TA的每日心情 | 慵懒 2020-9-2 15:07 |
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电感器失效模式:电感量和其他性能的超差、开路、短路 e# T7 f0 [6 U% \+ o
模压绕线片式电感失效机理:4 ^5 q* n! F- O3 ?; j
1.磁芯在加工过程中产生的机械应力较大,未得到释放
% u2 L* |2 W7 c+ f' z6 ] 2.磁芯内有杂质或空洞磁芯材料本身不均匀,影响磁芯的磁场状况,使磁芯的磁导率发生了偏差;
! y V2 \ q' b) F3 n& l& n 3.由于烧结后产生的烧结裂纹;7 Z8 m' Z' X# u4 z+ W; S8 E' H
4.铜线与铜带浸焊连接时,线圈部分溅到锡液,融化了漆包线的绝缘层,造成短路;# c. H, r; n/ O: w) Y z
5.铜线纤细,在与铜带连接时,造成假焊,开路失效" Y- }1 n2 v+ ~3 C
1 耐焊性3 Q/ {, j0 h d" h2 a
低频片感经回流焊后感量上升 20%7 e9 F4 D4 Y) @! b
由于回流焊的温度超过了低频片感材料的居里温度,出现退磁现象。片感退磁后,片感材料的磁导率恢复到最大值,感量上升。一般要求的控制范围是片感耐焊接热后,感量上升幅度小于20%。
7 G' S4 B5 |1 Z; y2 x# y! |* A/ \- n$ Q" [ 耐焊性可能造成的问题是有时小批量手工焊时,电路性能全部合格(此时片感未整体加热,感量上升小)。但大批量贴片时,发现有部分电路性能下降。这可能是由于过回流焊后,片感感量会上升,影响了线路的性能。在对片感感量精度要求较严格的地方(如信号接收发射电路),应加大对片感耐焊性的关注。+ } k8 _- c2 U! n" ]
检测方法:先测量片感在常温时的感量值,再将片感浸入熔化的焊锡罐里10秒钟左右,取出。待片感彻底冷却后,测量片感新的感量值。感量增大的百分比既为该片感的耐焊性大小7 o d5 {; x' v# k1 O& h" _8 d
2 可焊性
9 E9 F* D* b. a' k7 d0 R 电镀简介
* }3 u. N9 X1 j/ j8 R6 ` 当达到回流焊的温度时,金属银(Ag)会跟金属锡(Sn)反应形成共熔物,因此不能在片感的银端头上直接镀锡。而是在银端头上先镀镍(2um 左右) ,形成隔绝层,然后再镀锡(4-8um )。
8 E4 G: e- {4 E# i* t1 A" L' l H3 } 可焊性检测4 `' L+ o+ e# r' ]" x: w
将待检测的片感的端头用酒精清洗干净,将片感在熔化的焊锡罐中浸入4秒钟左右,取出。如果片感端头的焊锡覆盖率达到90%以上,则可焊性合格。、
$ j- N* x8 V# ~ 可焊性不良
; I) G9 ?; I' o 1)端头氧化:当片感受高温、潮湿、化学品、氧化性气体(SO2、NO2等)的影响, 或保存时间过长,造成片感端头上的金属Sn氧化成SnO2,片感端头变暗。由于SnO2不和Sn、 Ag、Cu等生成共熔物,导致片感可焊性下降。片感产品保质期:半年。如果片感端头被污染,比如油性物质,溶剂等,也会造成可焊性下降
+ ~' r! Z7 P0 G3 F+ u4 t. Y 2)镀镍层太薄,吃银:如果镀镍时,镍层太薄不能起隔离作用。回流焊时,片感端头上的Sn和自身的Ag首先反应,而影响了片感端头上的Sn和焊盘上的焊膏共熔,造成吃银现象,片感的可焊性下降。9 `# m- E" a. Q/ V) [) t* e
判断方法:将片感浸入熔化的焊锡罐中几秒钟,取出。如发现端头出现坑洼情况,甚至出现瓷体外露,则可判断是出现吃银现象的。
. |2 O+ Q8 H3 D 3 焊接不良2 R: u' ]) a; d! K4 R; u8 Z
内应力
# I* b1 w7 U! [; d8 n 如果片感在制作过程中产生了较大的内部应力,且未采取措施消除应力,在回流焊过程中,贴好的片感会因为内应力的影响产生立片,俗称立碑效应。
5 ?( o3 K2 \) K! @4 ?7 ~ 判断片感是否存在较大的内应力,可采取一个较简便的方法:
