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PCB/PCBA失效分析服务对象以及模式介绍

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  • TA的每日心情
    慵懒
    2020-8-28 15:16
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-9-18 11:17 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    1、简介随着电子产品的高密度化及电子制造的无铅化,PCB及PCBA产品的技术水平、质量要求也面临严峻的挑战,PCB的设计与生产加工及组装过程中需要更严格的工艺与原材料的控制。目前由于尚处于技术和工艺的转型期,客户对PCB制程及组装的认识尚有较大差异,于是类似漏电、开路(线路、孔)、焊接不良、爆板分层之类的失效常常发生,常引起供应商与用户间的质量责任纠纷,为此导致了严重的经济损失。通过对PCB及PCBA的失效现象进行失效分析,通过一系列分析验证,找出失效原因,挖掘失效机理,对提高产品质量,改进生产工艺,仲裁失效事故有重要意义。3 f* t, A& f; S. p
    2、服务对象
    印制电路板及组件(PCB&PCBA)生产商:确认产品质量情况,对产品生产过程中的各种问题进行分析,探究问题的根本机理,提供改进产品设计及工艺生产的参考意见;  R" R& l* ~& N3 s- I
    印制电路板及组件(PCB&PCBA)供应商/经销商:控制进货质量,增加用户的使用信心,提升品牌价值;
    9 k  N7 x( J2 w: l, I# `印制电路板组件(PCBA)整机商:及时消除对生产过程中的潜在问题,提高制造产品的可靠性,降低责任风险。- Q" D3 g" `3 Z- {! q
    分析过的PCB/PCBA种类:
    刚性印制板、挠性印制板、刚挠结合板、金属基板
    通讯类PCBA、照明类PCBA
    3、主要针对失效模式(但不限于)
                     
                    爆板/分层/起泡/表面污染                         开路、短路                        
    / H0 P, _% C  s& c* \! V
                                                 
              焊接不良:焊盘上锡不良、引脚上锡不良                   腐蚀迁移:电化学迁移、CAF

    , J& y5 l. X6 T- n+ {' U$ g
    6 ^8 g6 Z2 J( W
    4、常用失效分析技术手段

    & F+ ^- c! H6 S5 ^$ ]) p: a  I; Z$ M
    无损检测:
    ; m& o9 d% X% \5 h' Z. L+ \外观检查
    / L5 s8 J% o5 ?7 k/ ^X射线透视检测
    - g# i0 r0 [! N三维CT检测
    0 ~- g/ p- V" MC-SAM检测
    5 k4 @( m# a7 P! M+ g1 N红外热成像3 s6 J( F" E9 \% M6 u$ M
    热分析6 j6 [4 `/ ?# ]
    差示扫描量热法(DSC)) Q0 U( V; t' B1 q! l& C# Z
    热机械分析(TMA)6 U' f+ v% c2 {% s" r) r' n
    热重分析(TGA)
    ; f/ X+ Z% C0 @) ]% N0 B5 v动态热机械分析(DMA)! O& u1 X; f" L8 G% L- E
    导热系数(稳态热流法、激光散射法)6 g% `" E; E3 R: V& M

    ) D0 W0 f) ]: n' n  G
    表面元素分析:6 s8 Z# j7 ^2 r$ u) E
    扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS)! u: r$ J, m$ ~* |! I$ @, g+ o
    显微红外分析(FtiR)
    ! j1 {( a- |/ Z! ^) b7 w俄歇电子能谱分析(AES)
    : G$ Z; }. h, X/ w* U: ^/ T$ mX射线光电子能谱分析(XPS)0 N) N  ?" @; L. h6 _
    二次离子质谱分析(TOF-SIMS)
    4 U5 t; F! x2 B
    , \! g5 f/ d- ]/ g- Q0 G, {失效复现/验证
    6 U! w/ i8 K7 s7 J4 {4 ?
    电性能测试
    & _5 ^+ j4 E# }2 a击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移" |. u% G4 W* _" m
    破坏性检测:
    5 x0 v# O. n; y1 }9 b染色及渗透检测
    0 l$ b3 V$ V* g# }* A. J切片分析:金相切片、聚焦离子束(FIB)制样、离子研磨(CP)制样
    ! s( J4 x% s& [, G  ~0 D1 V( S5 X0 e1 q
    : S9 A+ `) r; z8 O9 O! `* y
                            
                            
    ' x  l( J1 p) y1 t* M6 k
                            
                            

    * J% j  I7 p) X( S                        
    9 E( q+ I2 P2 L7 u' {' ~# U& |
    - t2 b- r7 f! y0 E1 {
    5、产生效益
    帮助材料生产商了解产品质量状况,对工艺现状分析及评价,优化改进产品研发方案及生产工艺;查明电子组装中失效根本原因,提供有效的电子组装现场工艺改进方案,降低生产成本;提高成品产品合格率及使用可靠性,降低维护维修成本,提升企业品牌和竞争力;明确引起产品失效的责任方,为司法仲裁提供依据。3 ^' ~. h6 E& {+ G, `) E) R

    ! Q' z* Q: C0 t' |& e) P
    $ t5 Z3 t# j. Z. x: y# _0 x( e$ F# u8 {7 {9 G3 |
    + n9 r5 V' [" ~; g
    3 B  K4 C5 n! L5 p" o" E; z
  • TA的每日心情
    开心
    2020-8-28 15:14
  • 签到天数: 2 天

    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2020-9-18 13:09 | 只看该作者
    都是为了降低生产成本;提高成品产品合格率及使用可靠性,降低维护维修成本,提升企业品牌和竞争力
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