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版图layout经验总结

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发表于 2010-12-20 23:14 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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版图经验总结1 查看捕捉点设置是否正确.08工艺为0.1,06工艺为0.05,05工艺为0.025.$ C* d6 {6 |9 N/ x% k4 |9 `
2 Cell名称不能以数字开头.否则无法做DRACULA检查.
8 T1 y% q5 B  `. L6 L9 x9 @5 }3布局前考虑好出PIN的方向和位置
& j1 ]- \; x9 O4布局前分析电路,完成同一功能的MOS管画在一起# v2 w4 [/ J0 e+ c  y
5对两层金属走向预先订好。一个图中栅的走向尽量一致,不要有横有竖。
4 b  X/ g) |$ @) Y/ g* M
6对pin分类,vdd,vddx注意不要混淆,不同电位(衬底接不同电压)的n井分开混合信号的电路尤其注意这点.
7 在正确的路径下(一般是进到~/opus)打开icfb.. a, @1 R. z# S* }" r
8更改cell时查看路径,一定要在正确的library下更改,以防copy过来的cell是在其他的library下,被改错.
9将不同电位的N井找出来.% v. W. I4 p+ y2 r# [0 C5 \( E# a
10 更改原理图后一定记得check and save% R2 {6 I' _9 J( @/ a
11 完成每个cell后要归原点

5 f/ x' q6 H: ~! i3 d8 @1 F% K12 DEVICE& q+ z: u! V% d/ @( L6 e, ^/ t
个数5 h. ?4 z+ ]$ S9 H
是否和原理图一至(有并联的管子时注意);各DEVICE的尺寸是否和原理图一至。一般在拿到原理图之后,会对布局有大概的规划,先画DEVICE,(DIVECE之间不必用最小间距,根据经验考虑连线空间留出空隙)再连线。画DEVICE后从EXTRACTED中看参数检验对错。对每个device器件的各端从什么方向,什么位置与其他物体连线
5 f; C9 ?& e$ N5 l% M. m/ U必须
# C% ?/ y8 F# N5 q先有考虑(与经验及floorplan的水平有关
).1 F' C! W8 e  J5 l1 ~$ E4 t
13 如果一个cell调用其它cell,被调用的cell的vssx,vddx,vssb,vddb如果没有和外层cell连起来,要打上PIN,否则通不过diva检查.尽量在布局低层cell时就连起来。

3 p9 p+ G6 s+ Z! ^/ S$ [& R: A4 K14 尽量用最上层金属接出PIN。
+ M% g9 c: K% I/ ]) V, g5 h15 接出去的线拉到cell边缘,布局时记得留出走线空间.& B0 U  f* Z+ N) Q( z3 R
16 金属连线不宜过长;
5 }* x+ O9 t& ]- n
17 电容一般最后画,在空档处拼凑。- K$ ~5 m: c4 N: b  m2 t6 J
18 小尺寸的mos管孔可以少打一点.: i% Z% K. [+ Y$ \( T2 @
19 LABEL标识元件时不要用y0层,mapfile不认。
) R% s& X' h( N6 K0 A! N& K
20 管子的沟道上尽量不要走线;M2的影响比M1小.
3 S. G9 h! G7 ?) s21 电容上下级板的电压注意要均匀分布;电容的长宽不宜相差过大。可以多个电阻并联
.  T5 j% e( w- E& [
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。
  [4 r, f9 ?& C& \- s2 \$ k
23 栅上的孔最好打在栅的中间位置.
: Z# o" @- ^; i% W, k24 U形的mos管用整片方形的栅覆盖diff层,不要用layer generation的方法生成U形栅
.
0 g8 ^& J3 F* d8 Y5 r25 一般打孔最少打两个

8 U" D: w' g: G3 {$ g, \! g; h26 Contact面积允许的情况下,能打越多越好,尤其是input/output部分,因为电流较大.但如果contact阻值远大于diffusion则不适用.传导线越宽越好,因为可以减少电阻值,但也增加了电容值.
4 X6 l, U- D' J( g( n8 F27 薄氧化层是否有对应的植入层

, n, V9 n6 @1 P! f28 金属连接孔可以嵌在diffusion的孔中间.5 c7 Z' s' ]' m: z
29 两段金属连接处重叠的地方注意金属线最小宽度

1 R* l! a3 N  ~& H1 d( U) e30 连线接头处一定要重叠,画的时候将该区域放大可避免此错误。4 T9 `% j8 G! P5 z/ f
31 摆放各个小CELL时注意不要挤得太近,没有留出走线空间。最后线只能从DEVICE上跨过去。
8 b; n( I( `+ h0 r2 O32 Text2,y0层只是用来做检查或标志用,不用于光刻制造.
* B: }$ R& l1 T4 w9 [; @" j33 芯片内部的电源线/地线和ESD上的电源线/地线分开接;数模信号的电源线/地线分开。
# H( ~% r# ^9 T2 ]: C* C. t
34 Pad的pass窗口的尺寸画成整数90um.
) L7 d3 i, [  w. `" j35 连接Esd电路的线不能断,如果改变走向不要换金属层