( W( J# B8 A4 X* k* J/ g 取几百只的片感,放入一般的烤箱或低温炉中,升温至230℃左右,保温,观察炉内情况。如听见噼噼叭叭的响声,甚至有片子跳起来的声音,说明产品有较大的内应力。3 n$ {3 u j) R ]% s, d3 S3 h
元件变形6 o( i2 T+ ^+ n
如果片感产品有弯曲变形,焊接时会有放大效应。
% O ^! e0 K& ?& h a.焊盘两端应对称设计,避免大小不一,否则两端的熔融时间和润湿力会不同7 J9 c# {7 F0 b k+ p% h) a7 [+ B
b.焊合的长度在0.3mm以上(即片感的金属端头和焊盘的重合长度)
9 p! W7 w# d H c.焊盘余地的长度尽量小,一般不超过0.5mm。
9 }' E, I& E* C+ T d.焊盘的本身宽度不宜太宽,其合理宽度和MLCI宽度相比,不宜超过0.25mm
4 l* j7 E0 I2 [6 M- o 贴片不良: y8 \, x: y$ v
当贴片时,由于焊垫的不平或焊膏的滑动,造成片感偏移了θ角。由于焊垫熔融时产生的润湿力,可能形成以上三种情况,其中自行归正为主,但有时会出现拉的更斜,或者单点拉正的情况,片感被拉到一个焊盘上,甚至被拉起来,斜立或直立(立碑现象)。目前带θ角偏移视觉检测的贴片机可减少此类失效的发生, ^2 T9 Q; w9 k) t( I
焊接温度% |& P8 S& {& {, ]
回流焊机的焊接温度曲线须根据焊料的要求设定,应该尽量保证片感两端的焊料同时熔融,以避免两端产生润湿力的时间不同,导致片感在焊接过程中出现移位。如出现焊接不良,可先确认一下,回流焊机温度是否出现异常,或者焊料有所变更。; }6 U' |, ^! c- H- K
电感在急冷、急热或局部加热的情况下易破损,因此焊接时应特别注意焊接温度的控制,同时尽可能缩短焊接接触时间
0 \; k" ^: r ~1 M 手工焊推荐温度曲线5 q2 B) Y% W. Q1 W
4 上机开路7 e/ g/ |( B6 ?) z% ?
虚焊、焊接接触不良: ^: s1 {/ s ^$ q5 P% z% I
从线路板上取下片感测试,片感性能是否正常) r7 V- a1 h! `4 D5 o& E
电流烧穿: K5 z# x% w( B! W9 f8 |' }; a3 }
如选取的片感,磁珠的额定电流较小,或电路中存在大的冲击电流会造成电流烧穿,片感或磁珠 失效,导致电路开路。 从线路板上取下片感测试,片感失效,有时有烧坏的痕迹。如果出现电流烧穿,失效的产品数量会较多,同批次中失效产品一般达到百分级以上。! ^$ |6 X) N: I2 E% [7 _
焊接开路
7 c! _# s& D* S: t9 F 回流焊时急冷急热,使片感内部产生应力,导致有极少部分的内部存在开路隐患的片感的缺陷变大,造成片感开路。从线路板上取下片感测试,片感失效。如果出现焊接开路,失效的产品数量一般较少,同批次中失效产品一般小于千分级。# W4 n# n4 ?+ P @
5 磁体破损
- k9 }9 [# e4 q% C% U G 磁体强度% U n$ A9 x [4 W( {
片感烧结不好或其它原因,造成瓷体强度不够,脆性大,在贴片时,或产品受外力冲击造成瓷体破损
1 k @4 d) I. P+ ^' F* r 附着力! k) a% G* N+ a# W. @
如果片感端头银层的附着力差,回流焊时,片感急冷急热,热胀冷缩产生应力,以及瓷体受外力冲击,均有可能会造成片感端头和瓷体分离、脱落;或者焊盘太大,回流焊时,焊膏熔融和端头反应时产生的润湿力大于端头附着力,造成端头破坏。( S1 _5 ]6 ~6 A+ e8 u; ]( y
片感过烧或生烧,或者制造过程中,内部产生微裂纹。回流焊时急冷急热,使片感内部产生应力,出现晶裂,或微裂纹扩大,造成瓷体破损。
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