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接 30几条电脑主板可制造性设计(DFM),每一条都要重视(一)9 k+ q" t' o$ z1 V0 D
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6 X. J# a5 v, ZICT测试点的相关规定:1, ICT Test Pad一般为圆心Pad,而且这种形状为最优选择,机器识别率最高。 . b0 y& A9 c( f% e) r, y$ ~+ ?
2, Layout ICT Test Pad 时优先级: a,SMT Test Pad b,Trough hole 旁边加 Test Pad c,Trough hole & Test Pad Layout 重迭在一起。 3, ICT TEST PAD直径≧ 30mil,这一般要跟工厂确定,一般跟工厂机器的制程能力有关系。 当然,越大越还好,这样ICT 探针比较容易顶到而减少误判现象发生。但是,要跟布局空间综 合考虑权衡。 : `6 ^ A, P7 E+ @' `9 u1 Q
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4, VIA HOLE TEST PAD直径一般≧ 35mil。原则跟上面PAD一样。 . @4 b* \# o T" ]
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5, TEST PAD & SMT 零件距离≧ 50mil。
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. Y* s) Q. x' D$ R: v6 {* h6, TEST PAD & TEST PAD 距离≧ 75 mil,实在做不到可以≧ 50 mil(此距离只能在很小的范围内,比如20处之类,看工厂具体规定)。
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7, Test Pad & PTH的距离≧ 15mil,ICT test pad 与 DIP插件孔的距离≧ 50mil。 " u5 M; ?, t- g1 ]2 v
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6 w5 ~0 H5 {7 U N9 W2 g/ D% H文字标识类1, 二极管极性须以白色实体标示
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, o8 Z2 Z6 N4 h1 ]4 G7 `2, QFP极性直径标示(白色实体) ≧80 mil + \/ e( N4 Q3 ~( N1 I
) K4 g% `! M: F) }! x0 x+ Q, k# q3, QFP IC需于每5Pin标示辨识点
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在实际设计中,还是要根据具体情况去权衡。 , U F8 `9 V% N5 r5 Q* @& h
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