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PCB/PCBA导通失效分析

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发表于 2020-11-17 14:55 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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1、什么是PCB/PCBA导通失效$ ^; H5 j- N# }. K. d5 }

: B$ Z  o* Y2 ^+ g       PCB是为电子组件中各元件提供电气互联的载体,如果其本身存在导通不良的情况,会直接导致互联的元器件功能失效。PCB/PCBA导通失效在指在电子产品组装测试过程中或使用一段时间后,有时会发现PCB的互联导通性能丧失而导致电子组件的功能性失效,直接导致设备故障。! N5 a9 N, m2 F: c# n$ B
" J2 E+ T: u3 a! V0 ^1 B/ [+ n
9 q4 ]) }9 d! z/ f
2、PCB/PCBA导通失效的意义
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$ {% B5 S- o: e( F" n      印刷线路板PCB由绝缘板、金属导线、连通不同层导线的金属化孔,以及连接元器件的连接盘组成,其主要作用是支撑电子元器件之间的信号联通。理解PCB的导通失效机理、找出失效原因,并进行不断改善变得尤为重要。0 ?* U* t0 e9 a9 m" X

- Q; l! o1 [* W1 G3 o

2 H  o- {' [1 Y& ]7 Z3、PCB/PCBA导通失效机理" ]: J# L) o" B/ ~1 j, e  M; X
( o9 X. I6 D7 x; c) G' m1 r( g
      铜是目前实现PCB导通功能的主要材质,按照制作工艺,主要有3种来源:一是原材料覆铜板蚀刻后的线路图形,二是药水的自催化化学沉积,三是电解沉积。PCB导通性能的优劣在很大程度上取决于制作工艺控制。
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      覆铜板蚀刻图形的缺口、毛刺,自催化沉铜的背光不良,电解沉积铜层的质量差,以及在加工过程中对制程控制不当等,都会使最终产品产生导通性方面的失效。
5 t3 X# \7 `6 D+ o" L& n& X       对于PCB,线路导通介质附着于绝缘介质之上。在使用过程中,PCB往往需要经受各种环境应力(如热应力、不同温湿度等),应力过大或作用时间过长就会引起PCB中的导通介质出现开裂的情况,从而导致PCB或PCBA导通失效。; `* v) u8 ]9 ^6 j
4、PCB/PCBA导通失效常用分析手段
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外观检测:金相观察或者SEM分析失效模式确认:X射线测试厚度和XPS、微观形貌观察(SEM)、切片分析、TMA分析污染物分析: 元素分析(EDS)和FTIR光谱分析
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, w: r9 W: |* S

7 t+ W9 t- t9 V9 v. K5、PCB/PCBA导通失效类型案例分析      
7 u# b$ X. R( i3 A5 R形成PCB各层互连导通的主要是孔和线路,其中孔又分为通孔、盲孔和埋孔。根据互连导通的位置不同,可以将导通失效分为线路开路、孔开路和内层互连失效3种类型。分别如下:; T* B7 `, E9 R* i
1 }9 d% J  r+ ]$ m: P- I' }2 y( j

  r9 w1 b0 U* Z* R  Q6 Ja.线路开路 1 I: G. ~6 G* _1 T9 X% U2 c
     
, R* v6 B: w: m3 ^& b       线路开路通常包括两种情况,一是线路缺损导致的开路,二是线路开裂。前者多为线路形成过程中异物附着而出现线路过度蚀刻,导致局部位置线路偏细,在长期使用后发生开路;后者通常由于导线结晶形态异常,无法承受较大的应力而出现开路。
5 D) }) G  S- K& T) R3 _! ?, ?1 t

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b.孔开路
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2 Q" q4 U4 b- u: I3 y" C     根据孔的类型和发生位置不同,孔开路可能发生在通孔、盲孔或孔口。这通常是孔铜结晶形态异常、孔铜偏薄等而无法承受较大的应力,或者板材热膨胀系数CTE偏大导致孔铜断裂所致。/ Y0 m) y: y1 k

* Y7 t. q% J; Z% zc.内层互连失效

; t3 M1 P& x5 u9 N( y, T, K  e& q- y5 B' H5 h' C& z% J

7 e, w# |& n" `     内层互连失效是指孔壁与内层接合部失效,包括盲孔底部与内层焊盘接合部连接不良、通孔孔壁与内层线路接合部连接不良。内层互连失效通常是钻孔参数问题导致残胶过多、除胶不净、杂物残留、电镀槽液问题等引起的。
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    2023-1-11 15:38
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    发表于 2020-11-17 16:47 | 只看该作者
    CB是为电子组件中各元件提供电气互联的载体
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    2022-11-22 15:53
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-11-17 17:26 | 只看该作者
    印刷线路板PCB由绝缘板、金属导线、连通不同层导线的金属化孔,以及连接元器件的连接盘组成
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