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元器件二次(补充)筛选实施应注意的七项问题

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发表于 2020-10-21 13:23 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 yoursilf 于 2020-10-21 13:25 编辑 2 b: W1 n* ?9 H3 K, ~& }5 g

# }) |9 {" v: z& E01二次(补充)筛选的委托和接收
( S* T3 I' m2 I1 S0 _) b      对委托单位进行二次(补充)筛选委托工作,必须选择具备资质的实验室进行。委托单位待筛选的元器件包装应有必要的防振、防潮、防静电措施,并对待筛选的元器件进行认真的清点、检查,同时填写二次(补充)筛选委托任务单。注明元器件的名称、规格型号、批次号、数量、生产厂家(国别、公司)、 生产年周、详细规范或质量等级、特殊筛选要求(如果有)等。必要时应附有元器件的图纸和技术资料。二次(补充)筛选机构接收人员应按二次(补充)筛选委托任务单上的内容和委托方送检人一起清点接收样品,并由委托方送检人和接收人员分别在委托任务单上签字确认,底单委托方送检人带回,原件实验室留存。对邮寄的试验件,接收人员应首先检查外包装是否受损,如包装有损伤应将损伤情况照相存档并通知委托单位,在有委托单位书面材料后方可打开受损的外包装。
6 F! s0 X3 q3 d; F3 ~% Q02
. f/ j. P- y! p* S+ ~7 e% U1 a填写二次(补充)筛选流程卡
) E3 K0 F, _, O! d' A5 I# H4 Z, A' X        筛选机构应按客户的委托要求,确定筛选的项目、条件和程序要求,填写《元器件二次(补充)筛选流程卡》(格式可按实际情况自拟或参考下表),并由实验室技术负责人签字确认。
03
& z; h/ V4 L' s# o二次(补充)筛选的实施和结果的判定
! Q( }, Z/ j0 g, T# Z" Q: u       为了避免在筛选过程中损伤静电敏感器件,必须对筛选和测试用仪器设备操作过程、元器件取放、传递包装、存放等环节采取符合静电防护的有效措施。二次(补充)筛选的实施严格按照二次(补充)筛选流程卡确定的试验项目、 试验顺序和试验条件实施。
  • (1)测试参数的确定。要选择那些能灵敏地显示元器件特性的参数(能预示产品早期失效)来作为筛选参数。
    $ }( o; m! I! _
例如电阻器可选择电阻值电流噪声,电容器可选择电容量、损耗角正切、绝缘电阻(漏电流),二极管可选择反向电流、反向击穿电压等,晶体管可选择集电极-基极间反向漏电流I(CBO)、直流增益h(FE)、集电极-基极击穿电压V(BR CBO),集成电路可选择输入电流、输出短路电流、输出电平电压等作为筛选参数。
  • (2)电参数测量周期的确定。电参数测量周期根据具体情况确定。
    ( K9 I6 f1 V. T- v  f
有些测量是在施加应力条件功下进行的,如高温测试、低温测试等。有些是在试验后进行测量的,如高温贮存、功率老练等。如果采用参数飘逸筛选技术(即通过筛选前后产品参数漂移是否超过判据值)进行筛选,则在该项目筛选前后都要进行测量(如热冲击、温度循环、老炼等试验)。
若某筛选项目所造成的产品电参数变化是可逆的,则应在该筛选项目结束后要安排测量;若某些筛选项目所造成的产品电参数变化是不可逆的,则可以进行若干项目的筛选后,合并进行一次测试。
  • (3)筛选判据的确定。在筛选程序中,通常采用两类拒收判据:不合格判据和参数漂移极限判据。
    * q. y: [$ @: g' g: z9 Q2 V8 c. B* a
前者以元器件规范表中参数容差极限作为筛选的拒收判据,后者则以允许的参数最大漂移百分数作为筛选的拒收判据。前者很容易进行,只须把参数测量值与判据值进行比较便可知道。后者则需计算筛选前后参数漂移的百分数,而且参数最大漂移极限判据的确定比较复杂,因为不应用场合对元器件的可靠性要求不同,所允许的参数最大漂移量与其使用寿命的相关性。参数漂移极限判据也常用于对高可靠产品中对元器件适用性的控制(控制参数漂移量的值)。
04; O/ H1 D$ l) p+ h: Q! b
筛选记录的管理要求
  • (1)负责二次(补充)筛选的单位应制定元器件二次(补充)筛选工序表或流程表以及有关检测参数的数据记录表格,筛选工序表或流程表应包括筛选元器件名称、规格、生产单位、生产批号、质量等级、筛选环境条件、筛选项目名称、筛选加载条件、筛选合格判据、筛选结果等内容。
  • (2)操作人员应在数据记录表上如实记录有关数据,在流程表的有关工序上填写明确的结论,并签名对数据及结论的准确定负责。
  • (3)根据筛选的工序表及有关要求,按规定的格式填写筛选试验报告,提交给有关单位,筛选报告应有编号,使筛选的信息具有可追溯性。
  • (4)若无其他规定,所有筛选过程的原始记录至少要保存10年。
  • (5)失效分析报告以及批次性质量问题的处理应经有关技术和质量负责人审查批准。
    ( Q6 m8 u+ |, i& q
05
, _6 Q% B& z5 h, g" q0 v' O, u二次(补充)筛选结果的判定# d! m4 x6 \3 r1 ]" N
       按照筛选规范PDA的要求判定二次(补充)筛选结果是否合格,并出具检验报告,附上相应的试验过程原始记录数据。二次(补充)筛选检验报告格式参照下表。通讯地址:对合格和不合格的元器件应按规定分别进行标识处理,标记不应遮盖或影响元器件原有标志,并将合格品与不合格品分开保存。1 D2 D) @8 M0 s3 ^4 F% g
06
. L& E, Y4 Y0 B; F7 d; `对筛选不合格元器件的处理; t7 d  ]1 h: V+ K9 N# u# |
对筛选不合格的元器件,可按不同情况作以下处理。
  • (1)对失去规定功能的元器件,应进行失效分析,如分析确定缺陷具有批次性,应作整批报废处理。
  • (2)除非另有规定,对于参数超差的不合格品应予以剔除。
  • (3)对于筛选不合格的元器件应严格隔离,必要时应加筛选不合格标识。  N4 i) ]7 a/ g5 v) ~
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3 m% e# \) v. n4 A' z/ o二次(补充)筛选后合格品的管理# C# f8 j  u# l8 g7 T
       经二次(补充)筛选合格的元器件应进行良好的包装,并在外包装上标明元器件型号规格、数量、技术标准、质量等级、生产厂家、生产批号以及筛选日期、筛选责任人等。由专用库房保管,以备装机使用。需要邮寄的样品需要进行必要的防护(防振、防潮、防静电)7 x/ s3 U9 C8 W, d9 g+ b

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  • TA的每日心情
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    2022-12-5 15:27
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    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2020-10-21 14:37 | 只看该作者
    为了避免在筛选过程中损伤静电敏感器件,必须对筛选和测试用仪器设备操作过程、元器件取放、传递包装、存放等环节采取符合静电防护的有效措施
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