: f8 ]; J* M/ v% s7 h$ e36 Esd电路中无VDDX,VSSX,是VDDB,VSSB.# [6 u4 n4 h$ u  i* _. K
37 PAD和ESD最好使用M1连接,宽度不小于20um;使用M2连接时,pad上不用打VIA孔,在ESD电路上打。
, n5 W" m4 N2 _: o" H3 Y0 R
38 PAD与芯片内部cell的连线要从ESD电路上接过去。; D* ?3 N( N  R
39 Esd电路的SOURCE放两边,DRAIN放中间。
0 p6 W* O% Q+ Z3 R40 ESD的D端的孔到poly的间距为4,S端到poly的间距为^+0.2.防止大电流从D端进来时影响poly.
+ q  j" z# c8 s) B$ h% r1 N* T41 ESD的pmos管与其他ESD或POWER的nmos管至少相距70um以上。
6 W# G% y3 x$ @! }! K7 |
42 大尺寸的pmos/nmos与其他nmos/pmos(非powermos和ESD)的间距不够70um时,但最好不要小于50um,中间加NWELL,打上NTAP.8 j8 Q% T" D, r+ c. e- {/ }
43 NWELL和PTAP的隔离效果有什么不同?NWELL较深,效果较好
.
0 y3 s) N. t; o) F" \) E44 只有esd电路中的管子才可以用2*2um的孔.怎么判断ESD电路?上拉P管的D/G均接VDD,S接PAD;下拉N管的G/S接VSS,D接PAD.P/N管起二极管的作用
.
3 x% N6 q; H! n+ O$ p: L$ U  L45 摆放ESD时nmos摆在最外缘,pmos在内
.( s  l+ U8 W5 y
46 关于匹配电路,放大电路不需要和下面的电流源匹配。什么是匹配?使需要匹配的管子所处的光刻环境一样。/ ~2 r" I) N" H( z/ G
匹配分为横向,纵向,和中心匹配。
6 ?, m/ [3 v' `: r: x+ W8 R
1221为纵向匹配,12为中心匹配(把上方1转到下方1时,上方2也达到下方2位置) 21
2 t6 @1 X$ t  R6 r! q中心匹配最佳。
/ y1 G; _+ H" l$ q! }% _- Q, w8 Y1 _
47 尺寸非常小的匹配管子对匹配画法要求不严格.4个以上的匹配管子,局部和整体都匹配的匹配方式最佳.% A) t* [, }4 s; ~( e
48 在匹配电路的mos管左右画上dummy,用poly,poly的尺寸与管子尺寸一样,dummy与相邻的第一个poly gate的间距等于poly gate之间的间距
.
9 l: l8 J! ~6 s0 ?. |8 i6 F49 电阻的匹配,例如1,2两电阻需要匹配,仍是1221等方法。电阻dummy两头接地vssx。
( I2 u, T& A7 Z2 J, `* G; [
50 Via不要打在电阻体,电容(poly)边缘上面.3 g6 C& ?3 s8 i& H8 x2 Q' L9 C
51 05工艺中resistor层只是做检查用
9 W3 L- \7 X. Z5 K7 R% q
52 电阻连线处孔越多,各个VIA孔的电阻是并联关系,孔形成的电阻变小.
- I0 {( T1 S0 r- a53 电阻的dummy是保证处于边缘的电阻与其他电阻蚀刻环境一样
.# O0 C0 v$ N3 g( U7 q& T
54 电容的匹配,值,接线,位置的匹配。
; ~" |3 l; J" j$ G
55 电阻连接fuse的pad的连线要稍宽,因为通过的电流较大.fuse的容丝用最上层金属.
4 O3 t5 A% A5 a4 J6 u. q/ F6 ^56 关于
powermos7 j; [; i8 }2 d1 `( w
① powermos一般接pin,要用足够宽的金属线接,

$ b, q) K9 u" h% Y& O/ M② 几种缩小面积的画法。- o7 Y8 j. {' ?/ D5 `
③ 栅的间距?无要求。栅的长度不能超过100um
" L% V; g0 ]* q/ [$ l57 Power mos要考虑瞬时大电流通过的情况,保证电流到达各处的路径的电阻相差不大.(适应所有存在大电流通过的情况
).
7 k3 I- O% G8 M$ W: J# I58 金属层dummy要和金属走向一致,即如果M2横走,M2的dummy也是横走向
' }" I( A" W* n! X8 s% i) M/ D* ~5 N
59 低层cell的pin,label等要整齐,and不要删掉以备后用.
* C6 e7 I" t* w- L60 匹配电路的栅如果横走,之间连接用的金属线会是竖走,用金属一层,和规定的金属走向一致。

