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[仿真讨论] PCB板中造成损耗变大的因素分析

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    发表于 2020-9-25 13:47 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    x
    我们经常讨论PCB中损耗大小的问题。有的工程师就会问,哪些因为会影响损耗的大小呢?其实,最常见的答案通常会说PCB材料的损耗因子、PCB传输线的长度、铜箔粗糙度,其实答案肯定远不至于此。下面我们分别就相应参数做一些实验给大家介绍下PCB板中哪些因素对传输线损耗有影响。
    , N  G& M6 K7 x1 o! D  z
    首先看看介质损耗因子Df对损耗的影响,以Df为变量,分析Df的变化对损耗的影响,下图是分析的原理图:
    仿真对比结果如下,显然,随着PCB介质损耗因子的变大,损耗越来越大:
    . E# T* c: @  w  G+ S- O- M4 b
    + y) c+ M  x4 m" Y
    长度也是损耗的主要因素之一,把传输线长度设定为Len变量,分析Len的变化对损耗的影响,下图是分析的原理图:
    , }* J3 J, q- C

    , W- @( \1 C; B7 @5 x- f
    仿真对比结果如下,显然,随着传输线长度越来越大大,损耗越来越大:
    铜箔是PCB中常用的导体,其粗糙度的大小也会对损耗造成影响,通过分析,粗糙度的变化对损耗的影响如下图所示:
    " O) C- t* c7 o+ k- y! u; I
    从上图中可以看到铜箔粗糙度越大,损耗越大。
    6 Y: D5 w0 i" z( M
    这三个影响因子是工程师们很容易能理解。为了减小,工程师们通常想到的方式就是使用低介质损耗角因子、减短传输线长度以及减小铜箔粗糙度。

    . H( U' I0 Q; m
    除了这三个影响因子,还有诸如过孔、传输线对内不等长、串扰等对损耗有影响。如高多层板中的过孔,很多时候都会存在的过孔残桩(Stub),如下图所示:
    ! C0 C3 @, j$ ?- u
    过孔残桩(Stub)就会导致损耗变大,如下图所示为相同的过孔,没有残桩和有残桩的损耗结果,有残桩的时,会存在一个非常大的谐振点,即在此谐振点处,损耗非常大。
    并且,随着残桩越来越大,谐振的频率会越来越小(相对应在特定的频率处损耗也会变大)。
    在PCB设计中,经常会出现差分对内不等长(偏差skew)的现象,经过实验发现,随着偏差长度的变化,损耗也会不一样。如下图所示,随着偏差长度的越来越长,相同频率点处的损耗也越来越大。

    * Y. L, q  t# j& y7 D: H; m
    在集成度越来越高的产品设计中,串扰是工程师一直都在担心的问题。因为严重的串扰会导致很多信号完整性的问题,比如对损耗的影响就是其中之一。如下图所示为微带线时,当传输线与传输线的间距变化时的损耗对比结果。

    ' @8 E3 P2 C- R/ I
    显然,在保持其它设置不变时,间距越大,在相同特定频率点处,传输线的损耗衰减越小。其实串扰对损耗的影响还有一些比较有趣的现象,比如什么时候串扰会造成损耗的谐振点,等等。
    以上几个因素对PCB传输线的损耗影响非常大。当然,还有一些其它的因素的实验结果后续有机会再给大家分享。大家也可以在文末留言共同讨论。

    5 p( d1 W, \% J$ W; ?  r; D( Z/ W! w
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-9-25 14:15 | 只看该作者
    铜箔粗糙度越大,损耗越大
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