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1 引言
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% g! K( I) t+ `" @1 N* w数控机床的加T精度主要南位置检测系统的精度决定，位置检测系统一般包括传感器(旋转变压器，光电编码器，光栅)、四倍频鉴相电路、计数电路等，系统通过这些检测电机的位移和速度，发出反馈信号，从而构成闭环或半闭环控制。形成差值控制电机，进而提高机床加工精度。数控机床位置检测系统采用模块化和开放式控制，可减少电路规模和提高数控机床的加工精度，形成高密度、高精度的数控机床。采用数字电路的传统位置检测系统面积庞大、精度不高、发应速度慢，而采用cpld器件代替数字电路正好弥补这些缺陷。
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: v0 _( Z9 a0 r9 ^9 c3 s2 CPLD简介和器件选型" o/ {9 Q; W0 f. p
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利用可编程逻辑器件CPLD(Complex Programable Logic Device)设计硬件系统非常方便。工程师通过传统的原理图输入法，或是硬件描述语言自由设计数字系统。通过软件仿真验证事先设计的正确性。在PCB完成后，还可利用CPLD在线修改能力，随时修改设计而不必改动硬件电路。因此，使用CPLD可大大加快硬件电路设计进程，减少PCB面积，提高系统可靠性。/ G" M! l7 q" I6 ~6 c1 t$ a
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根据所需逻辑门数量以及将与其连接的电路引脚数，选用ALTERA公司的EPM570T144C5型CPLD，该器件采用TQFP144封装，内部有570个逻辑单元，相当于440个宏单元，而此前常用的EPM7128只有128个宏单元。" N, o! V! w" ~: T. V+ z. I
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EPM570T144C5内部有2个I／O分区，共116个通用I／O，引脚延时为8．8 ns，满足位置检测系统所需的90多个通用I／O和延时不超过10 ns的设计要求。
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3 位置检测系统组成. i1 z4 J, M7 {, i* ~' `2 Z0 w* d
+ R' A0 t* H2 M( G W" K, L在介绍位置检测系统前，先简要介绍伺服电机控制系统(图1)。CPLD先对伺服电机光电编码器上发出的反馈信号进行译码、四倍频鉴相计数，然后将计数值存入锁存器，当用于电机控制的DSP控制器对CPLD进行读操作时，CPLD将锁存器里的计数值通过三态门输出给DSP控制器，由其控制电机的位移和速度。0 i% V! [+ O; [
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位置检测系统采用CPLD器件实现硬件电路功能，用VHDL语言编程实现译码器、四倍频鉴相计数器、选通器等模块。图2为位置检测系统组成原理图。图2 中，光电编码器A和四倍频鉴相计数器A(光电编码器B和四倍频鉴相计数器B)构成单轴计数电路，将两个单轴计数电路配合译码器、选通器则构成双轴计数电路，就是用译码器控制选通器，以选通两个计数器的计数结果并传输到总线．总线和选通器之间增加三态门进行控制。这样就实现双轴位置检测。
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4 系统设计& o* M* }7 W/ j( z
7 ^7 b2 v" l W( R该系统设计的主要部分为伺服电机控制系统中的位置检测系统。在Ouartus II开发环境下设计系统，系统设计包括四倍频鉴相计数器、二四译码器和选通器的VHDL程序设计，如图3所示。通过图2所示的原理框图，将该系统设计的各个模块组合起来形成顶层文件，构成双轴的检测系统。图3中YMO模块为译码电路，用来选通哪轴输出，Y0、Y2用来控制计数器的清零与计数，Y1控制选通器选通，译码器真值表如表1所示。+ `/ s) k7 x% e1 X
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四倍频鉴相计数器的VHDL程序代码如下：: s# p$ x( X& E% i z# p
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5 系统仿真* _$ ^4 y$ Z7 {$ d
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图4为系统仿真结果。当译码器控制信号AB=00时，可看出 A1超前B1，所以轴1正转；B2超前A2所以轴2反转。* \' N7 o# P$ K7 q
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9 L" y/ U p/ D. }; M三态门使能信号EN=1时，数据选择器选通G口所对应的汁数器，即轴2，清零F口对应计数器，即对轴1清零。并将计数结果传输到总线，输出信号H从FFF 变化到FF8表明轴2反转，因此汁数器逆向计数。同时在AB译码器控制信号改变时和轴1，轴2正反转的其他情况时，仿真结果均正确，满足双轴位置检测系统设计。
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! ~$ v7 O& T6 B7 J" R, x6 结束语$ K: j( x* @2 W' A
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在现代数控系统中，采用 CPLD实现位置检测系统已成为主流。新一代CPLD产品MAX II EPM570以面积小、集成度高和 GPIO口多等特点使得电路板集成度和抗干扰性都得以提高，方便结合DSP控制伺服电机位臀。总之，CPLD器件的发展使得逻辑电子电路的设计更灵活、方便。它将推动数控机床甚至工业各领域的发展。; ?. Q$ X" W/ b/ R8 q
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发表于 2021-1-4 13:22
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