。
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终端天线的隔离问题确实是天线设计中的一个难点,但是我们有多种方法来进行规避。但是无论哪种方法,都需要在开发前期做预设计,充分考虑后期调试可能出现的情况。& ~! ?4 e D+ Q
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没有任何一种工程经验是通用的,解决问题还需要各位工程师多思考,多积累。/ J2 C; ?1 X$ ~. O. {3 h
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