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关于PCIE system Si 仿真问题

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    [LV.1]初来乍到

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    1#
    发表于 2020-11-30 14:56 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    1.点到点芯片提取的S参数是否可以用在模版中去验证.因为看起来模版都是基于链路的模块主板加背板加字卡。
    ) y0 U" c/ H: V6 h1 `7 {, o, H2.验证结果差损偏小其他都符合要求,是否可以忽略差损问题。
    8 H3 Y. m1 _+ @ 2 d9 t: l: V% ~/ }; j( ?, p
    ) ]6 e$ _/ N; E# e  n

    “来自电巢APP”

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    [LV.8]以坛为家I

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    手工搭链路,做Mask比对
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    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2020-11-30 19:31 | 只看该作者
    差值有多少
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    2019-11-19 15:22
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    [LV.1]初来乍到

    3#
     楼主| 发表于 2020-12-1 09:13 | 只看该作者
    modengxian111 发表于 2020-11-30 19:31:17
    / z6 v; q  [8 ]' k0 n$ u差值有多少

    : y% D* k8 Y, f( E7 X, g* z$ y0 m1 z; t( B, L
    图上应该在两个阴影中间。现在却在上方阴影区域." I, Y' Q+ z2 {2 }

    : l/ V! I4 o* h. t

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