|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
接上篇6 ]$ o; L% U8 B5 f, K- e9 q
+ B6 J6 t/ i% b4 e! ^9 v) ]/ b半导体器件可靠性与失效全面分析(一)
S5 t8 n4 B+ X9 [0 {
2 J' m- ?. e/ `3 j$ ^3 ~; v9 G2 E/ y0 `$ m' Y
6 f4 l! Q4 g: p: X
, Q: i' F I# Z7 M4 ~9 t4 M
. F V _. m3 p, U% w% c
7 ]. m+ Z+ u9 s3 V9 B5 J7 ~- P! v% O% Z4 q8 J* L4 w8 ?, Q
3 F" t+ X# ~$ a( a6 T+ X2 ~ c8 m! T5 V# V$ t, I
5 R6 B# b+ \) h# t y0 \) b
1 c# ^3 ~% p$ w% n7 [5 z
) J& Y7 k( N# _" e7 h8 s
* S# B z# h! T' \% ]- t* |. o
6 K! n+ ^% ~+ c% _, J6 A( e+ f) |8 B) Q2 O0 ]4 }" `6 j, \9 q
: Z' l% W7 U0 x7 `( \8 M4 @6 p
( J* d9 z- u& y+ q8 K
- ~/ G3 g6 Q6 @$ ~
- V3 D. x- |3 O6 {" P
+ ~& e$ J& X/ w7 W5 d+ d3 G7 Z- v) J$ q! P, o$ @
0 s1 p, m( C4 _4 Y9 M6 w! @: M. I, m( K2 ]: F' n/ g. m
: \, m- {. a+ x% U/ V
/ y7 f" ]# a' H! R4 n" W: | Y$ [0 u& C: \
1 a, i' u4 H9 q% W) d0 ^3 ]$ M
% {. l+ L; i7 [4 p. L/ x3 A0 X' Q' k) c% j3 y, ?/ Z
) @" ~0 O1 p8 I$ h8 B* @' N) q; G- c# I6 Z/ g$ ~
# d) S$ _" x* l! J5 ]9 P2 R |
|