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接 30几条电脑主板可制造性设计(DFM),每一条都要重视(一)3 M. ?( [& W2 }! r: U
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C, b0 b, @/ N" c+ b+ |ICT测试点的相关规定:1, ICT Test Pad一般为圆心Pad,而且这种形状为最优选择,机器识别率最高。
9 w+ z, T, u9 P2, Layout ICT Test Pad 时优先级: a,SMT Test Pad b,Trough hole 旁边加 Test Pad c,Trough hole & Test Pad Layout 重迭在一起。 3, ICT TEST PAD直径≧ 30mil,这一般要跟工厂确定,一般跟工厂机器的制程能力有关系。 当然,越大越还好,这样ICT 探针比较容易顶到而减少误判现象发生。但是,要跟布局空间综 合考虑权衡。
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+ V" O3 B. N0 e% `8 @$ B4, VIA HOLE TEST PAD直径一般≧ 35mil。原则跟上面PAD一样。 " P: I: ~6 X, N2 W" `) Q
3 M8 Q+ I" b" m0 T, D: |5, TEST PAD & SMT 零件距离≧ 50mil。
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, I: o3 ?! T5 D k6, TEST PAD & TEST PAD 距离≧ 75 mil,实在做不到可以≧ 50 mil(此距离只能在很小的范围内,比如20处之类,看工厂具体规定)。
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/ c' r( y5 v f& `7, Test Pad & PTH的距离≧ 15mil,ICT test pad 与 DIP插件孔的距离≧ 50mil。
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+ W4 `3 H' }( I; r/ \- o7 L文字标识类1, 二极管极性须以白色实体标示 ) D, a4 T% g; C, R
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2, QFP极性直径标示(白色实体) ≧80 mil # J) i* w% [) W4 _: k
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3, QFP IC需于每5Pin标示辨识点
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+ a6 o, { K1 X& q, l在实际设计中,还是要根据具体情况去权衡。 ~$ q6 e" @7 m' ]% P
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