) [, }; D$ r. m3 Z& q5 N1 u61 不同宽度金属连接的影响?整个layout面积较大时影响可忽略.5 g3 r5 e9 x; W: u( u- r; i0 A
62 输出端节电容要小.多个管子并联,有一端是输出时注意做到这点
.$ l- ~( r& }% h1 [  h% [
63 做DRACULA检查时,如果先运行drc,drc检查没有完毕时做了lvs检查,那么drc检查的每一步会比lvs检查的每一步快;反之,lvs会比drc快
.
. A4 F- ?& b! K2 E+ b64 最终DRACULA通过之后在layout图中空隙处加上ptap,先用thin-oxid将空隙处填满,再打上孔,金属宽度不要超过10,即一行最多8个孔(06工艺
)6 r% h7 Q7 ^" D
65 为防止信号串扰,在两电路间加上PTAP,此PTAP单独连接
VSS PAD.
8 a4 ^' b1 D. \! c8 g66 金属上走过的电压很大时,为避免尖角放电,拐角处用斜角,不能走90度度的直角
.
* k" r: S0 p  q, L8 W6 M. ]* I67 如果w=20,可画成两个w=10mos管并联
6 V/ _/ ?2 W! r2 E, g8 n7 @
68 并联的管子共用端为S端,或D端;串联的管子共用端为s/d端.出错检查:
" w- U3 u. d! D69 DEVICE的各端是否都有连线;连线是否正确;

" T( }! @+ h4 g  I70 完成布局检查时要查看每个接线的地方是否都有连线,特别注意VSSX,VDDX8 L* r! h# }9 ?' b5 A- v+ B
71 查线时用SHOTS将线高亮显示,便于找出可以合并或是缩短距离的金属线。
6 u; [, N2 T! a# Z) g0 p
72 多个电阻(大于两根)打上DUMMY。保证每根电阻在光刻时所处的环境一样,最外面的电阻的NPIM层要超出EPOLY2  0.55 um,即两根电阻间距的一半。
6 `2 r" w/ @% J3 F$ `& n7 F0 w/ \73 无关的MOS管的THIN要断开,不要连在一起, B. z# E) H; _+ S* ]
74 并联的管子注意漏源合并,不要连错线。一个管子的源端也是另一个管子的源端/ S  W% V' B; j$ Z6 }
75 做DRAC检查时最上层的pin的名称用text2标识。Text2的名称要和该pin的名称一样.* h! P, L" ~$ d+ F9 t4 w
76 大CELL不要做DIVA检查,用
DRACULE.
( H5 s; J7 I8 M, N; l; t! ]2 U77 Text2层要打在最顶层cell里.如果打在pad上,于最顶层调用此PAD,Dracula无法认出此
pin.3 q" a9 l( s$ ]) p3 }- d+ V( T
78 消除电阻dummy的lvs报错,把nimp和RPdummy层移出最边缘的电阻,不要覆盖
dummy4 p. K5 @9 L( ^
79 06工艺中M1最小宽度0.8,如果用0.8的M1拐线,虽然diva的drc不报错,但DRACULE的drc会在拐角处报错.要在拐角处加宽金属线
.9 U1 z: H0 x. ]; f  J
80 最后DRACULA的lvs通过,但是drc没有过,每次改正drc错误前可把layout图存成layout1,再改正.以免改错影响lvs不通过,旧版图也被保存下来了
.
8 D. g# \: O/ _% m" s( _81 Cell中间的连线尽量在低层cell中连完,不要放在高层cell中连,特别不要在最高层cell中连,因为最高层cell的布局经常会改动,走线容易因为cell的移动变得混乱
.
* j" _* L4 k0 O, k3 a82 DRACULA的drc无法检查出pad必须满足pad到与pad无关的物体间距为10这一规则
.
8 o8 v. S. i, i. }" y" M4 _83 做DRACULA检查时开两个窗口,一个用于lvs,一个用于drc.可同时进行,节省时间.容易犯的错误
1 k- A) `( `) p3 L) J  G( d
84 电阻忘记加dummy
8 T, D9 c$ I. U85 使用NS功能后没有复原(选取AS),之后又进行整图移动操作,结果被NS的元件没有移动,图形被破坏
.
4 j$ z8 o3 x8 ~- j7 R86 使用strech功能时错选.每次操作时注意看图左下角提示
.6 K( L$ R. G( b- I/ |- M( z" ]2 H3 T* @
87 Op电路中输入放大端的管子的衬底不接
vddb/vddx.
1 N  q- R9 h$ x1 h/ c( r88 是否按下capslock键后没有还原就操作
! T# Y' B; D1 f$ D" f
节省面积的途径
# X( W$ \- S% P% r89 电源线下面可以画有器件.节省面积.7 v9 G! }, Z2 E! u* `- ?: Z+ P
90 电阻上面可以走线,画电阻的区域可以充分利用。
$ }. r' r! k  O% u) H* v; W
91 电阻的长度画越长越省面积。/ b& p5 i1 @9 R
92 走线时金属线宽走最小可以节省面积.并不需要走孔的宽度.& r3 y( G5 k* X* I
93 做新版本的layout图时,旧图保存,不要改动或删除。减小面积时如果低层CELL的线有与外层CELL相连,可以从更改连线入手,减小走线面积。

, {. c# m5 |0 Y+ l! o' y/ |9 O9 O94 版图中面积被device,device的间隔和走线空间分割。减小面积一般从走线空间入手,更改FLOORPLAN) P4 Y# ?7 @$ o

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发表于 2010-12-22 14:52 | 只看该作者
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